芯片验证方法、终端设备、验证平台以及存储介质技术

本发明专利技术公开一种芯片验证方法，用于终端设备，方法包括以下步骤：基于目标验证计划，创建目标测试用例；将目标测试用例发送到现场可编程逻辑门阵列FPGA测试装置，以使FPGA测试装置利用目标测试用例，对FPGA测试装置中的待测试芯片进行测试，以获得测试数据；从FPGA测试装置获取测试数据；将测试数据发送至验证平台，以使验证平台，基于测试数据，获得待测试芯片的功能覆盖率；基于接收到的验证平台返回的功能覆盖率，获得待测试芯片的验证结果。本发明专利技术还公开一种终端设备、验证平台以及计算机可读存储介质。利用本发明专利技术的芯片验证方法，达到了提高芯片验证效率的技术效果。提高芯片验证效率的技术效果。提高芯片验证效率的技术效果。

【技术实现步骤摘要】
芯片验证方法、终端设备、验证平台以及存储介质


[0001]本专利技术涉及芯片验证
，特别涉及一种芯片验证方法、终端设备、验证平台以及存储介质。

技术介绍

[0002]利用FPGA(Field Programmable Gate Array，现场可编程逻辑门阵列)进行原型验证，是芯片验证中重要的一环，例如：利用FPGA做大流量的长时间的测试，利用FPGA与各种厂家的设备作对接测试。
[0003]现有的验证方法中，利用FPGA对待验证芯片进行验证，并由技术人员手动对验证过程中的参数进行记录，使得芯片验证过程操作复杂，芯片验证效率较低。

技术实现思路

[0004]本专利技术的主要目的是提供一种芯片验证方法、终端设备、验证平台以及存储介质，旨在解决现有技术中芯片验证过程操作复杂，芯片验证效率较低的技术问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提出一种芯片验证方法，用于终端设备，所述方法包括以下步骤：
[0006]基于目标验证计划，创建目标测试用例；
[0007]将所述目标测试用例发送到现场可编程本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片验证方法，其特征在于，用于终端设备，所述方法包括以下步骤：基于目标验证计划，创建目标测试用例；将所述目标测试用例发送到现场可编程逻辑门阵列FPGA测试装置，以使所述FPGA测试装置利用所述目标测试用例，对所述FPGA测试装置中的待测试芯片进行测试，以获得测试数据；从所述FPGA测试装置获取所述测试数据；将所述测试数据发送至验证平台，以使所述验证平台，基于所述测试数据，获得所述待测试芯片的功能覆盖率；基于接收到的所述验证平台返回的所述功能覆盖率，获得所述待测试芯片的验证结果。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述目标测试用例发送到现场可编程逻辑门阵列FPGA测试装置，以使所述FPGA测试装置利用所述目标测试用例，对所述FPGA测试装置中的待测试芯片进行测试，以获得测试数据的步骤，包括：将所述目标测试用例发送到现场可编程逻辑门阵列FPGA测试装置，以使所述FPGA测试装置利用所述目标测试用例，对所述FPGA测试装置中的待测试芯片进行测试，并收集测试过程中的所述测试数据，以及利用测试数据，生成测试文件；所述从所述FPGA测试装置获取所述测试数据的步骤，包括：从所述FPGA测试装置获取所述测试文件，并从所述测试文件中提取所述测试数据。3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述从所述FPGA测试装置获取所述测试文件的步骤之前，所述方法还包括：接收所述FPGA测试装置发送的反馈信息；所述从所述FPGA测试装置获取所述测试数据的步骤，包括：在所述反馈信息为所述待测试芯片测试成功时，从所述FPGA测试装置获取所述测试文件。4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述接收所述FPGA测试装置发送的反馈信息的步骤之后，所述方法还包括：在所述反馈信息为所述待测试芯片测试失败时，从所述FPGA测试装置获取测试过程信息；利用所述测试过程信息，对所述目标验证计划进行修改，以获得修改后的验证计划；利用所述修改后的验证计划和所述目标测试用例，创建新目标测试用例；利用所述新的目标测试用例更新所述目标测试用例，并返回执行所述将所述目标测试用例发送到现场可编程逻辑门阵列FPGA测试装置的步骤，直到所述反馈信息为所述待测试芯片测试成功...

【专利技术属性】
技术研发人员：高峰，张凡，李孟，周昂，
申请(专利权)人：鹏城实验室，
类型：发明
国别省市：