提供了一种显示装置的检测方法。所述检测方法包括：基于第一控制信号、第二控制信号和初始化电源的电压来检查包括在像素中并且串联连接的发光元件的连接故障，其中，像素包括：像素电路，响应于第一节点的电压来控制从第一电源流向第二节点的电流；第一发光元件，连接到第二节点；第一晶体管，控制供应到第二节点的初始化电源的电压；第二发光元件，电连接在第一发光元件与第二电源之间；以及第二晶体管，具有连接到第三节点的第一电极和连接到第一检测控制线的栅电极，第三节点在第一发光元件与第二发光元件之间。件与第二发光元件之间。件与第二发光元件之间。
【技术实现步骤摘要】
显示装置的检测方法
[0001]本申请要求于2020年3月16日提交的第10
‑
2020
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0032003号韩国专利申请的优先权和权益，出于所有目的，该韩国专利申请的全部通过引用包含于此，如同在此充分阐述的一样。
[0002]本专利技术的一些示例实施例的方面涉及一种电子装置，例如，涉及一种显示装置及其检测方法。
技术介绍
[0003]显示装置通常使用连接到扫描线和数据线的像素来显示图像。为此，像素中的每个包括发光元件和驱动晶体管。
[0004]驱动晶体管响应于从数据线供应的数据信号来控制供应到发光元件的电流的量。发光元件发射具有与从驱动晶体管供应的电流的量对应的亮度(例如，设定或预定的亮度)的光。
[0005]例如，可以根据供应到发光元件的电流的量来控制从发光元件发射的光的亮度，并且发光元件可以具有二极管特性。当单个像素包括多个发光元件时，与其中发光元件并联连接的结构相比，其中通过电流控制的发光元件串联连接的结构在功耗方面可以是有利的。
[0006]然而，当串联连接的发光元件中的一个断路和/或短路时，对应的像素不会发光。因此，可以利用用于检测串联连接(或对准)的发光元件中的每个的连接故障的技术。
[0007]本
技术介绍
部分中公开的以上信息仅用于增强对
技术介绍
的理解，因此本
技术介绍
部分中讨论的信息不一定构成现有技术。
技术实现思路
[0008]本专利技术的一些示例实施例的方面包括一种能够检测串联连接的发光元件中的每个的连接故障的显示装置的检测方法。
[0009]本专利技术的一些示例实施例的方面包括一种显示装置，该显示装置包括连接到发光元件中的每个以检测串联连接的发光元件中的每个的连接故障的晶体管。
[0010]然而，根据本专利技术的实施例的方面不限于上述特性，并且可以在不脱离根据本专利技术的实施例的精神和范围的情况下进行各种扩展。
[0011]根据本专利技术的一些示例实施例的显示装置的检测方法可以包括：基于第一控制信号、第二控制信号和初始化电源的电压来检查包括在像素中并且串联连接的发光元件的连接故障。像素可以包括：像素电路，响应于第一节点的电压来控制从第一电源流向第二节点的电流；第一发光元件，连接到第二节点；第一晶体管，控制供应到第二节点的初始化电源的电压；第二发光元件，电连接在第一发光元件与第二电源之间；以及第二晶体管，具有连接到第三节点的第一电极和连接到第一检测控制线的栅电极，第三节点在第一发光元件与
第二发光元件之间。
[0012]根据一些示例实施例，第一晶体管可以连接在第二节点与感测线之间，并且第二晶体管的第二电极可以连接到第二电源。检查发光元件的连接故障可以包括：将第一电压电平的初始化电源供应到感测线，并且导通第一晶体管和第二晶体管；当像素发光时，确定第二发光元件的连接异常；以及当像素不发光时，确定第一发光元件的连接异常。
[0013]根据一些示例实施例，第一晶体管可以响应于第一控制信号而导通，并且第二晶体管可以响应于供应到第一检测控制线的第二控制信号而导通。
[0014]根据一些示例实施例，像素电路可以包括：第三晶体管，连接在第一电源与第二节点之间，并且具有连接到第一节点的栅电极；第四晶体管，连接在第一节点与数据线之间，并且具有连接到扫描线的栅电极；以及存储电容器，连接在第一节点与第二节点之间。第一晶体管的栅电极可以连接到传输第一控制信号的控制线。
[0015]根据一些示例实施例，第四晶体管可以在其中第一晶体管和第二晶体管导通的时段期间截止。
[0016]根据一些示例实施例，第一晶体管可以连接在第二节点与感测线之间，并且第二晶体管的第二电极可以连接到供应照明检测电源的电压的第一检测电源线。检查发光元件的连接故障可以包括：基于初始化电源来检查第一发光元件的连接故障；以及基于照明检测电源来检查第二发光元件的连接故障。
[0017]根据一些示例实施例，检查第一发光元件的连接故障可以包括：将具有第一电压电平的初始化电源供应到感测线，并且将具有比第一电压电平低的第二电压电平的照明检测电源供应到第一检测电源线；导通第一晶体管和第二晶体管；当像素发光时，确定第一发光元件的连接正常；以及当像素不发光时，确定第一发光元件的连接异常。
[0018]根据一些示例实施例，检查第二发光元件的连接故障可以包括：将具有比第一电压电平低的第三电压电平的初始化电源供应到感测线，并且将具有比第二电压电平高的第四电压电平的照明检测电源供应到第一检测电源线；导通第二晶体管；当像素发光时，确定第二发光元件的连接正常；以及当像素不发光时，确定第二发光元件的连接异常。
[0019]根据一些示例实施例，第二晶体管可以与第一晶体管同时导通。
[0020]根据一些示例实施例，像素还可以包括：第三发光元件，电连接在第二发光元件与第二电源之间；以及第五晶体管，具有连接到第四节点的第一电极和连接到第二检测控制线的栅电极，第四节点在第二发光元件与第三发光元件之间。
[0021]根据一些示例实施例，第五晶体管的第二电极可以连接到第二电源，并且在检查第一发光元件的连接故障的步骤中，第五晶体管可以响应于供应到第二检测控制线的第三控制信号而与第二晶体管同时导通。
[0022]根据一些示例实施例，第一电压电平可以高于第二电压电平，并且第四电压电平可以高于或等于第三电压电平。
[0023]根据一些示例实施例，第四电压电平可以高于第二电源的电压电平，并且第二电压电平可以低于第二电源的电压电平。
[0024]根据一些示例实施例，第五晶体管的第二电极可以连接到第二电源，并且在检查第二发光元件的连接故障的步骤中，第五晶体管可以响应于供应到第二检测控制线的第三控制信号而与第二晶体管同时导通。
[0025]根据一些示例实施例，第五晶体管的第二电极可以连接到供应附加照明检测电源的电压的第二检测电源线。检查发光元件的连接故障可以包括：基于附加照明检测电源来检查第三发光元件的连接故障。
[0026]根据一些示例实施例，检查第三发光元件的连接故障可以包括：将具有第三电压电平的初始化电源供应到感测线，将具有第四电压电平的照明检测电源供应到第一检测电源线，并且将具有比第四电压电平高的第五电压电平的附加照明检测电源供应到第二检测电源线；导通第一晶体管、第二晶体管和第五晶体管；当像素发光时，确定第三发光元件的连接正常；以及当像素不发光时，确定第三发光元件的连接异常。
[0027]根据一些示例实施例，检查发光元件的连接故障可以包括：在检查发光元件的连接故障之前，使包括在像素单元中的所有像素发光；通过分析像素的亮度，将由暗点表示的像素确定为缺陷像素；以及检查相对于缺陷像素的发光元件的连接故障。
[0028]根据本专利技术的一些示例实施例的显示装置可以包括：像素，连接到扫描线、控制线、检测控制线、数据线和感测线；扫描驱动器，将扫描信号供应到扫描线并且将控制信号供应到控制线；数据驱动器，将图像数据信号和感测数据信号中本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种显示装置的检测方法，所述检测方法包括：基于第一控制信号、第二控制信号和初始化电源的电压来检查包括在像素中并且串联连接的发光元件的连接故障，其中，所述像素包括：像素电路，响应于第一节点的电压来控制从第一电源流向第二节点的电流；第一发光元件，连接到所述第二节点；第一晶体管，控制供应到所述第二节点的所述初始化电源的所述电压；第二发光元件，电连接在所述第一发光元件与第二电源之间；以及第二晶体管，具有连接到第三节点的第一电极和连接到第一检测控制线的栅电极，所述第三节点在所述第一发光元件与所述第二发光元件之间。2.根据权利要求1所述的检测方法，其中，所述第一晶体管连接在所述第二节点与感测线之间，并且所述第二晶体管的第二电极连接到所述第二电源，并且其中，检查发光元件的连接故障包括：将第一电压电平的所述初始化电源供应到所述感测线，并且导通所述第一晶体管和所述第二晶体管；在所述像素发光的情况下，确定所述第二发光元件的连接异常；以及在所述像素不发光的情况下，确定所述第一发光元件的连接异常。3.根据权利要求2所述的检测方法，其中，所述像素电路包括：第三晶体管，连接在所述第一电源与所述第二节点之间，并且具有连接到所述第一节点的栅电极；第四晶体管，连接在所述第一节点与数据线之间，并且具有连接到扫描线的栅电极；以及存储电容器，连接在所述第一节点与所述第二节点之间，并且其中，所述第一晶体管的栅电极连接到传输所述第一控制信号的控制线。4.根据权利要求1所述的检测方法，其中，所述第一晶体管连接在所述第二节点与感测线之间，并且所述第二晶体管的第二电极连接到供应照明检测电源的电压的第一检测电源线，并且其中，检查发光元件的连接故障包括：基于所述初始化电源来检查所述第一发光元件的连接故障；以及基于所述照明检测电源来检查所述第二发光元件的连接故障。5.根据权利要求4所述的检测方法，其中，检查所述第一发光元件的连接故障包括：将具有第一电压电平的所述初始化电源供应到所述感测线，并且将具有比所述第一电压电平和所述第二电源的电压电平低的第二电压电平的所述照明检测电源供应到所述第一检测电源线；导...
【专利技术属性】
技术研发人员：康起宁，金民主，梁泰勳，李尙训，池善范，
申请(专利权)人：三星显示有限公司，
类型：发明
国别省市：
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