操作校验方法和装置、存储介质及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种操作校验方法和装置、存储介质及电子设备。其中，该方法包括：获取多张操作截图；确定出多张操作截图的公共像素点参数集和差异像素点参数集；通过公共像素点参数集与差异像素点参数集，对待校验的目标操作截图进行校验，其中，目标操作截图为对目标操作区域执行目标操作后得到的结果界面的截图；在目标操作截图达到校验条件的情况下，确定目标操作为正常操作。本发明专利技术解决了操作校验准确度低的技术问题。低的技术问题。低的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
操作校验方法和装置、存储介质及电子设备


[0001]本专利技术涉及计算机领域，具体而言，涉及一种操作校验方法和装置、存储介质及电子设备。

技术介绍

[0002]现有技术中，在校验目标操作是否正常的过程中，可以通过比对执行待校验的目标操作后得到的结果的截图与执行正常的目标操作得到的结果的截图的相似度，来确定待校验的目标操作是否正常。
[0003]然而，仅仅通过比对图片的相似度来校验目标操作是否正常并不能够得到准确的校验结果，造成操作校验的准确度低。
[0004]针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

技术实现思路

[0005]本专利技术实施例提供了一种操作校验方法和装置、存储介质及电子设备，以至少解决操作校验准确度低的技术问题。
[0006]根据本专利技术实施例的一个方面，提供了一种操作校验方法，包括：获取多张操作截图，其中，上述多张操作截图中的每一张操作截图为对操作界面中的目标操作区域执行操作后得到的结果界面的截图；确定出上述多张操作截图的公共像素点参数集和差异像素点参数集，其中，上述公共像素点参数集中包括在上述多张操作截图中相同位置上像素值相同的像素点，上述差异像素点参数集中包括上述多张操作截图中每两张操作截图之间相同位置上像素值不同的像素点的数量；通过上述公共像素点参数集与上述差异像素点参数集，对待校验的目标操作截图进行校验，其中，上述目标操作截图为对上述目标操作区域执行目标操作后得到的结果界面的截图；在上述目标操作截图达到校验条件的情况下，确定上述目标操作为正常操作。
[0007]根据本专利技术实施例的另一方面，还提供了一种操作校验装置，包括：获取单元，用于获取多张操作截图，其中，上述多张操作截图中的每一张操作截图为对操作界面中的目标操作区域执行操作后得到的结果界面的截图；第一确定单元，用于确定出上述多张操作截图的公共像素点参数集和差异像素点参数集，其中，上述公共像素点参数集中包括在上述多张操作截图中相同位置上像素值相同的像素点，上述差异像素点参数集中包括上述多张操作截图中每两张操作截图之间相同位置上像素值不同的像素点的数量；校验单元，用于通过上述公共像素点参数集与上述差异像素点参数集，对待校验的目标操作截图进行校验，其中，上述目标操作截图为对上述目标操作区域执行目标操作后得到的结果界面的截图；第二确定单元，用于在上述目标操作截图达到校验条件的情况下，确定上述目标操作为正常操作。
[0008]作为一种可选的示例，上述第一确定单元包括：第三获取模块，用于获取上述多张操作截图的每一张上述操作截图的像素矩阵，其中，上述像素矩阵中包括上述操作截图的
每一个像素点的像素值与每一个像素点的位置；第二确定模块，用于在多个上述像素矩阵中，第二位置的像素点的像素值相同的情况下，将上述第二位置的像素点确定为上述公共像素点参数集中的一个像素点，其中，上述第二位置为上述像素矩阵中的任意一个位置。
[0009]作为一种可选的示例，上述第一确定单元包括：处理模块，用于将多张上述操作截图中，任意一张上述操作截图作为第一操作截图，将多张上述操作截图中，除上述第一操作截图外的每一张操作截图依次作为第二操作截图，对上述第一操作截图与上述第二操作截图执行以下操作：在上述第一操作截图与上述第二操作截图中相同位置的像素点的像素值不同的情况下，将统计参数加1，其中，上述统计参数的初始值为零，上述统计参数用于表示上述第一操作截图与上述第二操作截图中相同位置的像素点的像素值不同的像素点的数量，在遍历上述第一操作截图与上述第二操作截图的每一个像素点之后，将上述统计参数作为上述差异像素点参数集中的一个参数。
[0010]作为一种可选的示例，上述第一确定单元包括：第四获取模块，用于在确定出上述多张操作截图的公共像素点参数集和差异像素点参数集的情况下，获取多张第一截图，其中，上述多张第一截图中的每一张第一截图为对操作界面中的目标操作区域执行上述操作后得到的结果界面的截图；第三确定模块，用于将上述多张操作截图与上述多张第一截图作为多张第二截图；第四确定模块，用于确定上述多张第二截图的公共像素点参数集和差异像素点参数集；第五确定模块，用于在上述第二截图的公共像素点参数集与上述多张操作截图的公共像素点参数集相同，且上述第二截图的差异像素点参数集与上述多张操作截图的差异像素点参数集相同的情况下，将上述第二截图的公共像素点参数集和差异像素点参数集确定为上述多张操作截图的公共像素点参数集和差异像素点参数集。
[0011]根据本专利技术实施例的又一方面，还提供了一种计算机可读的存储介质，该计算机可读的存储介质中存储有计算机程序，其中，该计算机程序被设置为运行时执行上述操作校验方法。
[0012]根据本专利技术实施例的又一方面，还提供了一种电子设备，包括存储器和处理器，上述存储器中存储有计算机程序，上述处理器被设置为通过上述计算机程序执行上述的操作校验方法。
[0013]在本专利技术实施例中，采用了获取多张操作截图，其中，上述多张操作截图中的每一张操作截图为对操作界面中的目标操作区域执行操作后得到的结果界面的截图；确定出上述多张操作截图的公共像素点参数集和差异像素点参数集，其中，上述公共像素点参数集中包括在上述多张操作截图中相同位置上像素值相同的像素点，上述差异像素点参数集中包括上述多张操作截图中每两张操作截图之间相同位置上像素值不同的像素点的数量；通过上述公共像素点参数集与上述差异像素点参数集，对待校验的目标操作截图进行校验，其中，上述目标操作截图为对上述目标操作区域执行目标操作后得到的结果界面的截图；在上述目标操作截图达到校验条件的情况下，确定上述目标操作为正常操作的方法，由于在上述方法中，在对目标操作进行校验的过程中，是获取对目标区域执行操作后的多张操作截图，通过多张操作截图的公共像素点参数集和差异像素点参数集来校验目标操作的目标操作截图，从而可以从公共像素部分和差异像素部分来校验目标操作截图，提高了对目标操作截图的校验准确度，进而解决了操作校验准确度低的技术问题。
附图说明
[0014]此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本申请的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：
[0015]图1是根据本专利技术实施例的一种可选的操作校验方法的应用环境的示意图；
[0016]图2是根据本专利技术实施例的一种可选的操作校验方法的应用环境的示意图；
[0017]图3是根据本专利技术实施例的一种可选的操作校验方法的流程示意图；
[0018]图4是根据本专利技术实施例的一种可选的操作校验方法的操作获取示意图；
[0019]图5是根据本专利技术实施例的一种可选的操作校验方法的公共像素点参数集的示意图；
[0020]图6是根据本专利技术实施例的一种可选的操作校验方法的比对公共像素点参数集与第一像素点集的示意图；
[0021]图7是根据本专利技术实施例的一种可选的操作校验方法的获取第一数量的示意图；
[0022]图8是根据本专利技术实施例本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种操作校验方法，其特征在于，包括：获取多张操作截图，其中，所述多张操作截图中的每一张操作截图为对操作界面中的目标操作区域执行操作后得到的结果界面的截图；确定出所述多张操作截图的公共像素点参数集和差异像素点参数集，其中，所述公共像素点参数集中包括在所述多张操作截图中相同位置上像素值相同的像素点，所述差异像素点参数集中包括所述多张操作截图中每两张操作截图之间相同位置上像素值不同的像素点的数量；通过所述公共像素点参数集与所述差异像素点参数集，对待校验的目标操作截图进行校验，其中，所述目标操作截图为对所述目标操作区域执行目标操作后得到的结果界面的截图；在所述目标操作截图达到校验条件的情况下，确定所述目标操作为正常操作。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过所述公共像素点参数集与所述差异像素点参数集，对待校验的目标操作截图进行校验包括：获取所述目标操作截图的第一像素点集，其中，所述第一像素点集中的像素点在所述目标操作截图中的位置与所述公共像素点参数集中的像素点在任意一张所述操作截图中的像素点的位置相同；获取所述目标操作截图与任意一张所述操作截图之间相同位置上像素值不同的像素点的第一数量，得到多个所述第一数量；在所述第一像素点集与所述公共像素点参数集中相同位置的像素点的像素值相同，且多个所述第一数量均属于所述差异像素点参数集的情况下，确定所述目标操作截图达到所述校验条件。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取所述目标操作截图的第一像素点集包括：获取所述公共像素点参数集中每一个像素点的第一位置；从所述目标操作截图中获取所述第一位置的第一像素点；将所述第一像素点确定为所述第一像素点集中的像素点。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取所述目标操作截图与任意一张所述操作截图之间相同位置上像素值不同的像素点的第一数量包括：将任意一张所述操作截图确定为当前操作截图，对所述目标操作截图与所述当前操作截图执行以下操作：在所述目标操作截图与所述当前操作截图任意一个相同位置的像素点的像素值不同的情况下，将所述目标操作截图与所述当前操作截图的所述第一数量增加1，其中，所述目标操作截图与所述当前操作截图的所述第一数量的初始值为零。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定出所述多张操作截图的公共像素点参数集包括：获取所述多张操作截图的每一张所述操作截图的像素矩阵，其中，所述像素矩阵中包括所述操作截图的每一个像素点的像素值与每一个像素点的位置；在多个所述像素矩阵中，第二位置的像素点的像素值相同的情况下，将所述第二位置的像素点确定为所述公共像素点参数集中的一个像素点，其中，所述第二位置为所述像素矩阵中的任意一个位置。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定出所述多张操作截图的差异像素点参数集包括：将多张所述操作截图中，任意一张所述操作截图作为第一操作截图，将多张所述操作截图中，除所述第一操作截图外的每一张操作截图依次作为第二操作截图，对所述第一操作截图与所述第二操作截图执行以下操作：在所述第一操作截图与所述第二操作截图中相同位置的像素点的像素值不同的情况下，将统计参数加1，其中，所述统计参数的初始值为零，所述统计参数用于表示所述第一操作截图与所述第二操作截图中相同位置的像素点的像素值不同的像素点的数量，在遍历所述第一操作截图与所述第二操作截图的每一个像素点之后，将所述统计参数作为所述差异像素点参数集中的一个参数。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定出所述多张操作截图的公共像素点参数集和差异像素点参数集包括：在确定出所述多张操作截图的公共像素点参数集和差异像素点参数集的情况下，获取多张第一截图，其中，所述多张第一截图中的每一张第一截图为对操作界面中的目标操作区域执行所述操作后得到的结果界面的截图；将所述多张操作截图与所述多张第一截图作为多张第二截图；...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨裕丰，黄永德，
申请(专利权)人：腾讯科技深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：