一种基于UC矩阵的过程数据分析方法、系统和存储介质技术方案

本发明专利技术公开了提供一种基于UC矩阵的过程数据分析方法、系统和存储介质，所述分析方法包括：对UC矩阵进行校验,并判断所述UC矩阵的子系统是否已知；若否，UC矩阵的第二行中，将含有C值的列调整到左侧，并依次排列，获取该行中最后一位C值的列g

【技术实现步骤摘要】
一种基于UC矩阵的过程数据分析方法、系统和存储介质


[0001]本专利技术涉及信息处理
，具体涉及一种基于UC矩阵的过程数据分析方法、系统和存储介质。

技术介绍

[0002]UC(U/C)矩阵用来表达过程与数据两者之间的关系，矩阵中的行表示数据类，列表示过程，并以字母U(Use)和C(Create)来表示过程对数据类的使用和产生。U/C矩阵的左边第一列列出各功能的名称，上面第一行列出各数据类的名称，表中在各功能与数据类的交叉处，填写功能与数据类的关系。UC矩阵中，子系统之外的U说明了各子系统之间的数据流。
[0003]UC矩阵分析是在业务流程、数据流程及数据分析的基础上，为了整体地考虑各个子系统和数据资源的合理分布而进行系统化的分析方法，同时验证了数据模型设计的合理性。UC矩阵是一种用关系数据矩阵进行系统分析方法，并对其存储、正确性校验、表上作业等做了分析，同时利用结果关系进行了子系统划分。
[0004]目前UC矩阵的校验与求解现状及存在的问题：通过观察UC矩阵的每行或每列的取值是否符合要求，但是UC矩阵越大，观察起来越难，而且准确率低；通过人工调整C的位置将其调整到主对角线位置、耗时长、效率低，且复杂、易出错。

技术实现思路

[0005]针对现有技术中存在的上述技术问题，本专利技术提供一种基于UC矩阵的过程数据分析方法、系统和存储介质，通过对UC矩阵分析过程数据，获得各个子系统之间的数据流。
[0006]本专利技术公开了一种基于UC矩阵的过程数据分析方法，所述分析方法包括：
[0007]步骤101：对UC矩阵进行校验,并判断所述UC矩阵的子系统是否已知；
[0008]若否，执行步骤102：UC矩阵的第二行中，将含有C值的列调整到左侧，并依次排列，获取该行中最后一位C值的列g
j
；
[0009]步骤103：将下一行中含有C值的列调整到列g
j
的右侧，获得该行中最后一位C值的列g
k
；
[0010]步骤104：重复执行步骤103，直到所有行调整完毕，获得分析矩阵；
[0011]步骤105：基于所述分析矩阵划分子系统，并获得各子系统间的数据流；
[0012]其中，g
j
和g
k
分别表示为列，列数k为大于j的自然数。
[0013]本专利技术的过程数据分析方法还包括子系统已知的分析方法，所述分析方法包括：
[0014]执行步骤201：获得UC矩阵中各个子系统的C值数量；
[0015]步骤202：根据C值数量，调整各子系统的排列，获得第一矩阵；
[0016]步骤203：所述第一矩阵子系统的第一行中，将含有C值的列调整到左侧，并依次排列，获取该行中最后一位C值的列数g
j
；
[0017]步骤204：将下一行中含有C值的列调整到g
j
列的右侧，获得该行中最后一位C值的列g
k
；
[0018]步骤205：重复执行步骤204，直到所述子系统所有行调整完毕；
[0019]步骤206：根据步骤203到205，依次调整各个子系统，直到所有子系统调整完毕，获得分析矩阵；
[0020]步骤207：基于所述分析矩阵，获得各子系统之间的数据流。
[0021]优选的，根据C值数量降序或升序，调整UC矩阵中各子系统在行数上的排列；将含有C值数量为零的子系统调整到最后一行。
[0022]优选的，对UC矩阵进行校验的方法包括：
[0023]获取UC矩阵每行和每列的C值个数x和U值个数y；
[0024]根据C值个数x和U值个数y之和，进行无冗余校验；
[0025]根据列的C值个数x，进行一致性校验；
[0026]根据C值个数x和U值个数y，进行完备性校验。
[0027]优选的，本专利技术的方法还包括告警的方法：根据无冗余校验、一致性校验和完备性校验的结果，生成告警信息。
[0028]本专利技术还提供一种用于实现上述过程数据分析方法的系统，包括校验模块、第一调整模块、划分模块和数据流分析模块；
[0029]所述校验模块用于对UC矩阵进行校验，并判断所述UC矩阵的子系统是否已知；
[0030]若否，通过所述第一调整模块调整UC矩阵的列：UC矩阵的第二行中，将含有C值的列调整到左侧，并依次排列，获取该行中最后一位C值的列g
j
；将下一行中含有C值的列调整到列g
j
的右侧，获得该行中最后一位C值的列g
k
；重复调整，直到所有行调整完毕；
[0031]所述划分模块用于根据调整后的UC矩阵划分子系统；
[0032]所述数据流分析模块用于根据调整后的UC矩阵获得各个子系统的数据流。
[0033]优选的，本专利技术的系统还包括子系统分析模块、第二调整模块和第三调整模块，若所述UC矩阵的子系统已知，
[0034]通过所述子系统分析模块获得UC矩阵中各个子系统的C值数量，并根据C值数量，调整各子系统的排列，获得第一矩阵；
[0035]所述第三调整模块用于调整所述子系统的列：子系统的第一行中，将含有C值的列调整到左侧，并依次排列，获取该行中最后一位C值的列数g
j
；将下一行中含有C值的列调整到g
j
列的右侧，获得该行中最后一位C值的列g
k
；重复调整，直到所述子系统所有行调整完毕；
[0036]所述第二调整模块用于依次调用第三调整模块调整每个子系统，直到所有子系统调整完毕，获得分析矩阵；
[0037]所述数据流分析模块还用于根据调整后的分析矩阵，获得各子系统之间的数据流。
[0038]优选的，所述校验模块对UC矩阵进行校验的方法包括：
[0039]获取UC矩阵每行和每列的C值个数x和U值个数y；
[0040]根据C值个数x和U值个数y之和，进行无冗余校验；
[0041]根据列的C值个数x，进行一致性校验；
[0042]根据C值个数x和U值个数y，进行完备性校验。
[0043]优选的，本专利技术的系统还包括告警模块，所述告警模块用于根据无冗余校验、一致
性校验和完备性校验的结果，生成告警信息。
[0044]本专利技术还提供一种存储介质，所述存储介质用于保存计算机程序，所述计算机程序用于实现上述过程数据分析方法。
[0045]与现有技术相比，本专利技术的有益效果为：调整各行，使各行的C值靠近UC矩阵的对角线，利于划分子系统和获得各子系统之间的数据流，该数据分析方法可以通过程序自动实现，减少了人工操作、节省了时间，并提高了工作效率。
附图说明
[0046]图1是本专利技术的过程数据分析方法流程图；
[0047]图2是子系统已知下数据分析方法流程图；
[0048]图3是本专利技术的系统逻辑框图；
[0049]图4是实施例本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于UC矩阵的过程数据分析方法，其特征在于，所述分析方法包括：步骤101：对UC矩阵进行校验,并判断所述UC矩阵的子系统是否已知；若否，执行步骤102：UC矩阵的第二行中，将含有C值的列调整到左侧，并依次排列，获取该行中最后一位C值的列g
j
；步骤103：将下一行中含有C值的列调整到列g
j
的右侧，获得该行中最后一位C值的列g
k
；步骤104：重复执行步骤103，直到所有行调整完毕，获得分析矩阵；步骤105：基于所述分析矩阵划分子系统，并获得各子系统间的数据流；其中，g
j
和g
k
分别表示为列，列数k为大于j的自然数。2.根据权利要求1所述的过程数据分析方法，其特征在于，还包括子系统已知的分析方法，所述分析方法包括：执行步骤201：获得UC矩阵中各个子系统的C值数量；步骤202：根据C值数量，调整各子系统的排列，获得第一矩阵；步骤203：所述第一矩阵子系统的第一行中，将含有C值的列调整到左侧，并依次排列，获取该行中最后一位C值的列数g
j
；步骤204：将下一行中含有C值的列调整到g
j
列的右侧，获得该行中最后一位C值的列g
k
；步骤205：重复执行步骤204，直到所述子系统所有行调整完毕；步骤206：根据步骤203到205，依次调整各个子系统，直到所有子系统调整完毕，获得分析矩阵；步骤207：基于所述分析矩阵，获得各子系统之间的数据流。3.根据权利要求2所述的过程数据分析方法，其特征在于，根据C值数量降序或升序，调整UC矩阵中各子系统在行数上的排列；将含有C值数量为零的子系统调整到最后一行。4.根据权利要求1所述的过程数据分析方法，其特征在于，对UC矩阵进行校验的方法包括：获取UC矩阵每行和每列的C值个数和U值个数；根据C值个数和U值个数之和，进行无冗余校验；根据列的C值个数，进行一致性校验；根据C值个数和U值个数，进行完备性校验。5.根据权利要求4所述的过程数据分析方法，其特征在于，还包括告警的方法：根据无冗余校验、一致性校验和完备性校验的结果，生成告警信息。6.一种用于实现如权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：李玉侠，
申请(专利权)人：北京思特奇信息技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：