本实用新型专利技术公开了一种插针式EMI滤波器插入损耗测试装置，包括测试发射机、第一功率计、第二功率计和阻值为50Ω的负载，测试发射机的输出端与第一功率计的输入端相连，第二功率计的输出端与负载的输入端相连，还包括基座和插针座，所述基座和插针座均使用绝缘材料制成，所述基座的上端面上设置有插接凹槽，所述插针座的下端插入插接凹槽中；所述插接凹槽的底部设置有第一金属块，所述第一金属块连接有输入导线，所述输入导线穿过基座与第一功率计的输出端相连；使用本实用新型专利技术可进行插针式EMI滤波器插入损耗值的测试，连接插针式EMI滤波器时，直接将插针式EMI滤波器通过插针座上的第一凹孔和第二凹孔插入即可，使得连接插针式EMI滤波器非常方便。EMI滤波器非常方便。EMI滤波器非常方便。
【技术实现步骤摘要】
一种插针式EMI滤波器插入损耗测试装置
[0001]本技术涉及滤波器插入损耗测试装置领域，具体为一种插针式EMI滤波器插入损耗测试装置。
技术介绍
[0002]插入损耗是EMI(Electromagnetic Interference，电磁干扰)滤波器的主要性能指标之一，因此对EMI滤波器进行性能测试时，插入损耗测试是必备项目之一。进行EMI滤波器的插入损耗测试时，需要先进行不接入EMI滤波器时的测试，然后再进行接入EMI滤波器时的插入损耗测试。EMI滤波器的插入损耗测试装置根据EMI滤波器结构形式的不同而不同。对于插针式EMI滤波器而言，在测试装置的测试电路中接入插针式EMI滤波器时，需要使用多根电缆或者多个转接器与插针式EMI滤波器的各插针一一相连，连接十分不便。
技术实现思路
[0003]本技术的目的在于提供一种插针式EMI滤波器插入损耗测试装置，旨在改善现有的插针式EMI滤波器插入损耗测试装置存在的接入插针式EMI滤波器不方便的问题。
[0004]本技术是这样实现的：一种插针式EMI滤波器插入损耗测试装置，包括测试发射机、第一功率计、第二功率计和阻值为50Ω的负载，所述测试发射机的输出端与第一功率计的输入端相连，所述第二功率计的输出端与负载的输入端相连，还包括基座和插针座，所述基座和插针座均使用绝缘材料制成，所述基座的上端面上设置有插接凹槽，所述插针座的下端插入插接凹槽中；所述插接凹槽的底部设置有第一金属块，所述第一金属块连接有输入导线，所述输入导线穿过基座与第一功率计的输出端相连，所述第一金属块的上端面上设置有插接孔；所述插针座中设置有第二金属块和第三金属块，所述第二金属块的上端面上设置有若干个第一突出部，所述第一突出部的上端面上设置有第一插孔，所述插针座的上端面上设置有多个通向各第一突出部的第一凹孔，且各第一凹孔与各第一突出部一一对应设置，所述第二金属块的下端设置有插接部，所述插接部的下端穿过插针座插入第一金属块的插接孔中并与第一金属块相接触；第三金属块的上端面上设置有若干个第二突出部，所述第二突出部的上端面上设置有第二插孔，所述插针座的上端面上设置有多个通向各第二突出部的第二凹孔，且各第二凹孔与各第二突出部一一对应设置；所述基座外壁上设置有通向插接凹槽的第三插孔和第四插孔，所述第三插孔通向第一金属块，所述第四插孔通向插针座，所述插针座的外壁上设置有第五插孔，且第五插孔通向第三金属块，所述第五插孔与第四插孔相接且长度方向相同；另外还包括金属插接杆，所述金属插接杆的外端设置有绝缘套，所述金属插接杆的外端连接有输出导线，所述输出导线穿过绝缘套与第二第一功率计的输入端相连。
[0005]进一步的，所述第一金属块设置有第一连接插孔，所述第一连接插孔与第三插孔相接且长度方向相同。
[0006]进一步的，所述第三金属块设置有第二连接插孔，所述第二连接插孔与第五插孔
相接且长度方向相同。
[0007]进一步的，所述测试发射机、第一功率计、第二功率计、负载和基座均设置于底座上，所述底座使用绝缘材料制成。
[0008]进一步的，所述底座的下端面上设置于多个吸盘，所述底座上端面的两侧各设置有一个提手。
[0009]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0010]1、使用本技术可进行插针式EMI滤波器插入损耗值的测试，连接插针式EMI滤波器时，直接将插针式EMI滤波器通过插针座上的第一凹孔和第二凹孔插入即可，使得连接插针式EMI滤波器非常方便。
[0011]2、第一金属块设置有第一连接插孔，第一连接插孔与第三插孔相接且长度方向相同，不接入插针式EMI滤波器时，金属插接杆插入至第一连接插孔中，可有效保证金属插接杆和第一金属块相连。
[0012]3、第三金属块设置有第二连接插孔，第二连接插孔与第五插孔相接且长度方向相同，接入插针式EMI滤波器时，金属插接杆通过第五插孔插入第三金属块的第二连接插孔中，可有效保证金属插接杆和第三金属块相连。
附图说明
[0013]为了更清楚地说明本技术实施方式的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0014]图1是本技术一种插针式EMI滤波器插入损耗测试装置的结构示意图；
[0015]图2是图1中A区域的放大图(不接入插针式EMI滤波器时)；
[0016]图3是图1中A区域的放大图(接入插针式EMI滤波器时)；
[0017]图4是本技术一种插针式EMI滤波器插入损耗测试装置的第一金属块与插针座之间的连接结构示意图。
[0018]图中：1、测试发射机；2、第一功率计；3、第二功率计；4、负载；5、基座；501、第三插孔；502、第四插孔；6、插针座；601、第五插孔；7、第一金属块；701、第一连接插孔；8、第二金属块；801、第一突出部；802、插接部；9、第三金属块；901、第二突出部；10、金属插接杆；11、绝缘套；12、输出导线；13、底座；14、吸盘；15、提手；16、输入导线。
具体实施方式
[0019]为使本技术实施方式的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施方式中的附图，对本技术实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式是本技术一部分实施方式，而不是全部的实施方式。因此，以下对在附图中提供的本技术的实施方式的详细描述并非旨在限制要求保护的本技术的范围，而是仅仅表示本技术的选定实施方式。基于本技术中的实施方式，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本技术保护的范围。
[0020]在本技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0021]请参阅图1、图2、图3和图4，一种插针式EMI滤波器插入损耗测试装置，包括测试发射机1、第一功率计2、第二功率计3和阻值为50Ω的负载4，测试发射机1选用30W的移动收发信机，第一功率计2、第二功率计3选用带50W探头的BIRD43型功率计。测试发射机1的输出端与第一功率计2的输入端相连，第二功率计3的输出端与负载4的输入端相连，还包括基座5和插针座6，基座5和插针座6均使用绝缘材料制成，基座5的上端面上设置有插接凹槽，插针座6的下端插入插接凹槽中。插接凹槽的底部设置有第一金属块7，第一金属块7可以使用金属铜制作，起到导电作用，第一金属块7连接有输入导线1本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种插针式EMI滤波器插入损耗测试装置，其特征在于，包括测试发射机(1)、第一功率计(2)、第二功率计(3)和阻值为50Ω的负载(4)，所述测试发射机(1)的输出端与第一功率计(2)的输入端相连，所述第二功率计(3)的输出端与负载(4)的输入端相连，还包括基座(5)和插针座(6)，所述基座(5)和插针座(6)均使用绝缘材料制成，所述基座(5)的上端面上设置有插接凹槽，所述插针座(6)的下端插入插接凹槽中；所述插接凹槽的底部设置有第一金属块(7)，所述第一金属块(7)连接有输入导线(16)，所述输入导线(16)穿过基座(5)与第一功率计(2)的输出端相连，所述第一金属块(7)的上端面上设置有插接孔；所述插针座(6)中设置有第二金属块(8)和第三金属块(9)，所述第二金属块(8)的上端面上设置有若干个第一突出部(801)，所述第一突出部(801)的上端面上设置有第一插孔，所述插针座(6)的上端面上设置有多个通向各第一突出部(801)的第一凹孔，且各第一凹孔与各第一突出部(801)一一对应设置，所述第二金属块(8)的下端设置有插接部(802)，所述插接部(802)的下端穿过插针座(6)插入第一金属块(7)的插接孔中并与第一金属块(7)相接触；第三金属块(9)的上端面上设置有若干个第二突出部(901)，所述第二突出部(901)的上端面上设置有第二插孔，所述插针座(6)的上端面上设置有多个通向各第二突出部(901)的第二凹孔，且各第二凹孔与各第二突出部(901)一一对应设置；所述基座(5)外壁上设...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄世华，罗绍益，
申请(专利权)人：河源市菲尔斯特电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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