一种多路光纤衰耗测试系统技术方案

技术编号:29963976 阅读:14 留言:0更新日期:2021-09-08 09:28
本发明专利技术公开了一种多路光纤衰耗测试系统,该系统包括连接组件、处理组件和上位机,其中,连接组件,包括多路光开关和与多路光开关连接的光线耦合器;处理组件,与连接组件连接,包括光信号发送模块和与光信号发送模块连接的光信号接收模块;以及,上位机,与处理组件连接,包括CPU模块、与CPU模块连接的显示模块和按键模块;本发明专利技术中的多路光纤衰耗测试系统能同时对多路光纤进行衰耗测试,测试结果自动存储,且只需一人操作即可,节省大量人力。再者,该装置能在复杂多变的环境下,智能且准确地检测出光纤衰耗,以及检测光纤链路故障,极大地提高光纤链路测试及维修工作效率,确保通信畅通,达到对智能站光纤回路进行量化验收且简化验收流程的目的。收流程的目的。收流程的目的。

【技术实现步骤摘要】
一种多路光纤衰耗测试系统


[0001]本专利技术涉及光纤检测的
,尤其涉及一种多路光纤衰耗测试系统。

技术介绍

[0002]光纤衰耗测试仪的作用在于对变电站内光纤纤芯进行衰耗测试,从而确定该纤芯是否合格,现有的光纤衰耗测试仪一次只能对一根光纤纤芯进行测试,不能同时对多路纤芯进行测试,费时费力。
[0003]传统光纤链路检测方法的缺点在于:智能变电站光纤链路众多,验收时光纤衰耗测试费时费力,且测试结果无法自动存储。传统检测方法使用人工打光并观察的方式来确定光纤链路的通断,需要多人一组,一次只能对一路光纤进行测试,工作效率不高;使用的打光光源为发光二极管等,光源存在功率小以及易散射等性能缺陷,在阳光强烈的室外和光纤链路距离较远等复杂工况下使用时,影响打光效果和光纤链路检测准确率不高。为解决当前智能变电站光纤链路众多,验收时光纤衰耗测试费时费力的问题,本项目研制一种多路光纤衰耗测试系统,该装置能同时对多路光纤进行衰耗测试,测试结果自动存储,且只需一人操作即可,节省大量人力。再者,该装置能在复杂多变的环境下,尤其是在强光环境下,智能且准确地检测出光纤衰耗,以及检测光纤链路故障。本系统能极大地提高光纤链路测试及维修工作效率,确保通信畅通,达到对智能站光纤回路进行量化验收且简化验收流程的目的。

技术实现思路

[0004]本部分的目的在于概述本专利技术的实施例的一些方面以及简要介绍一些较佳实施例。在本部分以及本申请的说明书摘要和专利技术名称中可能会做些简化或省略以避免使本部分、说明书摘要和专利技术名称的目的模糊,而这种简化或省略不能用于限制本专利技术的范围。
[0005]鉴于上述现有多路光纤衰耗测试系统存在的问题,提出了本专利技术。
[0006]因此,本专利技术目的是提供一种多路光纤衰耗测试系统,其能同时对多路光纤进行衰耗测试,测试结果自动存储,且只需一人操作即可,节省大量人力。
[0007]为解决上述技术问题,本专利技术提供如下技术方案:一种多路光纤衰耗测试系统,该系统包括连接组件、处理组件和上位机,其中,连接组件,包括多路光开关和与所述多路光开关连接的光线耦合器;处理组件,与所述连接组件连接,包括光信号发送模块和与所述光信号发送模块连接的光信号接收模块;以及,上位机,与所述处理组件连接,包括CPU模块、与所述CPU模块连接的显示模块和按键模块。
[0008]作为本专利技术所述多路光纤衰耗测试系统的一种优选方案,其中:所述多路光开关上设置有多路光纤接口,每一路光纤接口用于外接光纤网络中的一路被测光纤。
[0009]作为本专利技术所述多路光纤衰耗测试系统的一种优选方案,其中:所述光信号发送模块包括与所述光纤耦合器连接的E/O转换器和与所述E/O转换器连接的脉冲发生器。
[0010]作为本专利技术所述多路光纤衰耗测试系统的一种优选方案,其中:所述E/O转换器将
电脉冲信号转换成光信号输入至所述光纤耦合器中。
[0011]作为本专利技术所述多路光纤衰耗测试系统的一种优选方案,其中:所述脉冲发生器产生电脉冲信号,将电脉冲信号发送至所述E/O转换器内,且其能够接收所述CPU模块发出的时钟信号指令,根据所述CPU模块发出的时钟信号指令产生电脉冲信号。
[0012]作为本专利技术所述多路光纤衰耗测试系统的一种优选方案,其中:所述光信号接收模块包括与所述光纤耦合器连接的SPD检测器和与所述SPD检测器连接的计数器。
[0013]作为本专利技术所述多路光纤衰耗测试系统的一种优选方案,其中:所述SPD检测器将探测到的弱光子信号经光电转换成电信号后将其发送至所述计数器内。
[0014]作为本专利技术所述多路光纤衰耗测试系统的一种优选方案,其中:所述计数器根据CPU模块发出的时钟信号指令进行计数,将所述SPD检测器转换成的电信号与时钟信号匹配形成数据包,并将数据包发送至所述CPU模块内。
[0015]作为本专利技术所述多路光纤衰耗测试系统的一种优选方案,其中:所述CPU模块能够控制OTDR检测系统内各个模块是否正常工作,并向所述光信号发送模块和光信号接收模块发送时钟信号,且其内部储存有电信号原始参数,根据所述计数器发送的数据包,将其与电信号原始参数进行对比,判断反射信号是否出现异常,根据所述计数器得出出现异常信号的时间,得出出现异常光纤的距离。
[0016]作为本专利技术所述多路光纤衰耗测试系统的一种优选方案,其中:所述显示模块显示所述CPU模块处理得到的反射信号数据和异常光纤距离,按键模块用于启动整个系统,能够对所述CPU模块输入启动指令。
[0017]本专利技术的有益效果:
[0018]本专利技术中的多路光纤衰耗测试系统能同时对多路光纤进行衰耗测试,测试结果自动存储,且只需一人操作即可,节省大量人力。再者,该装置能在复杂多变的环境下,尤其是在强光环境下,智能且准确地检测出光纤衰耗,以及检测光纤链路故障。本系统能极大地提高光纤链路测试及维修工作效率,确保通信畅通,达到对智能站光纤回路进行量化验收且简化验收流程的目的。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其它的附图。其中:
[0020]图1为本专利技术多路光纤衰耗测试系统的整体结构示意图。
[0021]图2为本专利技术多路光纤衰耗测试系统的整体结构逻辑框图。
具体实施方式
[0022]为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合说明书附图对本专利技术的具体实施方式做详细的说明。
[0023]在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本专利技术,但是本专利技术还可以采用其他不同于在此描述的其它方式来实施,本领域技术人员可以在不违背本专利技术内涵的
情况下做类似推广,因此本专利技术不受下面公开的具体实施例的限制。
[0024]其次,此处所称的“一个实施例”或“实施例”是指可包含于本专利技术至少一个实现方式中的特定特征、结构或特性。在本说明书中不同地方出现的“在一个实施例中”并非均指同一个实施例,也不是单独的或选择性的与其他实施例互相排斥的实施例。
[0025]再其次,本专利技术结合示意图进行详细描述,在详述本专利技术实施例时,为便于说明,表示器件结构的剖面图会不依一般比例作局部放大,而且所述示意图只是示例,其在此不应限制本专利技术保护的范围。此外,在实际制作中应包含长度、宽度及深度的三维空间尺寸。
[0026]实施例1
[0027]参照图1,为本专利技术第一个实施例,提供了一种多路光纤衰耗测试系统,此系统包括连接组件100、处理组件200和上位机300,其中,连接组件100,包括多路光开关101和与所述多路光开关101连接的光线耦合器102;处理组件200,与所述连接组件100连接,包括光信号发送模块201和与所述光信号发送模块201连接的光信号接收模块202;以及,上位机300,与所述处理组本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多路光纤衰耗测试系统,其特征在于:包括,连接组件(100),包括多路光开关(101)和与所述多路光开关(101)连接的光线耦合器(102);处理组件(200),与所述连接组件(100)连接,包括光信号发送模块(201)和与所述光信号发送模块(201)连接的光信号接收模块(202);以及,上位机(300),与所述处理组件(200)连接,包括CPU模块(301)、与所述CPU模块(301)连接的显示模块(302)和按键模块(303)。2.如权利要求1所述的多路光纤衰耗测试系统,其特征在于:所述多路光开关(101)上设置有多路光纤接口,每一路光纤接口用于外接光纤网络中的一路被测光纤。3.如权利要求1或2所述的多路光纤衰耗测试系统,其特征在于:所述光信号发送模块(201)包括与所述光纤耦合器(102)连接的E/O转换器(201a)和与所述E/O转换器(201a)连接的脉冲发生器(201b)。4.如权利要求3所述的多路光纤衰耗测试系统,其特征在于:所述E/O转换器(201a)将电脉冲信号转换成光信号输入至所述光纤耦合器(102)中。5.如权利要求4所述的多路光纤衰耗测试系统,其特征在于:所述脉冲发生器(201b)产生电脉冲信号,将电脉冲信号发送至所述E/O转换器(201a)内,且其能够接收所述CPU模块(301)发出的时钟信号指令,根据所述CPU模块(301)发出的时钟信号指令产生电脉冲信号。6.如权利要求1、2、4、5任一所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员:王堃葛文何维田维国陈荣怀郑喆陈挺黄岗肖力向阳黄怀玉张星邓德茂田松程伟刘涛王译任佳兴刘福平李莎
申请(专利权)人:贵州电网有限责任公司
类型:发明
国别省市:

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