【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于经由使用定制的反射器设施对光学吸收的测量进行泄漏监测的系统及方法
[0001]相关申请案的交叉参考
[0002]本申请案主张标题为“用于经由使用定制的反射器设施对光学吸收的测量进行泄漏监测的系统及方法(Systems and Methods for Leak Monitoring via Measurement of Optical Absorption Using Tailored Reflector Installments)”且在2019年5月15日申请的第16/413,272号美国专利申请案,及标题为“用于经由使用定制的反射器设施对光学吸收的测量进行泄漏监测的系统及方法(Systems and Methods for Leak Monitoring via Measurement of Optical Absorption Using Tailored Reflector Installments)”且在2019年1月25日申请的第62/797,065号美国临时专利申请案的优先权及权益,所述申请案中的每一者的内容的全文特此以引用的方式并入本文中。
[0003]本专利技术大体上涉及用于经由光学吸收的测量及定制的反射器设施检测例如甲烷、其它烃类、二氧化碳或氨的气体的排放的方法、系统及设备。特定来说,在某些实施例中,本专利技术涉及用于经由与光学传感器共置的与定制的反射器设施组合的扫描照明器检测、定位及量化来自待监测场地内的多种气体的排放的方法、系统及设备。
技术介绍
[0004]天然气泄漏产生安 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种生成用于检测包括一或多种所关注化合物的气体的排放的光谱吸收图的方法,所述方法包括:(a)朝向安装在待监测场地周围的反射器设施定位光学传感器的瞬时视场(ifov);(b)使用所述光学传感器的一或多个检测器来在一或多个所关注光谱带内检测光,所述经检测光已从所述反射器设施上的多个采样位置反射且捕获在所述光学传感器的所述ifov内,其中所述一或多个所关注光谱带的至少一部分与相关联于所述一或多种所关注化合物的一或多个光谱特征重叠;(c)通过计算装置的处理器,接收及/或存取对应于从所述多个采样位置反射的所述经检测光的数据;及(d)通过所述处理器,针对所述多个采样位置的至少一部分中的每一者,使用所述经检测光来确定与所述一或多个光谱特征中的至少一者相关联的吸收水平,由此生成包括多个吸收水平的光谱吸收图,每一吸收水平与特定采样位置及光谱特征相关联。2.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:(e)使用所述经生成光谱吸收图来检测来自所述待监测场地内的所述气体的所述排放。3.根据权利要求2所述的方法,其中步骤(e)包括通过由所述处理器自动地分析所述光谱吸收图的所述吸收水平来检测所述气体的所述排放。4.根据前述权利要求中任一权利要求所述的方法,其包括使用所述光谱吸收图的所述吸收水平以通过所述处理器针对所述多个采样位置的至少一部分中的每一者,确定所述所关注化合物中的一或多者的柱密度。5.根据前述权利要求中任一权利要求所述的方法,其包括:从照明源且朝向所述反射器设施引导照明光束;及使所述照明光束跨所述反射器设施的至少一部分扫描,由此照明所述多个采样位置。6.根据权利要求5所述的方法,其包括使所述照明光束以连续方式跨包括所述反射器设施的目标区的一部分扫描,由此照明沿着所述反射器设施的所述多个采样位置以及在所述目标区内但不一定在所述反射器设施上的其它位置。7.根据权利要求5或6所述的方法,其中所述照明源是宽带源,使得所述照明光束具有跨越所述一或多种所关注化合物的多个光谱特征的光谱带宽。8.根据权利要求7所述的方法,其中所述照明源是宽带短波红外线(SWIR)源。9.根据权利要求5到8中任一权利要求所述的方法,其包括使所述光学传感器的所述ifov以与所述照明光束同步的方式跨所述反射器设施的所述部分扫描及随着使所述ifov扫描,使用所述一或多个检测器来在所述一或多个所关注光谱带内检测从沿着所述反射器设施的所述采样位置中的每一者反射的所述光。10.根据权利要求5到9中任一权利要求所述的方法,其中所述照明源与所述光学传感器共置,且其中所述方法包括使所述照明光束及所述ifov串联扫描。11.根据权利要求10所述的方法,其中使用机械耦合镜来使所述ifov及所述照明光束扫描。12.根据前述权利要求中任一权利要求所述的方法,其包括使所述光学传感器的所述ifov跨所述反射器设施的所述部分扫描及随着使所述ifov扫描,使用所述一或多个检测器
来在所述一或多个所关注光谱带内检测从沿着所述反射器设施的所述采样位置中的每一者反射的光。13.根据前述权利要求中任一权利要求所述的方法,其中步骤(b)包括检测来自目标区内的多个图像位置的光,其中所述目标区包括所述反射器设施且所述图像位置包括在所述反射器设施上的所述多个采样位置以及在所述目标区内但不一定在所述反射器设施上的其它位置。14.根据权利要求13所述的方法,其中:步骤(c)包括接收及/或存取对应于来自所述目标区内的所述多个图像位置的所述经检测光的数据;且步骤(d)包括针对所述多个图像位置中的每一者,使用所述经检测光来确定与所述一或多个光谱特征中的至少一者相关联的吸收水平,使得所述经生成光谱吸收图包括多个吸收水平,每一吸收水平与特定图像位置及光谱特征相关联。15.根据前述权利要求中任一权利要求所述的方法,其中所述反射器设施包括足够大小的一或多个连续反射区段以跨越多个所述采样位置。16.根据前述权利要求中任一权利要求所述的方法,其中所述反射器设施包括一或多个连续反射区段,每一连续反射区段包括多个个别逆向反射元件。17.根据前述权利要求中任一权利要求所述的方法,其中所述一或多个检测器包括阵列检测器,所述阵列检测器包括多个像素且经对准以使包括所述采样位置中的两者或更多者的空间区成像。18.根据前述权利要求中任一权利要求所述的方法,其中所述一或多个检测器经对准以一次使单个空间位置成像。19.根据前述权利要求中任一权利要求所述的方法,其中所述反射器设施包括安装在所述场地内的一或多个资产附近及/或安装在其上的一或多个反射区段。20.根据前述权利要求中任一权利要求所述的方法,其中所述反射器设施包括一或多个反射区段,每一反射区段包括反射表面。21.根据前述权利要求中任一权利要求所述的方法,其中所述反射器设施包括一或多个逆向反射表面。22.根据前述权利要求中任一权利要求所述的方法,其中所述光学传感器经定位在所述反射器设施的最远部分的250米内。23.根据前述权利要求中任一权利要求所述的方法,其中针对沿着所述反射器设施的所述采样位置中的一或多者中的每一者,从所述光学传感器到沿着所述反射器设施的所述采样位置的视线的入射及/或出射角大于1度。24.根据前述权利要求中任一权利要求所述的方法,其中所述反射器设施包括一或多个反射表面,每一反射表面具有足够大的最小尺寸以针对所述光学传感器的所述一或多个检测器中的每一者,跨越所述检测器的个别ifov到所述反射表面上的投射。25.根据权利要求20所述的方法,其包括沿着所述一或多个反射表面中的每一者的至少一个尺寸对所述传感器ifov进行过采样。26.根据前述权利要求中任一权利要求所述的方法,其中所述反射器设施包括一或多个大致平坦的反射表面。
27.根据前述权利要求中任一权利要求所述的方法,其中所述反射器设施包括框架,所述框架包括反射表面。28.根据前述权利要求中任一权利要求所述的方法,其中所述反射器设施包括一或多个反射表面,每一反射表面是沿着待监测罐的边缘的至少一部分安装。29.根据前述权利要求中任一权利要求所述的方法,其中所述反射器设施包括沿着待监测内部场地的墙壁安装的一或多个反射表面。30.根据前述权利要求中任一权利要求所述的方法,其中所述反射器设施的至少一部分是可重定位的。31.根据前述权利要求中任一权利要求所述的方法,其包括使用两个或更多个光学传感器来执行步骤(a)到(d)。32.根据前述权利要求中任一权利要求所述的方法,其中所述光学传感器是可旋转的。33.根据前述权利要求中任一权利要求所述的方法,其中所述一或多个检测器包括一或多个光谱检测器,每一光谱检测器与所述一或多个所关注光谱带中的特定光谱带相关联且可操作以区分地在所述特定光谱带内检测光。34.根据前述权利要求中任一权利要求所述的方法,其中所述一或多个所关注光谱带在所述短波红外线(SWIR)光谱内。35.根据前述权利要求中任一权利要求所述的方法,其中所述一或多个检测器可操作以在所述短波红外线(SWIR)光谱内检测光。36.根据前述权利要求中任一权利要求所述的方法,其中所述一或多个所关注光谱带的至少一部分中的每一者跨越扩展光谱特征,包括所述一或多种所关注化合物的多个吸收线。37.根据前述权利要求中任一权利要求所述的方法,其中步骤(b)包括使用所述光学传感器的所述一或多个检测器,检测已从多个额外采样位置反射且捕获在所述光学传感器的所述ifov内的经反射环境光,目标区内的所述多个额外采样位置包括所述反射器设施,但不在所述反射器设施上,且其中对应于在步骤(c)接收及/或存取的所述经检测光的所述数据包括对应于已从(i)所述反射器设施上的所述采样图像位置以及(ii)不在所述反射器设施上的所述额外采样位置反射的经检测光的数据。38.根据前述权利要求中任一权利要求所述的方法,其进一步包括使用对应于所述经检测光的所述数据以量化来自所述场地内的所述气体的所述排放。39.根据权利要求38所述的方法,其包括使用对应于所述经检测光的所述数据以量化来自所述场地内的所述气体的所述排放的质量通量。40.根据权利要求38或39中任一权利要求所述的方法,其包括使用对应于所述经检测光的所述数据以量化在所述场地的第一扇区与第二相邻扇区之间传递的气体的质量通量。41.一种用于生成用来检测包括一或多种所关注化合物的气体的排放的光谱吸收图的系统,所述系统包括:(a)反射器设施,其经安装在待监测场地周围;(b)光学传感器,其经定位在所述反射器设施附近且包括一或多个检测器,其中:所述一或多个检测器经对准且可操作以在一或多个所关注光谱带内检测光,所述所关
注光谱带的至少一部分与相关联于所述一或多种所关注化合物的一或多个光谱特征重叠,且所述一或多个检测器经对准以检测从所述反射器设施上的多个采样位置反射且捕获在所述光学传感器的瞬时视场(ifov)内的光;(c)计算装置的处理器;及(d)存储器,其上存储有指令,其中所述指令在由一个处理器执行时引起所述处理器:接收及/或存取对应于来自所述多个采样位置中的每一者的所述经检测光的数据;及针对所述多个采样位置中的每一者,使用所述经检测光来确定与所述一或多个光谱特征中的至少一者相关联的吸收水平,由此生成包括多个吸收水平的光谱吸收图,每一吸收水平与特定采样位置及光谱特征相关联。42.根据权利要求41所述的系统,其中所述指令进一步引起所述处理器:使用所述经生成光谱吸收图来检测来自所述待监测场地内的所述气体的所述排放。43.根据权利要求42所述的系统,其中所述指令引起所述处理器通过自动地分析所述光谱吸收图的所述吸收水平来检测所述气体的所述排放。44.根据权利要求41到43中任一权利要求所述的系统,其中所述指令引起所述处理器使用所述光谱吸收图的所述吸收水平以针对所述多个采样位置的至少一部分中的每一者,确定所述所关注化合物中的一或多者的柱密度。45.根据权利要求41到44中任一权利要求所述的系统,其包括扫描照明器,所述扫描照明器经对准且可操作以朝向所述反射器设施发射及引导结构化照明光束且使所述结构化照明光束跨所述反射器设施的至少一部分扫描,由此照明所述多个采样位置。46.根据权利要求45所述的系统,其中所述扫描照明器可操作以使所述照明光束按连续方式跨包括所述反射器设施的目标区的一部分扫描,由此照明沿着所述反射器设施的所述多个采样位置以及在所述目标区内但不一定在所述反射器设施上的其它位置。47.根据权利要求45或46所述的系统,其中所述扫描照明器是宽带源,使得所述照明光束具有跨越所述一或多种所关注化合物的多个光谱特征的光谱带宽。48.根据权利要求47所述的系统,其中所述扫描照明器包括宽带短波红外线(SWIR)源。49.根据权利要求45到48中任一权利要求所述的系统,其包括光学传感器扫描仪,所述光学传感器扫描仪可操作以使所述光学传感器的所述ifov按与所述照明光束同步的方式跨所述反射器设施的所述部分扫描且以便随着使所述ifov扫描,使用所述一或多个检测器来在所述一或多个所关注光谱带内检测从沿着所述反射器设施的所述采样位置中的每一者反射的所述光。50.根据权利要求45到49所述的系统,其中所述扫描照明器与所述光学传感器共置,使得使所述照明光束及所述ifov两者串联扫描。51.根据权利要求50所述的系统,其中使用机械耦合镜来使所述ifov及所述照明光束扫描。52.根据权利要求41到51中任一权利要求所述的系统,其包括光学传感器扫描仪,所述光学传感器扫描仪可操作以使所述光学传感器的所述ifov跨所述反射器设施的至少一部分扫描,以便随着使所述ifov扫描,使用所述一或多个检测器来在所述一或多个所关注光谱带内检测从沿着所述反射器设施的所述采样位置中的每一者反射的光。
53.根据权利要求41到52中任一权利要求所述的系统,其中所述反射器设施包括足够大小的一或多个连续反射区段以跨越多个所述采样位置。54.根据权利要求41到53中任一权利要求所述的系统,其中所述反射器设施包括一或多个连续反射区段,每一连续反射区段包括多个个别逆向反射元件。55.根据权利要求41到...
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