消弧线圈测试装置及测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了消弧线圈测试装置及测试方法，装置中，程控电源生成可调交流电源，电流输出继电器连接程控电源以电流输出到待测的消弧线圈；电容控制板经由电压输出继电器连接程控电源以电压输出到待测的消弧线圈，电容投切模块连接第一主控MCU以投入或切换预定电容，测控主板连接程控电源以读取程控电源的电压输出数据和电流输出数据，且控制程控电源的开机与停机，第二主控MCU连接第二通讯模块、第二电源管理模块和按键输入模块，第二主控MCU基于第二预定电压运行，响应于指令，第二主控MCU生成第一信号发送第一主控MCU，第一主控MCU基于第一信号控制电容投切模块投入或切除预定电容。电容。电容。

【技术实现步骤摘要】
消弧线圈测试装置及测试方法


[0001]本专利技术属于消弧线圈
，特别是一种消弧线圈测试装置及测试方法。

技术介绍

[0002]随着我国经济快速增长，配电网大多数采用经消弧线圈接地的方式，随着电缆的大量运用，消弧线圈控制器成套装置持续投入到整个电网系统中运行，长期之后其运行状态可能存在偏差，整个电力系统得不到正确的补偿，从而使得故障范围扩大。但对该装置本身的运行状态除厂家提供的运行指示信号外，缺乏第三方的直观测试手段。特别是生产厂家繁多，调节方式多种类型，消弧装置故障类型复杂。为提升消弧装置的运行可靠性和检修效率，需要采取综合检测手段，实现对消弧系统进行测试和故障准确排查。
[0003]在
技术介绍
部分中公开的上述信息仅仅用于增强对本专利技术背景的理解，因此可能包含不构成在本国中本领域普通技术人员公知的现有技术的信息。

技术实现思路

[0004]针对现有技术中存在的问题，本专利技术提出一种消弧线圈测试装置及测试方法。克服了目前变电站定期对消弧线圈检测，检测精度差、测试繁琐，人机操作不友好，实现了对消弧线圈装置智能评估，且检测精度高，抗干扰能力强，易于推广应用。
[0005]本专利技术的目的是通过以下技术方案予以实现，消弧线圈测试装置包括，
[0006]程控电源，其生成可调交流电源，电流输出继电器连接所述程控电源以电流输出到待测的消弧线圈；
[0007]电容控制板，其经由电压输出继电器连接所述程控电源以电压输出到待测的消弧线圈，所述电容控制板包括，
[0008]第一电源管理模块，其提供第一预定电压，
[0009]第一主控MCU，连接所述第一电源管理模块以基于第一预定电压运行，
[0010]电容投切模块，其连接所述第一主控MCU以投入或切换预定电容，所述电容投切模块包括继电器与薄膜电容构成的多路电容组，
[0011]测控主板，其连接所述程控电源以读取所述程控电源的电压输出数据和电流输出数据，且控制所述程控电源的开机与停机，所述测控主板包括，
[0012]第二通讯模块，其连接所述程控电源和所述电容控制板以与测控主板通讯交互，
[0013]第二电源管理模块，其提供第二预定电压，
[0014]按键输入模块，其配置成输入指令，
[0015]第二主控MCU，其连接所述第二通讯模块、第二电源管理模块和按键输入模块，第二主控MCU基于第二预定电压运行，响应于所述指令，第二主控MCU生成第一信号发送所述第一主控MCU，所述第一主控MCU基于所述第一信号控制电容投切模块投入或切除预定电容，
[0016]显示模块，其连接所述第二主控MCU以显示信息，所述信息至少包括电压输出数
据、电流输出数据和/或预定电容。
[0017]所述的消弧线圈测试装置中，所述第二主控MCU包括比较单元，当待测消弧线圈反馈的电压值偏离所述电压输出数据超过第一预定阈值、待测消弧线圈反馈的电流值偏离所述电流输出数据超过第二预定阈值，和/或待测消弧线圈反馈的电容值偏离所述预定电容超过第三预定阈值，所述第二主控MCU发出故障信号。
[0018]所述的消弧线圈测试装置中，所述程控电源包括交流整流成直流的AC/DC单元、隔离DC/DC单元以及直流转换为交流的DC/AC逆变单元。
[0019]所述的消弧线圈测试装置中，测控主板通过RS485总线连接及控制所述程控电源和所述电容控制板。
[0020]所述的消弧线圈测试装置中，电容控制板集成交流电桥。
[0021]所述的消弧线圈测试装置中，第一主控MCU或第二主控MCU为单片机。
[0022]所述的消弧线圈测试装置中，第一预定电压或第一预定电压分别为5V或3.3V。
[0023]所述的消弧线圈测试装置中，显示模块为单色显示器。
[0024]所述的消弧线圈测试装置中，所述继电器为固态继电器。
[0025]根据本专利技术另一方面，一种利用所述的消弧线圈测试装置的测试方法包括以下步骤，
[0026]消弧线圈设有消弧线圈控制屏，所述消弧线圈依次串联第一电流互感器和第二电流互感器，所述第二电流互感器一端为接地端，所述消弧线圈远离所述第一电流互感器的一端以及所述第二电流互感器与接地端之间设有所述消弧线圈的测试接入点，
[0027]所述程控电源依次经由电压输出继电器和电容控制板电压输出到待测的消弧线圈，所述消弧线圈控制屏显示的待测消弧线圈反馈的电压值偏离所述电压输出数据超过第一预定阈值，第二主控MCU发出故障信号；
[0028]所述程控电源经由电流输出继电器电流输出所述电流输出数据到待测的消弧线圈，所述消弧线圈控制屏显示的待测消弧线圈反馈的电流值偏离所述电流输出数据超过第二预定阈值，第二主控MCU发出故障信号；
[0029]按键输入模块输入指令，响应于所述指令，第二主控MCU生成第一信号发送所述第一主控MCU，所述第一主控MCU基于所述第一信号控制电容投切模块投入或切除预定电容，所述消弧线圈控制屏显示的待测消弧线圈反馈的电容值偏离所述预定电容超过第三预定阈值，所述第二主控MCU发出故障信号。
[0030]和现有技术相比，本专利技术具有以下优点：
[0031]本专利技术测量装置检测消弧线圈采用高精度的程控电源，投接线简单，避免然人工检测造成的检测困难，检测精度低，周期性差，步骤繁多，操作复杂，实现困难等问题，本专利技术设计简洁、集成度与智能化高；界面友好、操作简单、触控操作，便于升级和移植；本专利技术可靠性高、本专利技术体积小，重量轻，易于携带，便于操作，可供调试通讯检修等各项工作使用。
附图说明
[0032]通过阅读下文优选的具体实施方式中的详细描述，本专利技术各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。说明书附图仅用于示出优选实施方式的目的，
而并不认为是对本专利技术的限制。显而易见地，下面描述的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。而且在整个附图中，用相同的附图标记表示相同的部件。
[0033]在附图中：
[0034]图1是本专利技术的消弧线圈测试装置测试连接的结构示意图；
[0035]图2是本专利技术的消弧线圈测试装置的结构示意图；
[0036]图3是本专利技术的消弧线圈测试装置的测控主板的结构示意图；
[0037]图4是本专利技术的消弧线圈测试装置的电容控制板的结构示意图。
[0038]以下结合附图和实施例对本专利技术作进一步的解释。
具体实施方式
[0039]下面将参照附图图1至图4更详细地描述本专利技术的具体实施例。虽然附图中显示了本专利技术的具体实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本专利技术而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本专利技术，并且能够将本专利技术的范围完整的传达给本领域的技术人员。
[0040]需要说明的是，在说明书及权利要求当中使用了某些词汇来指称特定组件。本领本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种消弧线圈测试装置，其特征在于，其包括，程控电源，其生成可调交流电源，电流输出继电器连接所述程控电源以电流输出到待测的消弧线圈；电容控制板，其经由电压输出继电器连接所述程控电源以电压输出到待测的消弧线圈，所述电容控制板包括，第一电源管理模块，其提供第一预定电压，第一主控MCU，连接所述第一电源管理模块以基于第一预定电压运行，电容投切模块，其连接所述第一主控MCU以投入或切换预定电容，所述电容投切模块包括继电器与薄膜电容构成的多路电容组，测控主板，其连接所述程控电源以读取所述程控电源的电压输出数据和电流输出数据，且控制所述程控电源的开机与停机，所述测控主板包括，第二通讯模块，其连接所述程控电源和所述电容控制板以与测控主板通讯交互，第二电源管理模块，其提供第二预定电压，按键输入模块，其配置成输入指令，第二主控MCU，其连接所述第二通讯模块、第二电源管理模块和按键输入模块，第二主控MCU基于第二预定电压运行，响应于所述指令，第二主控MCU生成第一信号发送所述第一主控MCU，所述第一主控MCU基于所述第一信号控制电容投切模块投入或切除预定电容，显示模块，其连接所述第二主控MCU以显示信息，所述信息至少包括电压输出数据、电流输出数据和/或预定电容。2.根据权利要求1所述的消弧线圈测试装置，其中，优选的，所述第二主控MCU包括比较单元，当待测消弧线圈反馈的电压值偏离所述电压输出数据超过第一预定阈值、待测消弧线圈反馈的电流值偏离所述电流输出数据超过第二预定阈值，和/或待测消弧线圈反馈的电容值偏离所述预定电容超过第三预定阈值，所述第二主控MCU发出故障信号。3.根据权利要求1所述的消弧线圈测试装置，其中，所述程控电源包括交流整流成直流的AC/DC单元、隔离DC/DC单元以及直流转换为交流的DC/AC逆变单...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁立国，何军保，李舟，王宁，李嘉，刘魁，王雨，贺慧，尚晓光，王少鲁，黄乐，洪翰林，郝亮，刘露江，
申请(专利权)人：西安中洲电力设备有限公司，
类型：发明
国别省市：