【技术实现步骤摘要】
一种扩束光学系统角放大率及其一致性的测试系统和方法
[0001]本专利技术涉及一种光学系统角放大率和角放大率一致性的测试系统及其测试方法，适用于角扩束光学系统，属于光电检测
技术介绍
[0002]角扩束类光学系统常应用于深空探测用敏感器及交会对接敏感器中，其功能为扩大扫描输入激光的发散角度，实现大面积的光束扫描，在全输入视场范围内其出射光角度与入射光角度始终成一固定比值。该比值被称为角放大倍数或角放大率。
[0003]对于该类光学系统，角放大率及角放大率的一致性是关键性能指标，需要全输入视场范围内，不同方向、不同入射角度下的角放大率及其一致性的精确测量数据。
[0004]目前针对该类光学系统的研究大都停留在设计领域，如实现某一角放大率的光学系统设计，如何减薄及减小光学系统尺寸等。对于角放大率的测试方法，研究很少，基本沿用国军标，还都停留在轴上方向。
[0005]国军标GB/T 10987
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2009光学系统
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参数的测定中规定了角放大率测试方法，通过测量像...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种扩束光学系统角放大率测试系统，其特征在于包括气浮平台、含标靶的平行光管、基体转台、光学系统安装架、图像探测装置、三维移动平台、U型转台；所述平行光管和基体转台安装在气浮平台上，平行光管平行于气浮平台上表面，基体转台转轴垂直于气浮平台上表面，基体转台能够绕转轴连续旋转；光学系统安装架安装在基体转台上，光学系统安装架的转轴与基体转台相互平行，待测光学系统固定安装在光学系统安装架上；待测光学系统的光轴平行于气浮平台上表面，且与平行光管的光轴在同一个平面上；U型转台安装在基体转台上，U型转台的转轴与基体转台垂直，与待测光学系统安装面共面，U型转台能够绕转轴进行一定角度的旋转；三维移动平台固定安装在U型转台上，三维移动平台的X轴和Y轴与U型转台上表面平行，三维移动平台的Z轴与U型转台上表面垂直；图像探测装置固定安装在三维移动平台上；初始状态下，光学系统安装、图像探测装置均在平行光管的出射光路上，且三者在基体转台和U型转台均为0
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位置时保持同轴，平行光管出射的光照在标靶上，标靶的图像经过光学系统之后进入图像探测装置，显示在图像探测装置界面；通过调整基体转台转轴和光学系统安装架转轴的方向，即可获得被测光学系统全输入视场范围内不同方向、不同大小的入射角度；不同的入射角度下，使显示在图像探测装置界面的标靶图像与显示界面中心重合时对应的U型转台转轴的角度即为被测光学系统在对应入射角度下的出射角度，入射角度与出射角度的比值即为获得光学系统的角放大率。2.根据权利要求1所述的一种扩束光学系统角放大率及其一致性的测试系统，其特征在于还包括滤光片，用于过滤平行光管的出射光，使过滤之后出射光的光谱落入被测光学系统的光谱工作范围。3.根据权利要求1所述的一种扩束光学系统角放大率及其一致性的测试系统，其特征在于所述标靶为十字叉丝。4.根据权利要求1所述的一种扩束光学系统角放大率及其一致性的测试系统，其特征在于所述基体转台为数控转台，控制精度优于0.0001
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。5.根据权利要求1所述的一种扩束光学系统角放大率及其一致性的测试系统，其特征在于U型转台为数控转台，控制精度为0.0001
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。6.根据权利要求1所述的一种扩束光学系统角放大率及其一致性的测试系统，其特征在于所述图像探测装置包括显微物镜、CCD和数据采集及处理装置；显微物镜，用于将待测光学系统的出射光会聚于CCD像面；CCD，用于将像面收集到的光信号转换为电信号，并获得完整的数字图像信号；数据采集及处理装置，用于采集CCD的数字图像信号，显示在屏幕上，并计算标...
【专利技术属性】
技术研发人员：田广，杨宇，吕志强，曹振，赵晓雨，邵逸恺，刘航，汪艳，张运方，李松，王婧烨，孟庆红，杨立洲，刘旭光，梁稳，刘田欣，朱烨，赵娇娇，
申请(专利权)人：北京控制工程研究所，
类型：发明
国别省市：
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