一种颗粒物粒径谱仪比对校准系统技术方案

技术编号:29894121 阅读:23 留言:0更新日期:2021-09-01 00:26
本实用新型专利技术涉及颗粒物粒径谱仪领域,公开了一种颗粒物粒径谱仪比对校准系统,包括空压机、沉降室、上位机、颗粒物粒径谱仪标准机和颗粒物粒径谱仪被标机,空压机通过沉降气管路和注射气管路与沉降室连接,注射气管路设有标尘瓶,沉降室设有若干个出气口,沉降室通过若干个出气口分别与颗粒物粒径谱仪标准机和颗粒物粒径谱仪被标机连接,上位机分别与电磁阀、颗粒物粒径谱仪标准机和颗粒物粒径谱仪被标机连接。本实用新型专利技术不仅能够长期在线观测颗粒物粒径谱仪数据质量;而且还能对颗粒物粒径谱仪数据质量偏差进行调整,解决了现有技术中无法对颗粒物粒径谱仪数据质量进行监控以及数据质量偏差进行调整的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种颗粒物粒径谱仪比对校准系统
本技术涉及颗粒物粒径谱仪领域,具体地涉及一种颗粒物粒径谱仪比对校准系统。
技术介绍
颗粒物粒径谱仪广泛用作检测空气悬浮颗粒粒径分布的仪器。比如,国家专利公开文献CN202583034U,公开了“一种空气动力学粒径谱仪”,该技术包括:样流进样装置、粒子束准直加速喷口、壳流装置、光束聚焦整形装置、光电探测器、信号检测和处理模块和微控和显示模块。虽然该技术公开了颗粒物粒径谱仪的常规结构,但是却无法进行颗粒物粒径谱仪比对,无法进行颗粒物粒径谱仪数据质量调整,因此,亟需一种颗粒物粒径谱仪比对校准系统,从而解决颗粒物粒径谱仪比对以及数据质量调整的问题。
技术实现思路
本技术提供一种颗粒物粒径谱仪比对校准系统,从而解决现有技术的上述问题。一种颗粒物粒径谱仪比对校准系统,包括空压机(1)、沉降室(6)、上位机(10)、至少一个颗粒物粒径谱仪标准机(8)和至少一个颗粒物粒径谱仪被标机(9),空压机(1)通过沉降气管路(2)和注射气管路(3)与沉降室(6)连接,注射气管路(3)设有标尘瓶(4),标尘瓶(4)通本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种颗粒物粒径谱仪比对校准系统,其特征在于,包括空压机(1)、沉降室(6)、上位机(10)、至少一个颗粒物粒径谱仪标准机(8)和至少一个颗粒物粒径谱仪被标机(9),所述空压机(1)通过沉降气管路(2)和注射气管路(3)与所述沉降室(6)连接,所述注射气管路(3)设有标尘瓶(4),所述标尘瓶(4)通过电磁阀(5)与所述沉降室(6)连接,所述注射气管路(3)通过电磁阀(5)与所述沉降室(6)连接,所述沉降室(6)设有若干个出气口(7),所述沉降室(6)通过所述若干个出气口(7)分别与所述至少一个颗粒物粒径谱仪标准机(8)和所述至少一个颗粒物粒径谱仪被标机(9)连接,所述上位机(10)分别与所述...

【技术特征摘要】
1.一种颗粒物粒径谱仪比对校准系统,其特征在于,包括空压机(1)、沉降室(6)、上位机(10)、至少一个颗粒物粒径谱仪标准机(8)和至少一个颗粒物粒径谱仪被标机(9),所述空压机(1)通过沉降气管路(2)和注射气管路(3)与所述沉降室(6)连接,所述注射气管路(3)设有标尘瓶(4),所述标尘瓶(4)通过电磁阀(5)与所述沉降室(6)连接,所述注射气管路(3)通过电磁阀(5)与所述沉降室(6)连接,所述沉降室(6)设有若干个出气口(7),所述沉降室(6)通过所述若干个出气口(7)分别与所述至少一个颗粒物粒径谱仪标准机(8)和所述至少一个颗粒物粒径谱仪被标机(9)连接,所述上位机(10)分别与所述电磁阀(5)、所述至少一个颗粒物粒径谱仪标准机(8)和所述至少一个颗粒物粒径谱仪被标机(9...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘新春明步勇郑玉龙陈红娜陆辉
申请(专利权)人:中国气象局乌鲁木齐沙漠气象研究所北京汉诺明科技有限公司
类型:新型
国别省市:新疆;65

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