【技术实现步骤摘要】
一种细棒物体吸阻成型机用激光聚焦检测装置
:本专利技术属于细棒打孔
,特别涉及一种细棒物体吸阻成型机用激光聚焦检测装置。
技术介绍
:自从激光在细棒卷烟上的应用开展以来,特别是卷烟机安装在线激光吸阻成型装置后,由于卷烟机内部空间狭小,光路紧凑所以无法安装常规的聚焦调节装置,以致目前所有的在线激光设备的穿孔均无一例外地采用手工激光焦距调节,从而效率低下,对操作人员的技术水平要求高。公开于该
技术介绍
部分的信息仅仅旨在增加对本专利技术的总体背景的理解,而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域一般技术人员所公知的现有技术。
技术实现思路
:本专利技术的目的在于提供一种能够通过定点图案来判断打孔好坏的细棒物体吸阻成型机用激光聚焦检测装置,从而克服上述现有技术中的缺陷。为实现上述目的,本专利技术提供了一种细棒物体吸阻成型机用激光聚焦检测装置,用于检测激光打孔装置的打孔状态,其特征在于:包括:检测光路,所述检测光路与激光打孔光路由合束镜合束后重叠照射至细棒物体表面,检测光路与激光打孔光路为分时或者同时工作;图像监测系统,用于采集接收特定形状的检测光源的光束在细棒表面所形成的聚焦图型的反射信号,通过比对检测光源的特定形状的图像和细棒表面形成的图型的大小、方向、像素、清晰度获得检测结果;所述检测光源的光束带有特定的具有方向特性的形状。优选地,上述技术方案中,检测光路包括:检测光路包括:特定形状光束,发散的检测光源或者经过凹透镜形成发射光束的 ...
【技术保护点】
1.一种细棒物体吸阻成型机用激光聚焦检测装置,用于检测激光打孔装置的打孔状态,其特征在于:包括:/n检测光路,所述检测光路与激光打孔光路由合束镜合束后重叠照射至细棒物/n体表面,检测光路与激光打孔光路为分时或者同时工作;/n图像监测系统,用于采集接收特定形状的检测光源的光束在细棒表面所形成的聚焦图型的反射,通过比对检测光源的特定形状的图像和细棒表面形成的图型的大小、方向、像素、清晰度获得检测结果;/n所述检测光源的光束、或者经过整形模板后带有特定的具有方向特性的形状。/n
【技术特征摘要】
20210423 CN 20211044559321.一种细棒物体吸阻成型机用激光聚焦检测装置,用于检测激光打孔装置的打孔状态,其特征在于:包括:
检测光路,所述检测光路与激光打孔光路由合束镜合束后重叠照射至细棒物
体表面,检测光路与激光打孔光路为分时或者同时工作;
图像监测系统,用于采集接收特定形状的检测光源的光束在细棒表面所形成的聚焦图型的反射,通过比对检测光源的特定形状的图像和细棒表面形成的图型的大小、方向、像素、清晰度获得检测结果;
所述检测光源的光束、或者经过整形模板后带有特定的具有方向特性的形状。
2.根据权利要求1所述的细棒物体吸阻成型机用激光聚焦检测装置,其特征在于:检测光路包括:发散光束的检测光源或者经过凹透镜形成的检测光源的光束具有、或者通过整形板后形成具有方向特性形状的光线、经过凸透镜形成平行/非平行光束、经过聚焦镜聚焦后照射在物体表面会形成一个特定形状的聚焦图型;
当细棒物体表面与聚焦镜之间距离等于焦距时,所述特定形状的聚焦图型为一个聚焦点,所述检测光源位于凸透镜一侧的焦点位置、细棒表面聚焦图案位于聚焦透镜一侧的焦点位置,检测光源与聚焦图案之间形成共轭;
当细棒物体表面与聚焦镜之间距离不等于焦距时,通过可调凸透镜的平行移动,仍然使得检测光源与聚焦图案之间形成共轭;
半反半透镜,用于透射一定比例的特定形状的光束或者反射一定比例的特定形状的光束。
3.根据权利要求2所述的细棒物体吸阻成型机用激光聚焦检测装置,其特征在于:所述凸透镜为可调透镜,采用手动或者自动调节凸透镜的平移位置。
4.根据权利要求1所述的细棒物体吸阻成型机用激光聚焦检测装置,其特征在于:图像监测系统包括:图像传感器,包括CCD相机、聚焦阵列,用于接收半反半透镜反射或者透射的光束以实现采集特定形状光束在细棒表面形成的聚焦图型,该聚焦图形的大小、方向、像素与细棒物体表面与聚焦镜之间的距离、聚焦镜的焦距相关;
当细棒物体表面与聚焦镜之间距离等于焦距时,特定形状的聚焦图型为一个聚焦点;
当细棒物体表面与聚焦镜之间距离小于焦距时,特定形状的聚焦图型为一个与入射形状的同侧聚焦图像;
当细棒物体表面与聚焦镜之间距离大于焦距时,特定形状的聚焦图型为一个与入射形状的异侧聚焦图像。
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【专利技术属性】
技术研发人员:梅林,梅笑雨,
申请(专利权)人:南京英伟思特科技发展有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏;32
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