【技术实现步骤摘要】
一种足长测量仪
本技术涉及足长测量仪领域，特别涉及一种足长测量仪。
技术介绍
足长测量是将被测足长度与已知长度比较，从而得出测量结果，足长是指最长脚趾顶点到脚后跟突点间的水平直线距离，由于直接量会出现很大的误差，因此需要使用白纸，把脚踩在白纸上，沿着脚用笔在白纸上画出脚的四周，或者在脚的前端和后端分别做标记，根据所画的脚图测量长度，便是脚长。现有技术中，由于直接测量足长得到的误差较大，因此在测量足部长度时，均是通过白纸辅助来进行测量，不仅使得测量更加繁杂，而且由于测量角度等不同的掌控导致测量的误差依旧较大，降低足长测量的精确度，因此需要一种足长测量仪。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种足长测量仪，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种足长测量仪，包括测量底座，所述测量底座顶部的中间位置转动设有第一齿轮，所述第一齿轮外壁的两端均啮合设有第一齿条，两个所述第一齿条的一端均固定设有测量板，所述测量底座顶部两侧的两端均开设有滑槽，两个所述测量板底部的两端均固...
【技术保护点】
1.一种足长测量仪，包括测量底座（1），其特征在于，所述测量底座（1）顶部的中间位置转动设有第一齿轮（2），所述第一齿轮（2）外壁的两端均啮合设有第一齿条（6），两个所述第一齿条（6）的一端均固定设有测量板（4），所述测量底座（1）顶部两侧的两端均开设有滑槽（3），两个所述测量板（4）底部的两端均固定设有滑块，四个所述滑块分别与四个滑槽（3）滑动连接，所述第一齿轮（2）顶部的中间位置固定设有定位轴（9），所述定位轴（9）的顶端固定设有第二齿轮（10），所述第二齿轮（10）外壁的一端啮合设有第二齿条（16），所述第二齿条（16）的顶端固定设有底板（15）。/n
【技术特征摘要】
1.一种足长测量仪，包括测量底座（1），其特征在于，所述测量底座（1）顶部的中间位置转动设有第一齿轮（2），所述第一齿轮（2）外壁的两端均啮合设有第一齿条（6），两个所述第一齿条（6）的一端均固定设有测量板（4），所述测量底座（1）顶部两侧的两端均开设有滑槽（3），两个所述测量板（4）底部的两端均固定设有滑块，四个所述滑块分别与四个滑槽（3）滑动连接，所述第一齿轮（2）顶部的中间位置固定设有定位轴（9），所述定位轴（9）的顶端固定设有第二齿轮（10），所述第二齿轮（10）外壁的一端啮合设有第二齿条（16），所述第二齿条（16）的顶端固定设有底板（15）。
2.根据权利要求1所述的一种足长测量仪，其特征在于，所述底板（15）底部中间位置的一端固定设有定位杆（17），所述定位杆（17）一侧的一端与第二齿轮（10）外壁的另一端接触。
3.根据权利要求1所述的一种足长测量仪，其特征在于，所述测...
【专利技术属性】
技术研发人员：魏文杰，
申请(专利权)人：深圳市易诺华信息技术有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44
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