针脚式电子器件属性值快速测试器制造技术

本发明专利技术属于微电子领域技术领域，尤其是针脚式电子器件属性值快速测试器，包括壳体，所述壳体的顶端设置有顶块，且顶块四周均为倾斜面，所述顶块的顶端设置的放置端，且放置端包括开设于顶块的检测条槽，所述检测条槽的两端均固定安装有探点块，且探点块顶端均开设有探点槽，所述顶块的两侧安装有提拉机构，所述壳体的内部固定安装有检测组件，且检测组件由电容检测模块、电感检测模块以及电阻检测模块组成，所述壳体内部靠近检测组件的一侧固定安装有中央处理器。本发明专利技术通过设置的水冷机构，能够利用半导体制冷器配合冷却液、水冷管的水冷作用，对中央处理器以及检测组件进行有效的降温处理，以避免其发生过热现象。

【技术实现步骤摘要】
针脚式电子器件属性值快速测试器
本专利技术涉及微电子领域
，尤其涉及针脚式电子器件属性值快速测试器。
技术介绍
微电子技术是随着集成电路，尤其是超大型规模集成电路而发展起来的一门新的技术。微电子技术包括系统电路设计、器件物理、工艺技术、材料制备、自动测试以及封装、组装等一系列专门的技术，微电子技术是微电子学中的各项工艺技术的总和。微电子技术的关键在于研究集成电路的工作方式以及如何实际制造应用。集成电路的发展依赖于半导体器件的不断演化。微电子技术可在纳米级超小的区域内通过固体内的微观电子运动来实现信息的处理与传递，并且有着很好的集成性。现在无相应的针脚电子器件快速测试装置，需要通过记忆电阻本体色环、电抗器电容器本体数值来区分值得大小或通过查阅相关技术资料得到，对于色环不清晰，或大量使用时带来诸多不便。经检索，中国专利申请号为CN2018111537028的专利，公开了一种电力电子器件测试装置，包括电源模块、系统控制单元、阻抗测试单元、低压测试单元、触发回报单元、输出控制单元、采样单元和外设。电源模块与外部交流电连接为装置提供电源，系本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.针脚式电子器件属性值快速测试器，包括壳体(1)，所述壳体(1)的顶端设置有顶块(11)，且顶块(11)四周均为倾斜面，其特征在于，所述顶块(11)的顶端设置的放置端，且放置端包括开设于顶块(11)的检测条槽(8)，所述检测条槽(8)的两端均固定安装有探点块(9)，且探点块(9)顶端均开设有探点槽(15)，所述顶块(11)的两侧安装有提拉机构，所述壳体(1)的内部固定安装有检测组件(26)，且检测组件(26)由电容检测模块(27)、电感检测模块(28)以及电阻检测模块(29)组成，所述壳体(1)内部靠近检测组件(26)的一侧固定安装有中央处理器(17)，所述壳体(1)的一侧外壁固定安装有冷却...

【技术特征摘要】
1.针脚式电子器件属性值快速测试器，包括壳体(1)，所述壳体(1)的顶端设置有顶块(11)，且顶块(11)四周均为倾斜面，其特征在于，所述顶块(11)的顶端设置的放置端，且放置端包括开设于顶块(11)的检测条槽(8)，所述检测条槽(8)的两端均固定安装有探点块(9)，且探点块(9)顶端均开设有探点槽(15)，所述顶块(11)的两侧安装有提拉机构，所述壳体(1)的内部固定安装有检测组件(26)，且检测组件(26)由电容检测模块(27)、电感检测模块(28)以及电阻检测模块(29)组成，所述壳体(1)内部靠近检测组件(26)的一侧固定安装有中央处理器(17)，所述壳体(1)的一侧外壁固定安装有冷却机构(6)，所述壳体(1)靠近冷却机构(6)的一侧安装设置有显示屏(4)。


2.根据权利要求1所述的针脚式电子器件属性值快速测试器，其特征在于，所述冷却机构(6)包括通过固定安装于壳体(1)一侧的冷却侧盒(18)，且冷却侧盒(18)的一侧开设有安装槽口，所述安装槽口的内壁固定安装有半导体制冷器(16)，且半导体制冷器(16)的制冷端靠近冷却侧盒(18)的内部。


3.根据权利要求2所述的针脚式电子器件属性值快速测试器，其特征在于，所述冷却侧盒(18)靠近半导体制冷器(16)的一侧固定安装有隔板(20)，且隔板(20)的剖面为C形结构，所述冷却侧盒(18)靠近端部的两侧分别固定安装有隔片(22)，且隔片(22)与冷却侧盒(18)构成冷却腔，所述冷却腔的内部填充有冷却液。


4.根据权利要求3所述的针脚式电子器件属性值快速测试器，其特征在于，位于顶端所述隔片(22)的一侧固定安装有微型泵(19)，且微型泵(19)的输入端固定连接有螺旋管(21)，所述螺旋管(21)的外壁开设有等距离分布的...

【专利技术属性】
技术研发人员：田川，
申请(专利权)人：国网山东省电力公司淄博供电公司，
类型：发明
国别省市：山东;37