【技术实现步骤摘要】
一种衍射型硅光加速度传感器制备工艺及得到的传感器
本申请属于光子传感器
,尤其是涉及一种衍射型硅光加速度传感器制备工艺及得到的传感器
技术介绍
目前,微机电(MEMS)加速度计通常是电容式,但电容式加速度计具有低灵敏度、高功耗、温度依赖性高和高交叉敏感性的缺点,并且无法对电磁干扰免疫,因此不适合作为卫星等航空航天应用。而光学MEMS传感器经常用于工业过程,航空航天和军事应用,光学MEMS传感器对电磁干扰免疫性强,能够适应高温等危险环境应用场景。KazemZandi等在论文《DesignandDemonstrationofanIn-PlaneSilicon-on-InsulatorOpticalMEMSFabry–Pérot-BasedAccelerometerIntegratedWithChannelWaveguides》公开了一种传感器,如图1所示,其需要使用左右两个质量块,导致结构复杂,且在加工过程中两个质量块容易因为加工误差产生质心偏移。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问 ...
【技术保护点】
1.一种衍射型硅光加速度传感器制备工艺,其特征在于,包括以下步骤:/nS1:取一SOI晶片,所述SOI晶片包括基层(12)、顶层(11)和位于基层(12)与顶层(11)之间的氧化层(13);/nS2:在顶层(11)表面涂覆光刻胶(14),刻蚀形成质量块(3)、弹性连接结构(7)和固定锚(2),同时在质量块(3)上刻蚀形成布拉格反射镜(6),在顶层(11)上刻蚀形成波导块(4)和布拉格反射镜阵列(5);/nS4:在基层(12)底面涂覆光刻胶进行刻蚀,去除与质量块(3)、弹性连接结构(7)对应部分的基层(12),保留与固定锚(2)相连接的部分;/nS5:释放氧化层(13)使上腔 ...
【技术特征摘要】
1.一种衍射型硅光加速度传感器制备工艺,其特征在于,包括以下步骤:
S1:取一SOI晶片,所述SOI晶片包括基层(12)、顶层(11)和位于基层(12)与顶层(11)之间的氧化层(13);
S2:在顶层(11)表面涂覆光刻胶(14),刻蚀形成质量块(3)、弹性连接结构(7)和固定锚(2),同时在质量块(3)上刻蚀形成布拉格反射镜(6),在顶层(11)上刻蚀形成波导块(4)和布拉格反射镜阵列(5);
S4:在基层(12)底面涂覆光刻胶进行刻蚀,去除与质量块(3)、弹性连接结构(7)对应部分的基层(12),保留与固定锚(2)相连接的部分;
S5:释放氧化层(13)使上腔体和下腔体联通形成腔体;
S6:安装光纤(9)并封装形成衍射型硅光加速度传感器。
2.根据权利要求1所述的衍射型硅光加速度传感器制备工艺,其特征在于,所述基层(12)形成基底硅基材料(1)并且所述固定锚(2)为成型在基底硅基材料(1)顶部四角的凸块。
3.根据权利要求1所述的衍射型硅光加速度传感器制备工艺,其特征在于,通过刻蚀工艺将所述弹性连接结构(7)成型为弹簧形,且4个所述弹性连接结构(7)呈中心对称设置,中心对称点与质量块(3)的质心共点。
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【专利技术属性】
技术研发人员:刘晓海,俞童,
申请(专利权)人:欧梯恩智能科技苏州有限公司,
类型:发明
国别省市:江苏;32
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