一种均压电极垢样检测及去除装置和方法制造方法及图纸

本申请提供的均压电极垢样检测及去除装置和方法，装置包括阻隔门、第一导轨、第一固定杆、固定座、第一激光测距装置、第一伸缩杆、旋转抱箍、力学传感器、第一伸缩杆固定装置、超声波清洗装置、第二导轨、第二激光测距装置、第二伸缩杆固定装置、第二固定杆和第二伸缩杆，阻隔门下有第一导轨、第二导轨、固定座、旋转抱箍和超声波清洗装置，第一导轨上有第一激光测距装置，第二导轨上有第二激光测距装置，固定座与第一固定杆、第二固定杆连接，第一固定杆与第一导轨连接，第二固定杆与第二导轨连接，旋转抱箍上有力学传感器，旋转抱箍与第一伸缩杆、第二伸缩杆连接，第一伸缩杆与第一伸缩杆固定装置连接，第二伸缩杆与第二伸缩杆固定装置连接。

【技术实现步骤摘要】
一种均压电极垢样检测及去除装置和方法
本申请涉及电极除垢
，尤其涉及一种均压电极垢样检测及去除装置和方法。
技术介绍
换流阀是直流输电工程的关键设备，晶阀管是换流阀的组成部件之一，在工作时，晶阀管会发热，晶阀管温度过高，可能造成换流阀的其他组成部件损坏，进而造成换流阀损坏。为避免晶阀管温度过高导致的换流阀损坏，通常设置阀冷系统对换流阀进行冷却来确保换流阀正常工作。阀冷系统包括外冷水系统和内冷水系统，内冷水系统安装有均压电极。换流阀的金属组成部件之间电位不同，且换流阀的金属组成部件均与内冷水系统中的冷却水直接接触，会造成换流阀中的金属组成部件的腐蚀。换流阀中的金属组成部件腐蚀生成的腐蚀产物会随着内冷水系统中的冷却水移动至均压电极，形成包裹在均压电极外层的垢。均压电极外层的垢沉积会造成内冷水系统的堵塞，降低内冷水系统对换流阀的冷却作用，从而造成换流阀的损坏，均压电极外层的垢沉积的厚度不均匀，在均压电极的安装孔附近较薄，当均压电极的安装孔附近的电流密度变大到一定程度后，会电解出能融解均压电极的密封圈的产物，从而使均压电极的密封圈的密封能力丧失，造成内冷水系统中的冷却水泄漏。为了去除包裹在均压电极外层的垢，相关技术采用定期检修清洗的方式去垢，即拆除电极后由工作人员利用机械的方式手动刮除均压电极外层的垢。然而，采用上述去除包裹在均压电极外层的垢的方法，当手动刮除均压电极外层的垢时，工作人员用力太大容易造成均压电极的损坏，且均压电极外层的垢存在残留，去除均压电极外层的垢的效果较差。专利技术内容本申请提供了一种均压电极垢样检测及去除装置和方法，以解决当手动刮除均压电极外层的垢时，工作人员用力太大容易造成均压电极的损坏和去除均压电极外层的垢的效果较差的技术问题。为了解决上述技术问题，本申请实施例公开了如下技术方案：第一方面，本申请实施例公开了一种均压电极垢样检测及去除装置，包括阻隔门、第一导轨、第一固定杆、固定座、第一激光测距装置、第一伸缩杆、旋转抱箍、力学传感器、第一伸缩杆固定装置、超声波清洗装置、第二导轨、第二激光测距装置、第二伸缩杆固定装置、第二固定杆和第二伸缩杆，其中，阻隔门的正下方设置有固定座、旋转抱箍和超声波清洗装置，固定座的正下方设置有旋转抱箍和超声波清洗装置，旋转抱箍的正下方设置有超声波清洗装置，阻隔门、固定座、旋转抱箍和超声波清洗装置在一条竖直线上，阻隔门的左下方设置有第二导轨，阻隔门的右下方设置有第一导轨，第二导轨与第一导轨相同，且第二导轨与第一导轨位置对称；固定座左侧与第二固定杆相连接，固定座右侧与第一固定杆相连接，第二固定杆与第二导轨相连接，第一固定杆与第一导轨相连接；旋转抱箍上设置有力学传感器，旋转抱箍左侧与第二伸缩杆相连接，旋转抱箍右侧与第一伸缩杆相连接，第二伸缩杆与第二伸缩杆固定装置相连接，第一伸缩杆与第一伸缩杆固定装置相连接；第一激光测距装置设置在第一导轨上，第一激光测距装置位于第一导轨与第一固定杆连接处的下方，第一激光测距装置位于第一伸缩杆与第一伸缩杆固定装置连接处的上方，第二激光测距装置设置在第二导轨上，第二激光测距装置位于第二导轨与第二固定杆连接处的下方，第二激光测距装置位于第二伸缩杆与第二伸缩杆固定装置连接处的上方，第一激光测距装置与第二激光测距装置相同，第一激光测距装置与第二激光测距装置位置对称。可选的，超声波清洗装置上设置有清洗液入口和清洗液出口，清洗液入口与清洗液注入管相连通，清洗液出口与清洗液排出管相连通。可选的，第一导轨下方设置有第一凹槽，第一凹槽的大小与第一伸缩杆固定装置的大小相匹配，第一凹槽的位置与第一伸缩杆固定装置的位置相匹配，第一凹槽的形状与第一伸缩杆固定装置的形状相匹配。可选的，第一凹槽内设置有第一伸缩装置，第一伸缩装置与第一伸缩杆固定装置相连接。可选的，第二导轨下方设置有第二凹槽，第二凹槽的大小与第二伸缩杆固定装置的大小相匹配，第二凹槽的位置与第二伸缩杆固定装置的位置相匹配，第二凹槽的形状与第二伸缩杆固定装置的形状相匹配。可选的，第二凹槽内设置有第二伸缩装置，第二伸缩装置与第二伸缩杆固定装置相连接。可选的，旋转抱箍内层材料为金属铜。第二方面，本申请实施例公开了一种均压电极垢样检测及去除方法，包括开启阻隔门，将外层带有垢的均压电极固定到固定座上后，同时开启第一导轨、第二导轨、第一激光测距装置和第二激光测距装置；第一导轨和第二导轨带动外层带有垢的均压电极向正下方移动至第一激光测距装置和第二激光测距装置之间，第一激光测距装置和第二激光测距装置分别检测与外层带有垢的均压电极的距离；外层带有垢的均压电极向下方移动至旋转抱箍中，外层带有垢的均压电极沿水平方向360°旋转；外层带有垢的均压电极向下方移动至超声波清洗装置内，超声波清洗装置开启并清洗外层带有垢的均压电极；第一导轨和第二导轨带动外层带有垢的均压电极向上方移动至原位后向下方移动至第一激光测距装置和第二激光测距装置之间，第一激光测距装置和第二激光测距装置分别检测与外层带有垢的均压电极的距离，同时关闭第一导轨、第二导轨、第一激光测距装置和第二激光测距装置。可选的，在开启阻隔门，将外层带有垢的均压电极固定到固定座上后，同时开启第一导轨、第二导轨、第一激光测距装置和第二激光测距装置前，还包括：第一次测量外层带有垢的均压电极的质量，将测得的外层带有垢的均压电极的质量作为第一质量。可选的，在同时关闭第一导轨、第二导轨、第一激光测距装置和第二激光测距装置后，还包括：从固定座取下外层带有垢的均压电极后，关闭阻隔门，第二次测量外层带有垢的均压电极的质量，将测得的外层带有垢的均压电极的质量作为第二质量，并将第二质量与第一质量之差作为第三质量。本申请的有益效果为：本申请实施例提供的均压电极垢样检测及去除装置和方法，装置包括阻隔门、第一导轨、第一固定杆、固定座、第一激光测距装置、第一伸缩杆、旋转抱箍、力学传感器、第一伸缩杆固定装置、超声波清洗装置、第二导轨、第二激光测距装置、第二伸缩杆固定装置、第二固定杆和第二伸缩杆。阻隔门的正下方设置有固定座、旋转抱箍和超声波清洗装置，固定座的正下方设置有旋转抱箍和超声波清洗装置，旋转抱箍的正下方设置有超声波清洗装置，阻隔门、固定座、旋转抱箍和超声波清洗装置在一条竖直线上，阻隔门的左下方设置有第二导轨，阻隔门的右下方设置有第一导轨，第二导轨与第一导轨相同，且第二导轨与第一导轨位置对称。固定座左侧与第二固定杆相连接，固定座右侧与第一固定杆相连接，第二固定杆与第二导轨相连接，第一固定杆与第一导轨相连接。旋转抱箍上设置有力学传感器，旋转抱箍左侧与第二伸缩杆相连接，旋转抱箍右侧与第一伸缩杆相连接，第二伸缩杆与第二伸缩杆固定装置相连接，第一伸缩杆与第一伸缩杆固定装置相连接。第一激光测距装置设置在第一导轨上，第一激光测距装置位于第一导轨与第一固定杆连接处的下方，第一激光测距装置位于第一伸缩杆与第一伸缩杆固定装置连接处的上方，第二激光本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种均压电极垢样检测及去除装置，其特征在于，包括：阻隔门(1)、第一导轨(2)、第一固定杆(3)、固定座(4)、第一激光测距装置(5)、第一伸缩杆(6)、旋转抱箍(7)、力学传感器(8)、第一伸缩杆固定装置(9)、超声波清洗装置(10)、第二导轨(15)、第二激光测距装置(16)、第二伸缩杆固定装置(17)、第二固定杆(18)和第二伸缩杆(19)，其中，/n所述阻隔门(1)的正下方设置有所述固定座(4)、所述旋转抱箍(7)和所述超声波清洗装置(10)，所述固定座(4)的正下方设置有所述旋转抱箍(7)和所述超声波清洗装置(10)，所述旋转抱箍(7)的正下方设置有所述超声波清洗装置(10)，所述阻隔门(1)、所述固定座(4)、所述旋转抱箍(7)和所述超声波清洗装置(10)在一条竖直线上，所述阻隔门(1)的左下方设置有所述第二导轨(15)，所述阻隔门(1)的右下方设置有所述第一导轨(2)，所述第二导轨(15)与所述第一导轨(2)相同，且所述第二导轨(15)与所述第一导轨(2)位置对称；/n所述固定座(4)左侧与所述第二固定杆(18)相连接，所述固定座(4)右侧与所述第一固定杆(3)相连接，所述第二固定杆(18)与所述第二导轨(15)相连接，所述第一固定杆(3)与所述第一导轨(2)相连接；/n所述旋转抱箍(7)上设置有所述力学传感器(8)，所述旋转抱箍(7)左侧与所述第二伸缩杆(19)相连接，所述旋转抱箍(7)右侧与所述第一伸缩杆(6)相连接，所述第二伸缩杆(19)与所述第二伸缩杆固定装置(17)相连接，所述第一伸缩杆(6)与所述第一伸缩杆固定装置(9)相连接；/n所述第一激光测距装置(5)设置在所述第一导轨(2)上，所述第一激光测距装置(5)位于所述第一导轨(2)与所述第一固定杆(3)连接处的下方，所述第一激光测距装置(5)位于所述第一伸缩杆(6)与所述第一伸缩杆固定装置(9)连接处的上方，所述第二激光测距装置(16)设置在所述第二导轨(15)上，所述第二激光测距装置(16)位于所述第二导轨(15)与所述第二固定杆(18)连接处的下方，所述第二激光测距装置(16)位于所述第二伸缩杆(19)与所述第二伸缩杆固定装置(17)连接处的上方，所述第一激光测距装置(5)与所述第二激光测距装置(16)相同，所述第一激光测距装置(5)与所述第二激光测距装置(16)位置对称。/n...

【技术特征摘要】
1.一种均压电极垢样检测及去除装置，其特征在于，包括：阻隔门(1)、第一导轨(2)、第一固定杆(3)、固定座(4)、第一激光测距装置(5)、第一伸缩杆(6)、旋转抱箍(7)、力学传感器(8)、第一伸缩杆固定装置(9)、超声波清洗装置(10)、第二导轨(15)、第二激光测距装置(16)、第二伸缩杆固定装置(17)、第二固定杆(18)和第二伸缩杆(19)，其中，
所述阻隔门(1)的正下方设置有所述固定座(4)、所述旋转抱箍(7)和所述超声波清洗装置(10)，所述固定座(4)的正下方设置有所述旋转抱箍(7)和所述超声波清洗装置(10)，所述旋转抱箍(7)的正下方设置有所述超声波清洗装置(10)，所述阻隔门(1)、所述固定座(4)、所述旋转抱箍(7)和所述超声波清洗装置(10)在一条竖直线上，所述阻隔门(1)的左下方设置有所述第二导轨(15)，所述阻隔门(1)的右下方设置有所述第一导轨(2)，所述第二导轨(15)与所述第一导轨(2)相同，且所述第二导轨(15)与所述第一导轨(2)位置对称；
所述固定座(4)左侧与所述第二固定杆(18)相连接，所述固定座(4)右侧与所述第一固定杆(3)相连接，所述第二固定杆(18)与所述第二导轨(15)相连接，所述第一固定杆(3)与所述第一导轨(2)相连接；
所述旋转抱箍(7)上设置有所述力学传感器(8)，所述旋转抱箍(7)左侧与所述第二伸缩杆(19)相连接，所述旋转抱箍(7)右侧与所述第一伸缩杆(6)相连接，所述第二伸缩杆(19)与所述第二伸缩杆固定装置(17)相连接，所述第一伸缩杆(6)与所述第一伸缩杆固定装置(9)相连接；
所述第一激光测距装置(5)设置在所述第一导轨(2)上，所述第一激光测距装置(5)位于所述第一导轨(2)与所述第一固定杆(3)连接处的下方，所述第一激光测距装置(5)位于所述第一伸缩杆(6)与所述第一伸缩杆固定装置(9)连接处的上方，所述第二激光测距装置(16)设置在所述第二导轨(15)上，所述第二激光测距装置(16)位于所述第二导轨(15)与所述第二固定杆(18)连接处的下方，所述第二激光测距装置(16)位于所述第二伸缩杆(19)与所述第二伸缩杆固定装置(17)连接处的上方，所述第一激光测距装置(5)与所述第二激光测距装置(16)相同，所述第一激光测距装置(5)与所述第二激光测距装置(16)位置对称。


2.根据权利要求1所述的均压电极垢样检测及去除装置，其特征在于，所述超声波清洗装置(10)上设置有清洗液入口(11)和清洗液出口(12)，所述清洗液入口(11)与清洗液注入管(13)相连通，所述清洗液出口(12)与清洗液排出管(14)相连通。


3.根据权利要求1所述的均压电极垢样检测及去除装置，其特征在于，所述第一导轨(2)下方设置有第一凹槽，所述第一凹槽的大小与所述第一伸缩杆固定装置(9)的大小相匹配，所述第一凹槽的位置与所述第一伸缩杆固定装置(9...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋玉锋，郭新良，何运华，李宗红，刘荣海，杨迎春，邱方程，李寒煜，杨雪滢，孔旭晖，郑欣，虞鸿江，周静波，焦宗寒，陈国坤，许宏伟，程雪婷，代克顺，彭詠涛，张少杰，
申请(专利权)人：云南电网有限责任公司电力科学研究院，
类型：发明
国别省市：云南;53