一种智能断路器的测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种智能断路器的测试装置，包括智能断路器和测试装置，所述测试装置通过数据线与所述智能断路器电信号连接；所述测试装置包括外壳和设置在所述外壳内的主控板，所述主控板上设置有液晶屏、按键和对外接口；所述智能断路器包括主芯片MCU、电平转换器U10和快速脱扣电路。该实用新型专利技术的有益效果为当测试装置设置成快速脱扣模式时，只要将对外接口通过数据线与智能断路器相连，测试装置立即发出脱扣指令，使得智能断路器可以快速脱扣，这种方式非常适合车间大批量生产的快速脱扣检测。

【技术实现步骤摘要】
一种智能断路器的测试装置
本技术涉及低压电器领域，特别涉及一种智能断路器的测试装置。
技术介绍
目前电子式智能断路器应用越来越广泛，然而电子式断路器大部分还是旋钮型，即通过旋钮调整断路器的整定电流、过载长延时保护、短路短延时保护、短路瞬时保护、预报警等参数，同时控制器有一个测试口，测试口有两个探针，在探针处施加12V电源可以测试脱扣器是否脱扣。这种方式的断路器控制器存在两个问题：1、对于参数设定值，只能通过观察旋钮是否旋到指定档位来判定，但是一般旋钮具有十个档位，旋钮自身档位的质量问题导致参数设定值失败，以及旋钮与线路板的焊接问题导致的设定值失败，这种观察方式无法发现问题。2、测试口只能测试脱扣器，并非控制器发出的脱扣指令，而是外部12V电源直接加在了脱扣器上，使得脱扣器脱扣，但控制器自身是否存在问题不能判定。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术的不足，提供一种结构合理，成本低廉，切实有效的一种智能断路器的测试装置。本技术提供了一种智能断路器的测试装置，包括智能断路器和测试装置，所述测试装置通过数据线与所述智能断路器电信号连接；所述测试装置包括外壳和设置在所述外壳内的主控板，所述主控板上设置有液晶屏、按键和对外接口；所述智能断路器包括主芯片MCU、电平转换器U10和快速脱扣电路。较佳地，所述对外接口包括+12V针脚、G针脚和TX针脚，所述+12V针脚、G针脚与TX针脚分别通过数据线与智能断路器信号连接。较佳地，所述测试装置通过+12V针脚、G针脚与智能断路器电性连接。较佳地，所述测试装置通过TX针脚与智能断路器信号连接。较佳地，所述主芯片MCU的51管脚TX1与电平转换器U10的1脚相连接，所述主芯片MCU的15管脚TTL_OE与电平转换器U10的6管脚OE相连接，所述电平转换器U10中的8管脚E_TX与对外端子的5脚相连接。较佳地，所述主芯片MCU的51脚通过电平转换器U10的1脚及8脚与对外端子的5脚相连接，对外端子的5脚通过数据线与智能断路器的控制器相连接。较佳地，所述主芯片MCU的14脚Quick与快速脱扣电路的R76前端Quick位置相连接，快速脱扣电路的R76与R77串联分压为三极管Q8基极提供基极电流，三极管Q8的集电极通过R78连接对外端子的5脚，三极管的Q8的发射极接地本技术的有益效果为：该智能断路器的测试装置，通过测试装置的液晶屏查询智能断路器中旋钮位置信息，保护参数，故障记录，通信参数等信息。当测试装置设置成快速脱扣模式时，只要将对外接口通过数据线与智能断路器相连，测试装置立即发出脱扣指令，使得智能断路器可以快速脱扣，这种方式非常适合车间大批量生产的快速脱扣检测。附图说明图1为测试装置与智能断路器的连接示意图；图2为主控板示意图；图3为主芯片控制电路；图4为对外通信控制电路；图5为快速脱扣控制电路。附图标记说明：1-智能断路器；2-测试装置；21外壳；22-主控板22；221-液晶屏；222-按键；223-对外接口；3-数据线。具体实施方式下面结合附图，对本技术的一个具体实施方式进行详细描述，但应当理解本技术的保护范围并不受具体实施方式的限制。如图1和图2所示，本技术实施例提供的一种智能断路器的测试装置，包括智能断路器1和测试装置2，所述测试装置2通过数据线3与所述智能断路器1电信号连接；所述测试装置2包括外壳21和设置在所述外壳21内的主控板22，所述主控板22上设置有液晶屏221、按键222和对外接口223；所述智能断路器1包括主芯片MCU、电平转换器U10和快速脱扣电路。本实施例中，所述对外接口223包括+12V针脚、G针脚和TX针脚，所述+12V针脚、G针脚与TX针脚分别通过数据线3与智能断路器1信号连接。本实施例中，所述测试装置2通过+12V针脚、G针脚与智能断路器1电性连接。本实施例中，所述测试装置2通过TX针脚与智能断路器1信号连接。本实施例中，所述主芯片MCU的51管脚TX1与电平转换器U10的1脚相连接，所述主芯片MCU的15管脚TTL_OE与电平转换器U10的6管脚OE相连接，所述电平转换器U10中的8管脚E_TX与对外端子的5脚相连接。本实施例中，所述主芯片MCU的51脚通过电平转换器U10的1脚及8脚与对外端子的5脚相连接，对外端子的5脚通过数据线3与智能断路器1的控制器相连接。本实施例中，所述主芯片MCU的14脚Quick与快速脱扣电路的R76前端Quick位置相连接，快速脱扣电路的R76与R77串联分压为三极管Q8基极提供基极电流，三极管Q8的集电极通过R78连接对外端子的5脚，三极管的Q8的发射极接地工作原理：该智能断路器的测试装置，通过测试装置的液晶屏221查询智能断路器中旋钮位置信息，保护参数，故障记录，通信参数等信息。当测试装置2设置成快速脱扣模式时，只要将对外接口223通过数据线3与智能断路器1相连，测试装置2立即发出脱扣指令，使得智能断路器1可以快速脱扣，这种方式非常适合车间大批量生产的快速脱扣检测。通信和快速脱扣的具体实现方式如下：如图3、图4和图5所示，主芯片MCU的51管脚TX1与电平转换器U10的1脚相连接，主芯片MCU的15管脚TTL_OE与电平转换器U10的6管脚OE相连接，电平转换器U10中的8管脚E_TX与对外端子的5脚相连接。其中将电平转换器U10视为一电子开关，当测试装置设置为通信模式时，主芯片MCU的15管脚输出高电平，电平转换器U10的6脚接收到主芯片MCU发出的高电平信号后，触发了电平转换器U10的开启状态，即主芯片MCU的51脚通过电平转换器U10的1脚及8脚与对外端子的5脚相连接，对外端子的5脚又通过数据线3与智能断路器1的控制器相连接，实现了智能断路器控制器与测试装置的通信。其中主芯片MCU的14脚Quick与快速脱扣电路的R76前端Quick位置相连接，R76与R77串联分压为三极管Q8基极提供基极电流，三极管Q8的集电极通过R78连接对外端子的5脚，三极管的Q8的发射极接地。三极管Q8视为一电子开关，当测试装置设置为快速脱扣模式时，主芯片MCU的14管脚quick输出高电平，主芯片MCU的6脚发出低电平信号。这时三极管Q8的基极得到高电平信号，三极管集电极和发射极导通，此时将对外接口223的E_TX与地接通，将E_TX拉至低电平。与此同时电平转换器U10的6脚接收到主芯片MCU发出的低电平信号后，触发了电平转换器U10的关闭状态，即主芯片MCU的51脚无法通过电平转换器U10的1脚及8脚与对外端子的5脚相连接，从而关闭了与智能断路器1的控制器与测试装置的通信功能。由于智能断路器1已经设计为在上电瞬间200ms内接收到E_TX为低电平信号时为快速脱扣指令，即执行脱扣命令。因此在此种条件下，测试装置完成了对本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种智能断路器的测试装置，其特征在于：包括智能断路器（1）和测试装置（2），所述测试装置（2）通过数据线（3）与所述智能断路器（1）电信号连接；/n所述测试装置（2）包括外壳（21）和设置在所述外壳（21）内的主控板（22），所述主控板（22）上设置有液晶屏（221）、按键（222）和对外接口（223）；/n所述智能断路器（1）包括主芯片MCU、电平转换器U10和快速脱扣电路。/n

【技术特征摘要】
1.一种智能断路器的测试装置，其特征在于：包括智能断路器（1）和测试装置（2），所述测试装置（2）通过数据线（3）与所述智能断路器（1）电信号连接；
所述测试装置（2）包括外壳（21）和设置在所述外壳（21）内的主控板（22），所述主控板（22）上设置有液晶屏（221）、按键（222）和对外接口（223）；
所述智能断路器（1）包括主芯片MCU、电平转换器U10和快速脱扣电路。


2.如权利要求1所述的一种智能断路器的测试装置，其特征在于，所述对外接口（223）包括+12V针脚、G针脚和TX针脚，所述+12V针脚、G针脚与TX针脚分别通过数据线（3）与智能断路器（1）信号连接。


3.如权利要求2所述的一种智能断路器的测试装置，其特征在于，所述测试装置（2）通过+12V针脚、G针脚与智能断路器（1）电性连接。


4.如权利要求2所述的一种智能断路器的测试装置，其特征在于，所述测试装置...

【专利技术属性】
技术研发人员：兰立民，李明波，
申请(专利权)人：天津众智创新科技有限公司，
类型：新型
国别省市：天津;12