光纤路径搜索方法、光纤路径搜索装置和程序制造方法及图纸

技术编号:29802898 阅读:18 留言:0更新日期:2021-08-24 18:25
本发明专利技术的目的在于提供光纤路径搜索方法、光纤路径搜索装置和程序,能够有效地确认遍及长距离或大范围布线的光纤的路径。本发明专利技术的光纤路径搜索方法一边在光纤布线并列、分支或交叉的部分(接近部)对光纤施加干扰,一边进行对光纤的状态进行分布性测定的光测量,并根据光测量的分布图将特异点(峰或强度变动)的数量发生变动的(成为多个的)场所判断为该接近部的场所。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】光纤路径搜索方法、光纤路径搜索装置和程序
本专利技术涉及搜索光纤通过的路径的光纤路径搜索方法、光纤路径搜索装置和程序。
技术介绍
光纤不仅用作通信介质,还用作光传感技术的传感器,在各种地方进行布线。特别是如果考虑不伴随有光耦合器等的分支(功率分配)的在光纤以外不使用其他器件的光纤传感器,则通信用光纤和光纤传感器以相同方式将光纤素线化、线缆化来进行布线。由于光纤的最大特征是低损耗的长距离光传输,因此在通信、传感器中的任意一种情况下都进行km级的长距离的布线。此外,在任意一种利用中,为了以面方式大范围地铺设光纤,以分支、环路、折返等各种形状进行布线。在以后的说明中,将通过光耦合器等使光纤分支记载为“功率分配”、将光纤、线缆的布线路径分支记载为“分支”来进行区分。在这种km级的在大范围布线的光纤的保养、传感中,广泛地利用使用光时域反射测定法(OTDR:OpticalTimeDomainReflectometry)的测量技术。此外,作为高分辨率的测定还具有光频域反射测定法(OFDR:OpticalFrequencyDomainReflectometry)等。均从光纤的一端射入光,利用其反射光对光纤的状态进行测定。此外,作为从两端测定的设备也具有光干涉仪、使用布里渊散射光的BOTDA(BrillouinOpticalTimeDomainAnalysis布里渊光时域分析仪)等。作为使用布里渊散射光的设备也具有在一端进行测定的BOTDR(BrillouinOpticalTimeDomainReflectometry布里渊光时域反射仪)。此外还存在对各种光纤的状态进行分布测定的技术。此外,按照这些技术,除了能够测定光损耗以外,还能够测定光纤的温度、变形、振动等物理状态。通过利用各种测定法测定这样的多种参数,使以km级大范围布线的光纤的保养、传感成为可能。非专利文献1示出了利用OTDR的振动测定的例子。现有技术文献非专利文献1:D.Iida,etal,“Distributedmeasurementofacousticvibrationlocationwithfrequencymultiplexedphase-OTDR,”OpticalFiberTechnol.,vol.36,pp19-25,2017这样以km级大范围布线的光纤的布线状态不可能持久地相同,始终存在布线的区域、对象物的变化。例如,如果是通信用的光纤,则由于利用者的原因而频繁地发生变更布线或结构的情况。此外,在传感中也有可能变更或移动该对象设备。在这种变更时需要适当地进行光纤布线的布线路径、通过点(设备)的变更管理,但是由于各种原因,有可能容易发生不能进行布线路径的数据的修正、或仅管理光纤的两端而不能掌握中途的变更状态的情况。如果想要准确地掌握光纤的布线路径,则需要从光纤的一端进行确认作业。在该作业时,例如,如果是不能目视的场所(通信光纤时为地下管路,传感时为构造物的内部等),则通过应用光传感对该部分施加干扰,能够确认光纤的存在。例如,如果敲击或改变温度等,则对不能目视的场所的光纤产生影响,因此能够利用光传感来确认光纤的存在。但是,通信光纤和传感光纤大多都以km级的长度进行布线。在这种情况下,从光纤的一端进行确认不仅效率非常差,而且由于其他原因有时不能进行确认。即,在光纤的检查作业中存在如下课题:不存在能够有效地确认遍及长距离或大范围布线的光纤的路径的方法。
技术实现思路
因此,鉴于上述课题,本专利技术的目的在于提供能够有效地确认遍及长距离或大范围布线的光纤的路径的光纤路径搜索方法、光纤路径搜索装置和程序。为了达成上述目的,本专利技术的光纤路径搜索方法一边在光纤布线并列、分支或交叉的部分(接近部)对光纤施加干扰,一边进行对光纤的状态进行分布性测定的光测量,并根据光测量的分布图将特异点(峰或强度变动)的数量发生变动的(成为多个的)场所判断为该接近部的场所。具体地说,本专利技术提供一种光纤路径搜索方法,确认光纤的路径,所述光纤以一根光纤至少具有一个与自身接近的接近部的方式配置于空间,所述光纤路径搜索方法进行:光测量工序,一边对所述光纤的任意部位施加干扰、一边向所述光纤射入测试光并对所述光纤的长度方向取得所述测试光的响应光的分布;特异点检测工序,检测由施加了所述干扰的所述光纤的位置引起的在所述响应光的分布中出现的特异点的数量的变化;以及判断工序,在所述特异点的数量发生变化时,判断为在施加了所述干扰的所述光纤的位置存在所述接近部,并且推定与所述接近部相连的所述光纤的配置。此外,本专利技术还提供一种光纤路径搜索装置,确认光纤的路径,所述光纤以一根光纤至少具有一个与自身接近的接近部的方式配置于空间,所述光纤路径搜索装置包括:测定数据输入部,一边对所述光纤的任意部位施加干扰、一边向所述光纤射入测试光并相对于所述光纤的长度方向的所述测试光的响应光的分布输入所述测定数据输入部;以及测定结果解析部,检测在输入到所述测定数据输入部的所述响应光的分布中出现的特异点的数量,在根据施加所述干扰的位置的变化而检测到所述特异点的数量的变化时,判断为在施加了所述干扰的所述光纤的位置存在所述接近部,并且推定与所述接近部相连的所述光纤的配置状况。在一根光纤配置于空间时,在对仅配置有一根光纤的区域施加干扰的情况下,在光测量的分布图中仅出现一个特异点。但是,在对通过折返等配置有多个光纤的区域(接近部)施加干扰的情况下,在光测量的分布图中出现多个特异点。即,在光测量的分布图中出现了多个特异点时,能够判断为在施加了干扰的场所存在多个光纤。此外,能够根据分布图上的特异点的位置关系,推定光纤以何种方式配置。因此,本专利技术能够提供能够有效地确认遍及长距离或大范围布线的光纤的路径的光纤路径搜索方法和光纤路径搜索装置。本专利技术的光纤路径搜索方法的特征在于,在数据库中存储的所述接近部的位置附近进行从所述光测量工序到所述判断工序,还进行校正工序,对在所述判断工序中判断的所述接近部的位置或所述光纤的配置与所述数据库中存储的所述接近部的位置或所述光纤的配置进行比较,校正所述数据库中存储的所述接近部的位置或所述光纤的配置。本专利技术的光纤路径搜索装置的特征在于还包括:布线列表输入部,数据库中存储的所述接近部的位置或所述光纤的配置输入所述布线列表输入部;以及校正部,对输入到所述布线列表输入部的所述接近部的位置或所述光纤的配置与所述测定结果解析部判断的所述接近部的位置或所述测定结果解析部推定的所述光纤的配置进行比较,校正输入到所述布线列表输入部的所述接近部的位置或所述光纤的配置。此外,本专利技术的光纤路径搜索装置可以还包括测定位置提示部,所述测定位置提示部基于输入到所述布线列表输入部的所述接近部的位置或所述光纤的配置,提示施加所述干扰的位置。对根据光测量的分布图推定的光纤的配置与数据库中存储的光纤的配置进行比较,如果两者存在差异,则通过对数据库中存储的光纤的配置进行修正,能够将光纤本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种光纤路径搜索方法,确认光纤的路径,所述光纤以一根光纤至少具有一个与自身接近的接近部的方式配置于空间,所述光纤路径搜索方法的特征在于进行:/n光测量工序,一边对所述光纤的任意部位施加干扰、一边向所述光纤射入测试光并对所述光纤的长度方向取得所述测试光的响应光的分布;/n特异点检测工序,检测由施加了所述干扰的所述光纤的位置引起的在所述响应光的分布中出现的特异点的数量的变化;以及/n判断工序,在所述特异点的数量发生变化时,判断为在施加了所述干扰的所述光纤的位置存在所述接近部,并且推定与所述接近部相连的所述光纤的配置。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20190201 JP 2019-0174251.一种光纤路径搜索方法,确认光纤的路径,所述光纤以一根光纤至少具有一个与自身接近的接近部的方式配置于空间,所述光纤路径搜索方法的特征在于进行:
光测量工序,一边对所述光纤的任意部位施加干扰、一边向所述光纤射入测试光并对所述光纤的长度方向取得所述测试光的响应光的分布;
特异点检测工序,检测由施加了所述干扰的所述光纤的位置引起的在所述响应光的分布中出现的特异点的数量的变化;以及
判断工序,在所述特异点的数量发生变化时,判断为在施加了所述干扰的所述光纤的位置存在所述接近部,并且推定与所述接近部相连的所述光纤的配置。


2.根据权利要求1所述的光纤路径搜索方法,其特征在于,
在数据库中存储的所述接近部的位置附近进行从所述光测量工序到所述判断工序,
还进行校正工序,对在所述判断工序中判断的所述接近部的位置或所述光纤的配置与所述数据库中存储的所述接近部的位置或所述光纤的配置进行比较,校正所述数据库中存储的所述接近部的位置或所述光纤的配置。


3.根据权利要求1所述的光纤路径搜索方法,其特征在于,在所述空间中,从在所述光测量工序中所述测试光射入的所述光纤的一端侧、向离开所述一端的方向,依次进行所述特异点检测工序和所述判断工序。


4.一种光纤路径搜索装置,确认光纤的路径,所述光纤以...

【专利技术属性】
技术研发人员:饭田大辅本田奈月冈本达也胁坂佳史押田博之
申请(专利权)人:日本电信电话株式会社
类型:发明
国别省市:日本;JP

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