检测面板线段瑕疵的设备及方法技术

本发明专利技术提供一种检测面板线段瑕疵的设备及方法。此设备包括影像撷取装置、样本储存装置以及处理装置，其中，处理装置从影像撷取装置接收其拍摄放置有待测面板的区域所得的初始影像并从初始影像中获取对应至待测面板的待测面板影像、从样本储存装置取得样本数据以将待测面板影像上对应于样本数据指定的样本线段位置处的影像设定为待测线段的影像，并通过执行神经网络分类程序以检查待测线段的影像以判断待测线段是否存在线段瑕疵。由此，能够减少因为人为检查标准不一而造成的面板品质问题。

【技术实现步骤摘要】
检测面板线段瑕疵的设备及方法
本专利技术有关于一种面板检测技术，特别有关于一种检测面板线段瑕疵的设备及方法。
技术介绍
在大尺寸面板十分盛行的现代社会中，如何确保面板品质无虑已经是在面板生产过程中非常重要的一环。在现有的技术中，许多的制造商利用人工检视面板的方法来确认面板的制造品质。然而，利用人工检视面板的方法不但耗时耗力，而且因为存在每个人主观认定不同的因素，所以非常可能存在检查标准不一的现象并最终造成面板品质起伏不定的不良结果。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的一个目的就是提供一种检测面板线段瑕疵的设备及方法，其可进行自动定位面板线段位置的操作，并可进一步将所定位出的面板线段的影像送到神经网络分类程序以由事先训练好的神经网络分类程序来判断此面板线段中是否存在瑕疵，由此减少因为人为检查标准不一而造成的面板品质问题。从一个角度来看，本专利技术的说明内容提供了一种检测面板线段瑕疵的设备，其适于确认待测面板上是否存在线段瑕疵。此设备包括影像撷取装置、样本储存装置以及处理装置。影像撷取装置拍摄放置有前述待测面板的区域以获取对应的初始影像。样本储存装置储存了包括样本线段位置的样本数据。处理装置电性连接至前述的影像撷取装置及样本储存装置，其中，处理装置从影像撷取装置接收初始影像并从初始影像中获取对应至待测面板的待测面板影像；另外，处理装置还从样本储存装置取得样本数据以将待测面板影像上对应于样本线段位置处的影像设定为待测线段的影像；而且，处理装置还执行神经网络分类程序以检查待测线段的影像而判断待测线段是否存在线段瑕疵。在一个实施例中，上述的处理装置将待测面板影像中包含待测线段的影像区块区分为多个影像子区块，并将每一个影像子区块作为神经网络分类程序的输入数据以使神经网络分类程序判断所输入的影像子区块包含的待测线段的部分是否存在线段瑕疵。在一个实施例中，当上述的神经网络分类程序判断所输入的影像子区块包含的待测线段的部分存在线段瑕疵时，处理装置回报此线段瑕疵的类型以及包含此线段瑕疵的影像子区块的位置。在一个实施例中，上述检测面板线段瑕疵的设备还包括照明装置以及多个封闭隔板，此照明装置与影像撷取装置设置于待测面板的相对两侧且向待测面板投射光线，这些封闭隔板组合后形成包围影像撷取装置、待测面板及照明装置的不透光区域。在一个实施例中，处理装置还从多张理想样本面板影像的每一者中找出至少一个既存线段、根据这些既存线段的位置而将这些既存线段分为多个位置群组，并将每一个位置群组中的至少一个既存线段的位置平均后的结果储存至样本储存装置以作为样本线段位置的一部分。从另一个角度来看，本专利技术的说明内容还提供了一种检测面板线段瑕疵的方法，其适于确认待测面板上是否存在线段瑕疵。此方法先拍摄待测面板以获得初始影像，并从初始影像中撷取对应至待测面板的待测面板影像；接着，通过先取得事先储存的样本数据，根据样本数据中包括的样本线段位置而将待测面板影像上对应于样本线段位置处的影像设定为待测线段的影像；最终再利用神经网络分类程序检查待测线段的影像以判断此待测线段是否存在线段瑕疵。在一个实施例中，上述利用神经网络分类程序检查待测线段的影像以判断此待测线段是否存在线段瑕疵的步骤，包括：将待测面板影像中包含待测线段的影像区块区分为多个影像子区块；以及将每一影像子区块作为神经网络分类程序的输入数据以使神经网络分类程序判断所输入的影像子区块包含的待测线段的部分是否存在线段瑕疵。在一个实施例中，当上述的神经网络程序判断所输入的影像子区块包含的待测线段的部分存在线段瑕疵时，还进一步回报此线段瑕疵的类型以及包含此线段瑕疵的影像子区块的位置。在一个实施例中，在拍摄待测面板以获得该初始影像之前还进行下列步骤：从多张理想样本面板影像的每一者中找出至少一个既存线段；根据所找到的既存线段的位置而将这些既存线段分为多个位置群组，其中每一个位置群组包括至少一个既存线段；将每一个位置群组中的既存线段的位置平均而获得对应的平均结果；以及将每一个平均结果储存为样本线段位置的一部分。在一个实施例中，上述的从多张理想样本面板影像的每一者中找出至少一个既存线段，包括：对每一张理想样本面板影像执行下列步骤，其中每一张理想样本面板影像包括多个像素，且每一张理想样本面板影像所在的平面由第一轴向及第二轴向扩展而成：将理想样本面板影像中的每一个像素的影像值转换为第一值或第二值；在此理想样本面板影像中，对于第一轴的每一个坐标值计算同样具有此第一轴坐标值的像素的影像值为第一值的第一计算数量，在此第一计算数量超过第一预设值时设定在此第一轴坐标值存在第一待整合线段，并使此第一待整合线段为上述的既存线段的一部分；以及，在此理想样本面板影像中，对于第二轴的每一个坐标值计算同样具有此第二轴坐标值的像素的影像值为第一值的第二计算数量，在此第二计算数量超过第二预设值时设定在此第二轴坐标值存在第二待整合线段，并使此第二待整合线段为上述既存线段的一部分。根据上述，本专利技术的说明内容所提供的检测面板线段瑕疵的设备及方法可以通过面板的影像来自动定位面板上要进行检测的面板线段的所在位置，并可进一步将所定位出的面板线段的影像送到神经网络分类程序以由事先训练完成的神经网络分类程序来判断此面板线段中是否存在瑕疵。由此，本专利技术所提供的技术不但可以降低判断瑕疵时所需耗费的人力，而且还可以减少因为人为检查标准不一而造成的面板品质不均的问题。附图说明图1为根据本专利技术一实施例的检测面板线段瑕疵的设备的外观示意图。图2为根据本专利技术一实施例的检测面板线段瑕疵的设备的电路方块图。图3为根据本专利技术一实施例的检测面板线段瑕疵的方法的流程图。图4A为根据本专利技术一实施例所使用的理想样本面板影像的示意图。图4B为图4A的X轴坐标及黑色像素数量的关系的长条图。图4C为图4A的Y轴坐标及黑色像素数量的关系的长条图。图5为根据本专利技术一实施例在建立样本数据时的流程图。图6为根据本专利技术一实施例所使用的将影像区块区分为多个影像子区块的示意图。图7为根据本专利技术一实施例的检测面板线段瑕疵的设备的外观示意图。其中，附图中符号的简单说明如下：10、70：检测面板线段瑕疵的设备；40：理想样本面板影像；60：待测面板影像；100：影像撷取装置；110：处理装置；115：神经网络分类程序；120：样本储存装置；125：样本数据；130：待测面板；140：照明装置；155：拍摄区域；400、402、404、406、410、412、414：既存线段；600、602、604、606、610、612、614：待测线段；602-1、602-2、602-N、612-1、612-2、612-M：影像子区块；700：封闭隔板；n：数量；S300～S308：本专利技术一实施例的施行步骤；S500～S510：本专利技术一实施例于建立样本数据时的施行步骤；X、Y：轴。具体实施方式请同时参照图1与图2，其中，图1为根据本专利技术一实施例的检测面板线段本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测面板线段瑕疵的设备，适于确认待测面板上是否存在线段瑕疵，该设备的特征在于包括：/n影像撷取装置，拍摄放置有该待测面板的区域以获取初始影像；/n样本储存装置，储存样本数据，该样本数据包括样本线段位置；以及/n处理装置，电性连接至该影像撷取装置及该样本储存装置，/n其中，该处理装置从该影像撷取装置接收该初始影像并从该初始影像中获取对应至该待测面板的待测面板影像，且该处理装置还从该样本储存装置取得该样本数据以将该待测面板影像上对应于该样本线段位置处的影像设定为待测线段的影像，/n其中，该处理装置执行神经网络分类程序以检查该待测线段的影像而判断该待测线段是否存在该线段瑕疵。/n

【技术特征摘要】
20210416 TW 1101137441.一种检测面板线段瑕疵的设备，适于确认待测面板上是否存在线段瑕疵，该设备的特征在于包括：
影像撷取装置，拍摄放置有该待测面板的区域以获取初始影像；
样本储存装置，储存样本数据，该样本数据包括样本线段位置；以及
处理装置，电性连接至该影像撷取装置及该样本储存装置，
其中，该处理装置从该影像撷取装置接收该初始影像并从该初始影像中获取对应至该待测面板的待测面板影像，且该处理装置还从该样本储存装置取得该样本数据以将该待测面板影像上对应于该样本线段位置处的影像设定为待测线段的影像，
其中，该处理装置执行神经网络分类程序以检查该待测线段的影像而判断该待测线段是否存在该线段瑕疵。


2.如权利要求1所述的设备，其中该处理装置将该待测面板影像中包含该待测线段的影像区块区分为多个影像子区块，并将每一该多个影像子区块作为该神经网络分类程序的输入数据以使该神经网络分类程序判断所输入的该影像子区块包含的该待测线段的部分是否存在该线段瑕疵。


3.如权利要求2所述的设备，其中当该神经网络分类程序判断所输入的该影像子区块包含的该待测线段的部分存在该线段瑕疵时，该处理装置回报该线段瑕疵的类型以及包含该线段瑕疵的该影像子区块的位置。


4.如权利要求1所述的设备，还包括照明装置以及多个封闭隔板，该照明装置与该影像撷取装置设置于该待测面板的相对两侧且向该待测面板投射光线，该多个封闭隔板组合后形成包围该影像撷取装置、该待测面板及该照明装置的不透光区域。


5.如权利要求1所述的设备，其中该处理装置还从多个理想样本面板影像中的每一该多个理想样本面板影像中找出至少一个既存线段、根据该至少一个既存线段的位置而将该至少一个既存线段分为多个位置群组，并将每一该多个位置群组中的该至少一个既存线段的位置平均后的结果储存至该样本储存装置以作为该样本线段位置的一部分。


6.一种检测面板线段瑕疵的方法，适于确认待测面板上是否存在线段瑕疵，该方法的特征在于包括：
拍摄该待测面板以获得初始影像；
从该初始影像中撷取对应至该待测面板的待测面板影像；
取得事先储存的样本数据，其中该样本数据包括样本线段位置；
根据该样本线段位置，将该待测面板影像上对应...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘帆，
申请(专利权)人：威盛电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71