一种可调式比色皿内径测量工装制造技术

本实用新型专利技术公开了一种可调式比色皿内径测量工装，包括工作平台，所述工作平台上设置有横向移动装置，所述横向移动装置上设置有纵向移动装置，所述纵向移动装置上设置有比色皿定位基板，所述工作平台上位于横向移动装置一侧设置有内径测量装置，所述横向移动装置包括设置在工作平台上的横向导轨，所述横向导轨上设置有可移动的横向移动滑块，所述横向移动滑块上设置有纵向移动装置。本实用新型专利技术的有益效果是，此比色皿内径测量工装结构简单、实用性强，且方便操作者进行操作，通过此检测工装，实现了对比色皿的批量检测，有效的提高了比色皿的检测精度，也提高了比色皿的检测效率，同时，也检测者的工作强度。

【技术实现步骤摘要】
一种可调式比色皿内径测量工装
本技术涉及比色皿检测
，特别是一种可调式比色皿内径测量工装。
技术介绍
比色皿是一种用于光谱分析的装备仪器，其主要是由石英粉烧制的石英比色皿，也有微量、半微量、荧光等，比色皿出现一般为长方体或圆柱体形状，在国外一般是一次性使用，在国内为了节约成本，开源节流而重复使用，测量工装主要用于产品的检验、检测以及判别产品是否合格等，是产品质量控制、质量评定、质量验证手段的一种补充,对绝大多数的空间尺寸和复杂形状的测量，用通用测量器具无法检测或检测复杂、检测量大、检测用时较长，为此，需要设计一种可调式比色皿内径测量工装。
技术实现思路
本技术的目的是为了解决上述问题，设计了一种可调式比色皿内径测量工装。实现上述目的本技术的技术方案为，一种可调式比色皿内径测量工装，包括工作平台，所述工作平台上设置有横向移动装置，所述横向移动装置上设置有纵向移动装置，所述纵向移动装置上设置有比色皿定位基板，所述工作平台上位于横向移动装置一侧设置有内径测量装置。作为本技术方案的进一步描述，所述横向移动装置包括设置在工作平台上的横向导轨，所述横向导轨上设置有可移动的横向移动滑块，所述横向移动滑块上设置有纵向移动装置。作为本技术方案的进一步描述，所述纵向移动装置包括设置在所述横向移动滑块上的纵向导轨，所述纵向导轨上设置有可移动的纵向移动滑块，所述纵向移动滑块上设置有比色皿定位基板。作为本技术方案的进一步描述，所述比色皿定位基板上中心位置设置有多个定位孔，所述比色皿定位基板一侧开设有若干个呈一定规律分布的比色皿定位槽，所述比色皿定位槽内设置有待测量比色皿。作为本技术方案的进一步描述，所述内径测量装置包括设置在工作平台上的调高螺栓，所述调高螺栓上设置有固定座，所述固定座上设置有卡板，所述固定座与所述卡板之间设置有测量仪，所述测量仪的输出端设置有测量探针。作为本技术方案的进一步描述，所述横向导轨的两端设置有限制横向移动滑块位置的横向限位柱。作为本技术方案的进一步描述，所述纵向导轨的两端设置有限制纵向移动滑块位置的纵向限位柱。其有益效果在于，本技术提供了可调式比色皿内径测量工装，此可调式比色皿内径测量工装包括工作平台，在工作平台上设置有横向移动装置，在横向移动装置上设置有纵向移动装置，在纵向移动装置上设置有比色皿定位基板，比色皿定位基板上开设有若干个呈一定规律分布的比色皿定位槽，对比色皿进行检测时，将多个比色皿依次放入比色皿定位槽内，通过操作横向移动装置和纵向移动装置控制比色皿定位基板的移动，进而使得比色皿定位基板上的比色皿被逐个测量，此比色皿内径测量工装结构简单、实用性强，且方便操作者进行操作，通过此检测工装，实现了对比色皿的批量检测，有效的提高了比色皿的检测精度，也提高了比色皿的检测效率，同时，也检测者的工作强度。附图说明图1是本技术的整体结构示意图；图2是本技术另一视角的整体结构示意图。图中，1、工作平台；2、横向移动装置；3、纵向移动装置；4、比色皿定位基板；5、内径测量装置；6、横向导轨；7、横向移动滑块；8、纵向导轨；9、纵向移动滑块；10、定位孔；11、比色皿定位槽；12、横向限位柱；13、纵向限位柱；14、调高螺栓；15、固定座；16、卡板；17、测量仪；18、测量探针。具体实施方式首先说明本技术的设计初衷，比色皿是一种用于光谱分析的装备仪器，其主要是由石英粉烧制的石英比色皿，也有微量、半微量、荧光等，测量工装主要用于产品的检验、检测以及判别产品是否合格等，是产品质量控制、质量评定、质量验证手段的一种补充,对绝大多数的空间尺寸和复杂形状的测量，用通用测量器具无法检测或检测复杂、检测量大、检测用时较长，为此，需要设计一种可调式比色皿内径测量工装。下面结合附图对本技术进行具体描述，如图1-图2所示，一种可调式比色皿内径测量工装，包括工作平台1，为了实现对比色皿位置的控制，在工作平台1上设置了横向移动装置2，在横向移动装置2设置了纵向移动装置3，在纵向移动装置3设置有比色皿定位基板4，比色皿放置在比色皿定位基板4上，为了实现对比色皿检测，在工作平台1上位于横向移动装置2一侧设置有内径测量装置5。横向移动装置2用于控制比色皿定位基板4在横向的移动，下面将详细说明横向移动装置2的具体结构，横向移动装置2包括设置在工作平台1上的横向导轨6，在横向导轨6上设置有可移动的横向移动滑块7，在横向移动滑块7上设置有纵向移动装置3，通过横向移动滑块7在横向导轨6上的横向移动，进一步带动比色皿定位基板4在横向的移动。为了控制横向移动滑块7的滑动位置，在横向导轨6的两端设置有限制横向移动滑块7位置的横向限位柱12，通过横向限位柱12对横向移动滑块7的滑动位置进行有效的限定。纵向移动装置3用于控制比色皿定位基板4在纵向的移动，下面将详细说明纵向移动装置3的具体结构，纵向移动装置3包括设置在横向移动滑块7上的纵向导轨8，且纵向导轨8上设置有可移动的纵向移动滑块9，纵向移动滑块9上设置有比色皿定位基板4，通过纵向滑块的移动，使得比色皿定位基板4在纵向移动。为了控制纵向移动滑块9的滑动位置，在纵向导轨8的两端设置有限制纵向移动滑块9位置的纵向限位柱13，通过纵向限位柱13对纵向移动滑块9的滑动位置进行有效的限定。为了实现对比色皿的批量测量，在比色皿定位基板4一侧开设有若干个呈一定规律分布的比色皿定位槽11，将多个比色皿依次放入比色皿定位槽11内，为了实现对比色皿定位基板4的固定，在比色皿定位基板4上中心位置设置有多个定位孔10，定位孔10内可通过螺钉将比色皿定位基板4固定在纵向移动滑块9上。内径测量装置5用于检测比色皿的内径，下面将详细说明内径测量装置5的具体结构，内径测量装置5包括设置在工作平台1上的调高螺栓14，在调高螺栓14上安装有固定座15，在固定座15上安装有卡板16，在固定座15与卡板16之间安装有测量仪17，测量仪17的输出端安装有测量探针18，通过测量探针18与比色皿的接触，实现对比色皿的测量。上面详细的说明了本技术的具体结构，下面将说明本技术的工作原理：使用此比色皿内径测量工装对比色皿进行内径测量时，首先准备比色皿内径测量工装和待测量的比色皿，检测前对比色皿内径测量工装进行初步调试，将待测量的比色皿依次放入比色皿定位基板4上的有比色皿定位槽11内，实现对待测量的比色皿进行放置定位，接着通过控制横向移动装置2和纵向移动装置3的移动，实现对比色皿定位基板4上的多个待检测比色皿进行依次测量，最后将测量后的比色皿转移至存放柜内，此比色皿内径测量工装结构简单、实用性强，且方便操作者进行操作，通过此检测工装，实现了对比色皿的批量检测，有效的提高了比色皿的检测精度，也提高了比色皿的检测效率，同时，也检测者的工作强度。上述技术方案仅体现了本技术技术方案的优选技术方案，本
的技术人员对其中某些部分所可能做出本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种可调式比色皿内径测量工装，其特征在于，包括工作平台(1)，所述工作平台(1)上设置有横向移动装置(2)，所述横向移动装置(2)上设置有纵向移动装置(3)，所述纵向移动装置(3)上设置有比色皿定位基板(4)，所述工作平台(1)上位于横向移动装置(2)一侧设置有内径测量装置(5)。/n

【技术特征摘要】
1.一种可调式比色皿内径测量工装，其特征在于，包括工作平台(1)，所述工作平台(1)上设置有横向移动装置(2)，所述横向移动装置(2)上设置有纵向移动装置(3)，所述纵向移动装置(3)上设置有比色皿定位基板(4)，所述工作平台(1)上位于横向移动装置(2)一侧设置有内径测量装置(5)。


2.根据权利要求1所述的一种可调式比色皿内径测量工装，其特征在于，所述横向移动装置(2)包括设置在工作平台(1)上的横向导轨(6)，所述横向导轨(6)上设置有可移动的横向移动滑块(7)，所述横向移动滑块(7)上设置有纵向移动装置(3)。


3.根据权利要求2所述的一种可调式比色皿内径测量工装，其特征在于，所述纵向移动装置(3)包括设置在所述横向移动滑块(7)上的纵向导轨(8)，所述纵向导轨(8)上设置有可移动的纵向移动滑块(9)，所述纵向移动滑块(9)上设置有比色皿定位基板(4)。


4.根据权利要求1所述的一种可调式比色皿内径测量工...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈嘉庆，欧仕明，徐科强，欧旭良，潘晓波，
申请(专利权)人：宜兴市晶科光学仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32