辐射检查系统及方法技术方案

本公开涉及一种辐射检查系统及方法。辐射检查系统包括：单射线源（10），具有多个加速管（13），所述多个加速管（13）分别产生多条具有不同能量的射线，且所述多个加速管（13）的出束方向包括至少两种不同的出束方向；多个探测器（30），被配置为探测所述单射线源（10）发出的射线作用于被检物（40）时的信号；和处理器（20），与所述单射线源（10）通讯连接，被配置为分别对所述多个加速管（13）进行控制。本公开实施例能够在满足多视角扫描的需求的同时，降低系统复杂度。

【技术实现步骤摘要】
辐射检查系统及方法
本公开涉及辐射检查领域，尤其涉及一种辐射检查系统及方法。
技术介绍
在一些相关技术中，集装箱/车辆检查系统包括单视角扫描系统和多视角扫描系统。单视角扫描系统是从被检物的一侧向被检物发出射线，产生一幅扫描图像，获得的扫描图像是射线经过被检物的路径上所有信息的叠加。多视角扫描系统是从被检物的几个不同方位向被检物发出射线，产生不同角度的扫描图像，以便获得更丰富的被检物信息，从而更容易找到违禁品。对于多视角扫描系统来说，一些相关技术采用多个射线源来分别以不同视角对被检物发出射线。另一些相关技术采用机械结构移动射线源来实现不同视角的射线发射。
技术实现思路
专利技术人经研究发现，相关技术中具有多个射线源的多视角扫描系统的部件多、总重量较大、成本较高，而采用机械结构移动射线源的多视角扫描系统在机械结构方面比较复杂。有鉴于此，本公开实施例提供一种辐射检查系统及方法，能够在满足多视角扫描的需求的同时，降低系统复杂度。在本公开的一个方面，提供一种辐射检查系统，包括：单射线源，具有多个加速管，所述多个加速管分别产生多条具有不同能量的射线，且所述多个加速管的出束方向包括至少两种不同的出束方向；多个探测器，被配置为探测所述单射线源发出的射线作用于被检物时的信号；和处理器，与所述单射线源通讯连接，被配置为分别对所述多个加速管进行控制。在一些实施例中，所述多个加速管中的一部分被配置为产生具有第一能量的射线脉冲，所述多个加速管中的另一部分被配置为选择性地产生具有第二能量的射线脉冲和具有第三能量的射线脉冲，所述第一能量低于所述第二能量，所述第二能量低于所述第三能量。在一些实施例中，所述第一能量小于1MeV，所述第二能量和所述第三能量均大于1MeV。在一些实施例中，所述单射线源还包括：电子束产生装置，被配置为产生多个电子束；微波产生装置，被配置为产生微波；微波环行器，具有功率输入口和至少两个功率输出口，所述功率输入口通过波导结构与所述微波产生装置连接；和控制器，与所述处理器、所述电子束产生装置和所述微波产生装置信号连接，被配置为根据所述处理器的指令，对所述微波产生装置的微波功率进行时序控制，以及对所述电子束产生装置产生的分别对应于所述多个加速管的电子束的束流负载进行时序控制，其中，所述多个加速管与所述电子束产生装置连接，并分别与所述至少两个功率输出口连接，被配置为分别接收所述电子束产生装置产生的多个电子束，并通过从所述至少两个功率输出口接收的微波分别对所述多个电子束进行加速，以便分别产生多个具有不同辐射能量的辐射脉冲。在一些实施例中，所述单射线源包括：第一电子枪，被配置为产生第一电子束；第一电子枪电源，与所述控制器信号连接，并与所述第一电子枪连接，被配置为根据所述控制器提供的时序控制信号调整所述第一电子束的束流负载；第二电子枪，被配置为产生第二电子束；和第二电子枪电源，与所述控制器信号连接，并与所述第二电子枪连接，被配置为根据所述控制器提供的时序控制信号调整所述第二电子束的束流负载，其中，所述控制器被配置为在至少一个周期的每个周期中的第一时段使所述第一电子枪电源调整所述第一电子束的束流负载为第一束流负载，并在每个周期中的第二时段使所述第二电子枪电源调整所述第二电子束的束流负载为第二束流负载，所述第一时段与所述第二时段不重合。在一些实施例中，所述微波环行器的至少两个功率输出口包括第一功率输出口和第二功率输出口，所述第一功率输出口被分配来自从所述功率输入口馈入的微波信号，所述第二功率输出口被分配来自从所述第一功率输出口馈入的微波信号；所述多个加速管包括：第一加速管，与所述第一功率输出口和所述第一电子枪连接，被配置为通过所述第一功率输出口输出的第一输出微波信号对所述第一电子束进行加速；和第二加速管，与所述第二功率输出口和所述第二电子枪连接，被配置为通过所述第二功率输出口输出的第二输出微波信号对所述第二电子束进行加速。在一些实施例中，所述微波环行器的至少两个功率输出口还包括第三功率输出口，所述第三功率输出口被分配来自从所述第二功率输出口馈入的微波信号；所述单射线源还包括：吸收负载，与所述第三功率输出口连接，被配置为吸收所述第三功率输出口输出的微波信号。在一些实施例中，所述微波环行器包括四端环流器。在一些实施例中，所述控制器被配置为在所述第一时段使所述微波产生装置馈入到所述微波环行器的功率输入口的微波信号包括至少一个第一输入微波信号，并在所述第二时段使所述微波产生装置馈入到所述微波环行器的功率输入口的微波信号包括至少一个第二输入微波信号，所述至少一个第一输入微波信号的功率大于所述至少一个第二输入微波信号。在一些实施例中，所述微波产生装置包括磁控管。在一些实施例中，所述第一加速管的出束方向与所述第二加速管的出束方向不同，且在不同时刻出束；所述探测器包括多个探测器阵列；所述辐射检查系统还包括：第一加速器舱，容纳所述第一加速管；第二加速器舱，容纳所述第二加速管；至少一个第一探测器臂，安装有所述多个探测器阵列的一部分；和至少一个第二探测器臂，安装有所述多个探测器阵列的另一部分，其中，所述电子束产生装置、微波产生装置和微波环行器均位于所述第一加速器舱和所述第二加速器舱之一中。在一些实施例中，所述第一加速器舱和所述至少一个第一探测器臂位于第一平面，所述第二加速器舱和所述至少一个第二探测器臂位于第二平面，所述第一平面与所述第二平面不共面。在一些实施例中，所述第一平面与所述第二平面平行。在一些实施例中，所述至少一个第一探测器臂包括第一探测器横臂和第一探测器竖臂，所述至少一个第二探测器臂包括第二探测器横臂、第二探测器竖臂和第三探测器竖臂；所述辐射检查系统还包括支撑结构，所述第一加速器舱、所述第二加速器舱、所述第一探测器横臂和所述第二探测器竖臂均与所述支撑结构连接，所述第一探测器竖臂位于所述支撑结构的对侧，所述第二探测器横臂位于所述第二加速器舱的下侧，所述第三探测器竖臂位于所述第二探测器竖臂的对侧。在一些实施例中，所述第一加速管的出束方向与所述第二加速管的出束方向不同，且在不同时刻出束；所述探测器包括多个探测器阵列；所述辐射检查系统还包括：单加速器舱，容纳所述第一加速管和所述第二加速管；至少一个第一探测器臂，安装有所述多个探测器阵列的一部分；至少一个第二探测器臂，安装有所述多个探测器阵列的另一部分；第一准直器，位于所述第一加速管与所述至少一个第一探测器臂之间，被配置为将所述第一加速管产生的射线准直到所述至少一个第一探测器臂；第二准直器，位于所述第二加速管与所述至少一个第二探测器臂之间，被配置为将所述第二加速管产生的射线准直到所述至少一个第二探测器臂，其中，所述电子束产生装置、微波产生装置和微波环行器均位于所述单加速器舱中。在一些实施例中，所述第一加速管、所述第一准直器和所述至少一个第一探测器臂位于第三平面，所述第二加速管、所述第二准直器和所述至少一个第二探测器臂位于第四平面，所述第三平面与所述第四平面呈本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种辐射检查系统，包括：/n单射线源（10），具有多个加速管（13），所述多个加速管（13）分别产生多条具有不同能量的射线，且所述多个加速管（13）的出束方向包括至少两种不同的出束方向；/n多个探测器（30），被配置为探测所述单射线源（10）发出的射线作用于被检物（40）时的信号；和/n处理器（20），与所述单射线源（10）通讯连接，被配置为分别对所述多个加速管（13）进行控制。/n

【技术特征摘要】
1.一种辐射检查系统，包括：
单射线源（10），具有多个加速管（13），所述多个加速管（13）分别产生多条具有不同能量的射线，且所述多个加速管（13）的出束方向包括至少两种不同的出束方向；
多个探测器（30），被配置为探测所述单射线源（10）发出的射线作用于被检物（40）时的信号；和
处理器（20），与所述单射线源（10）通讯连接，被配置为分别对所述多个加速管（13）进行控制。


2.根据权利要求1所述的辐射检查系统，其中，所述多个加速管（13）中的一部分被配置为产生具有第一能量的射线脉冲，所述多个加速管（13）中的另一部分被配置为选择性地产生具有第二能量的射线脉冲和具有第三能量的射线脉冲，所述第一能量低于所述第二能量，所述第二能量低于所述第三能量。


3.根据权利要求2所述的辐射检查系统，其中，所述第一能量小于1MeV，所述第二能量和所述第三能量均大于1MeV。


4.根据权利要求1所述的辐射检查系统，其中，所述单射线源（10）还包括：
电子束产生装置（12），被配置为产生多个电子束；
微波产生装置（14），被配置为产生微波；
微波环行器（15），具有功率输入口和至少两个功率输出口，所述功率输入口通过波导结构与所述微波产生装置（14）连接；和
控制器（11），与所述处理器（20）、所述电子束产生装置（12）和所述微波产生装置（14）信号连接，被配置为根据所述处理器（20）的指令，对所述微波产生装置（14）的微波功率进行时序控制，以及对所述电子束产生装置（12）产生的分别对应于所述多个加速管（13）的电子束的束流负载进行时序控制，
其中，所述多个加速管（13）与所述电子束产生装置（12）连接，并分别与所述至少两个功率输出口连接，被配置为分别接收所述电子束产生装置（12）产生的多个电子束，并通过从所述至少两个功率输出口接收的微波分别对所述多个电子束进行加速，以便分别产生多个具有不同辐射能量的辐射脉冲。


5.根据权利要求4所述的辐射检查系统，其中，所述单射线源（10）包括：
第一电子枪（122），被配置为产生第一电子束；
第一电子枪电源（121），与所述控制器（11）信号连接，并与所述第一电子枪（122）连接，被配置为根据所述控制器（11）提供的时序控制信号调整所述第一电子束的束流负载；
第二电子枪（124），被配置为产生第二电子束；和
第二电子枪电源（123），与所述控制器（11）信号连接，并与所述第二电子枪（124）连接，被配置为根据所述控制器（11）提供的时序控制信号调整所述第二电子束的束流负载，
其中，所述控制器（11）被配置为在至少一个周期的每个周期中的第一时段使所述第一电子枪电源（121）调整所述第一电子束的束流负载为第一束流负载，并在每个周期中的第二时段使所述第二电子枪电源（123）调整所述第二电子束的束流负载为第二束流负载，所述第一时段与所述第二时段不重合。


6.根据权利要求5所述的辐射检查系统，其中，所述微波环行器（15）的至少两个功率输出口包括第一功率输出口和第二功率输出口，所述第一功率输出口被分配来自从所述功率输入口馈入的微波信号，所述第二功率输出口被分配来自从所述第一功率输出口馈入的微波信号；
所述多个加速管（13）包括：
第一加速管（131），与所述第一功率输出口和所述第一电子枪（122）连接，被配置为通过所述第一功率输出口输出的第一输出微波信号对所述第一电子束进行加速；和
第二加速管（132），与所述第二功率输出口和所述第二电子枪（124）连接，被配置为通过所述第二功率输出口输出的第二输出微波信号对所述第二电子束进行加速。


7.根据权利要求6所述的辐射检查系统，其中，所述微波环行器（15）的至少两个功率输出口还包括第三功率输出口，所述第三功率输出口被分配来自从所述第二功率输出口馈入的微波信号；所述单射线源（10）还包括：吸收负载（16），与所述第三功率输出口连接，被配置为吸收所述第三功率输出口输出的微波信号。


8.根据权利要求7所述的辐射检查系统，其中，所述微波环行器（15）包括四端环流器（151）。


9.根据权利要求7所述的辐射检查系统，其中，所述控制器（11）被配置为在所述第一时段使所述微波产生装置（14）馈入到所述微波环行器（15）的功率输入口的微波信号包括至少一个第一输入微波信号，并在所述第二时段使所述微波产生装置（14）馈入到所述微波环行器（15）的...

【专利技术属性】
技术研发人员：王伟珍，刘必成，宗春光，孙尚民，
申请(专利权)人：同方威视技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11