【技术实现步骤摘要】
液晶透镜相位检测装置和方法
本申请属于液晶透镜
，更具体地，涉及一种液晶透镜相位检测装置和方法。
技术介绍
由于偏光显微系统具有测量精度高的优点。目前，可以采用偏光显微系统作为液晶透镜相位差的测量方式。然而，由于偏光显微系统采用的是点扫描的测量方式，不能实时测量大面积的液晶透镜的相位，例如：检测液晶透镜随电压变化过程中的相位变化。
技术实现思路
本申请的目的包括，例如，提供了一种液晶透镜相位检测装置和方法，以改善至少部分上述的问题。本申请的实施例可以这样实现：第一方面，提供一种液晶透镜相位检测装置，包括干涉仪、遮光挡板以及相机。干涉仪包括由准直透镜和第一半透半反分光镜形成的参考光路和样品光路，位于参考光路和样品光路后端的第二半透半反分光镜，由第二半透半反分光镜合光形成的干涉光路，液晶透镜设置于样品光路中。遮光挡板设置于干涉仪所形成的光路以外的第一位置，且能够从第一位置切换至参考光路或样品光路，以使干涉仪具有遮光挡板位于第一位置的未遮挡状态，遮光挡板运动至样品光路的第一遮挡状态...
【技术保护点】
1.一种液晶透镜相位检测装置，其特征在于，包括：/n干涉仪，所述干涉仪包括由准直透镜和第一半透半反分光镜形成的参考光路和样品光路，位于所述参考光路和所述样品光路后端的第二半透半反分光镜，由所述第二半透半反分光镜合光形成的干涉光路，液晶透镜设置于所述样品光路中；/n遮光挡板，所述遮光挡板设置于所述干涉仪所形成的光路以外的第一位置，且能够从所述第一位置切换至所述参考光路或所述样品光路，以使所述干涉仪具有所述遮光挡板位于所述第一位置的未遮挡状态，遮光挡板运动至所述样品光路的第一遮挡状态，以及遮光挡板运动至所述参考光路的第二遮挡状态；以及/n相机，所述相机设置于所述干涉光路，且用于...
【技术特征摘要】
1.一种液晶透镜相位检测装置，其特征在于，包括：
干涉仪，所述干涉仪包括由准直透镜和第一半透半反分光镜形成的参考光路和样品光路，位于所述参考光路和所述样品光路后端的第二半透半反分光镜，由所述第二半透半反分光镜合光形成的干涉光路，液晶透镜设置于所述样品光路中；
遮光挡板，所述遮光挡板设置于所述干涉仪所形成的光路以外的第一位置，且能够从所述第一位置切换至所述参考光路或所述样品光路，以使所述干涉仪具有所述遮光挡板位于所述第一位置的未遮挡状态，遮光挡板运动至所述样品光路的第一遮挡状态，以及遮光挡板运动至所述参考光路的第二遮挡状态；以及
相机，所述相机设置于所述干涉光路，且用于分别获取所述干涉仪处于未遮挡状态时的干涉条纹、处于第一遮挡状态时的参考光束光强，以及处于第二遮挡状态时的样品光束光强。
2.根据权利要求1所述的液晶透镜相位检测装置，其特征在于，所述样品光路上设置有第二位置，所述参考光路上设置有第三位置，所述遮光挡板可切换的在所述第一位置、所述第二位置及所述第三位置之间切换运动。
3.根据权利要求2所述的液晶透镜相位检测装置，其特征在于，所述干涉仪还包括第一反射镜和第二反射镜；
所述第一反射镜位于所述第一半透半反分光镜和所述第二半透半反分光镜之间，且形成所述样品光路，所述液晶透镜位于所述第一反射镜和所述第二半透半反分光镜之间，所述第二反射镜位于所述第一半透半反分光镜和所述第二半透半反分光镜之间，且形成所述参考光路，所述第二位置位于所述第一半透半反分光镜和所述第一反射镜之间，所述第三位置位于所述第二反射镜和所述第二半透半反分光镜之间。
4.根据权利要求1所述的液晶透镜相位检测装置，其特征在于，还包括导轨组件，所述导轨组件包括所述第一位置、第二位置及第三位置，所述第二位置和所述第三位置分别位于所述第一位置的两侧，所述遮光挡板可移动的设置于所述导轨组件，且能够在所述第一位置、所述第二位置及所述第三位置之间切换；
当所述遮光挡板位于所述第一位置时，所述干涉仪处于未遮挡状态，当所述遮光挡板位...
【专利技术属性】
技术研发人员：郑琼羽，李建军，章正涛，胡振兴，
申请(专利权)人：南昌虚拟现实研究院股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江西;36
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