一种X光安检机测试箱制造技术

本实用新型专利技术涉及安检设备检测技术领域，具体涉及一种X光机安检机测试箱，包括箱体以及箱体内设置的检测卡，检测卡设于箱体内的工作板上，所述检测卡分为空间分辨力测试卡、分辨力测试卡、穿透分辨力测试卡、穿透力测试卡；这种X光机安检机测试箱，解决能随时为X光机安检机提供性能和工作状态测试的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种X光安检机测试箱
本技术涉及安检设备检测
，具体涉及一种X光机安检机测试箱。
技术介绍
X光安检机用于对人体除外的行李或货物进行扫描，得到行李中不同物品或货物的成像信息，从而对行李中物品或货物进行检测，发现隐藏的危险物品。行李进入X射线检查通道，将阻挡包裹检测传感器，检测信号被送往系统控制部分，产生X射线触发信号，触发X射线射线源发射X射线束。一束经过准直器的扇形X射线束穿过输送带上的被检物品，X射线被被检物品吸收，最后轰击安装在通道内的双能量半导体探测器。探测器把X射线转变为信号，这些很弱的信号被放大，并送到信号处理机箱做进一步处理。在X光安检机的使用过程中，随着使用时间的增加，X光安检机可能会出现损坏、老化等情况，这些情况的出现可能导致X光安检机在使用时出现偏差，导致发生安全事故，所以在X光安检机的使用过程中，需要定期对其进行检测测试，现有的测试设备体型比较偏大，无法携带，只能定期进行检测测试，无法随时进行检测测试，也不能短期内进行有效的测试，普适性不高。鉴于上述缺陷，本技术创作者经过长时间的研究和实践终于获得了本技术。
技术实现思路
本技术的目的在于解决能随时为X光机安检机提供性能和工作状态测试的问题，提供了一种X光机安检机测试箱。为了实现上述目的，本技术公开了一种X光安检机测试箱，包括箱体以及箱体内设置的检测卡，检测卡设于箱体内的工作板上，所述检测卡分为空间分辨力测试卡、分辨力测试卡、穿透分辨力测试卡、穿透力测试卡。空间分辨力测试卡为设置于所述工作板上的有序排列的铜线，所述铜线有横向和纵向两种排布方式，横向排布与纵向排布的铜线的尺寸不同，一排横向排布铜线和一列纵向排布的铜线分为一组，一共有两组。分辨力测试卡为设置于所述工作板上的亚克力阶梯，所述亚克力阶梯设有两级阶梯，所述亚克力阶梯中设有铜芯，所述铜芯位于所述亚克力阶梯下方，设置于所述工作板上。穿透分辨力测试卡为设置于所述工作板上的铝制阶梯和第一钢制阶梯，所述铝制阶梯和第一钢制阶梯平行相向设置，均设有三级阶梯。穿透力测试卡为设置于所述工作板上的第二钢制阶梯，所述第二钢制阶梯设有三级阶梯，三级阶梯上方均设有铅块。箱体上设有手提绳，便于携带。手提绳上设有护套，所述护套采用硅胶制成，提高了手提绳的使用舒适感。铜线排布中心标有测试箱代号，分别为X、H，X代表X型测试箱，H代表H型测试箱。两组铜线一侧均设有代号，在X型测试箱中为S、T，在H型测试箱中为K、H。与现有技术比较本技术的有益效果在于：本技术通过在测试箱内设置空间分辨力测试卡卡、分辨力测试卡、穿透分辨力测试卡、穿透力测试卡，对X光安检机的空间分辨力、分辨力、穿透分辨力、穿透力分别进行测试，可以对X光安检机的性能以及运行状态进行检测，及时对出现问题的X光安检机进行维修处理，防止由于X光安检机非正常工作造成的安全事故；同时，这种X光安检机测试箱更加便于携带，能随时对X光安检机进行检测测试，使用方便。附图说明图1为本技术中工作板的结构示意图；图2为本技术中箱体的结构示意图；图3为本技术中X型X光安检机测试箱的结构示意图；图4为本技术中H型X光安检机测试箱的结构示意图。图中数字表示：10-箱体；11-提手；12-护套；20-工作板；21-空间分辨力测试卡；22-分辨力测试卡；221-亚克力阶梯；222-铜芯；23-穿透分辨力测试卡；231-铝制阶梯；232-第一钢制阶梯；24-穿透力测试卡；241-第三铝制阶梯；242-铅块。具体实施方式以下结合附图，对本技术上述的和另外的技术特征和优点作更详细的说明。实施例1如附图3，一种X型X光安检机测试箱，包括箱体10以及箱体内设置的检测卡，检测卡设于箱体内的工作板20上，检测卡分为空间分辨力测试卡21、分辨力测试卡22、穿透分辨力测试卡23、穿透力测试卡24；空间分辨力测试卡21为设置于工作板20上的有序排列的铜线，铜线有横向和纵向两种排布方式，横向排布与纵向排布的铜线的尺寸不同，一排横向排布铜线和一列纵向排布的铜线分为一组，一共有两组，S组直径均为1.6mm长度采用29mm，T组直径均为2.0mm，长度为29mm。分辨力测试卡22为设置于工作板20上的亚克力阶梯221，亚克力阶梯221设有两级阶梯，亚克力阶梯221中设有铜芯222，铜芯222位于亚克力221阶梯下方，设置于工作板10上；亚克力阶梯221长度为60mm，宽度为30mm，两级阶梯高度分别为30mm、15mm。穿透分辨力测试卡23为设置于工作板20上的铝制阶梯231和第一钢制阶梯232，铝制阶梯231和第一钢制阶梯232平行相向设置，均设有三级阶梯；铝制阶梯231长度为90mm，宽度为30mm，三级阶梯高度分别为30mm、20mm、10mm，第一钢制阶梯232长度为90mm，宽度为30mm，三级阶梯高度分别为30mm、20mm、15mm。穿透力测试卡24为设置于工作板20上的第二钢制阶梯241，所述第二钢制阶梯241设有三级阶梯，三级阶梯上方均设有铅块242；第二钢制阶梯241长度为90mm，宽度为30mm，三级阶梯高度分别为22mm、25mm、27mm，铅块242直径均为19mm，高度均为5mm。常规旅客在安检时采用X型X光安检机测试箱进行检测X光安检机是否存在故障，如果在X光安检机无法看清内部所有的部件或者空间分辨力测试卡21的S位置线条模糊时则代表安检机存在故障需要检修，无法再进行安检工作。同时旅行箱安检时应该全部看到内部所有的部件，同时空间分辨力测试卡21的T位置上述线条应该非常清晰，如无法看到所有内部部件线条或者T位置线条模糊时则代表安检机存在故障需要检修，无法再进行安检工作。实施例2如附图4，一种H型X光安检机测试箱，包括箱体10以及箱体内设置的检测卡，检测卡设于箱体内的工作板20上，检测卡分为空间分辨力测试卡21、分辨力测试卡22、穿透分辨力测试卡23、穿透力测试卡24；空间分辨力测试卡21为设置于工作板20上的有序排列的铜线，铜线有横向和纵向两种排布方式，横向排布与纵向排布的铜线的尺寸不同，一排横向排布铜线和一列纵向排布的铜线分为一组，一共有两组，K组直径均为2.0mm，长度均为29mm，H组直径均为2.5mm，长度均为29mm。分辨力测试卡22为设置于工作板20上的亚克力阶梯221，亚克力阶梯221设有两级阶梯，亚克力阶梯221中设有铜芯222，铜芯222位于亚克力221阶梯下方，设置于工作板10上；亚克力阶梯221长度为60mm，宽度为30mm，两级阶梯高度分别为30mm、15mm。穿透分辨力测试卡23为设置于工作板20上的铝制阶梯231和第一钢制阶梯232，铝制阶梯231和第一钢制阶梯232平行相向设置，均设有三级阶梯；铝制阶梯231长度为90mm，宽度为30mm，三级阶梯高度分别为3本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种X光安检机测试箱，其特征在于，包括箱体以及箱体内设置的检测卡，检测卡设于箱体内的工作板上，所述检测卡分为空间分辨力测试卡、分辨力测试卡、穿透分辨力测试卡、穿透力测试卡；/n所述空间分辨力测试卡为设置于所述工作板上的有序排列的铜线，所述铜线有横向和纵向两种排布方式，横向排布与纵向排布的铜线的尺寸不同，一排横向排布铜线和一列纵向排布的铜线分为一组，一共有两组；/n所述分辨力测试卡为设置于所述工作板上的亚克力阶梯，所述亚克力阶梯设有两级阶梯，所述亚克力阶梯中设有铜芯，所述铜芯位于所述亚克力阶梯下方，设置于所述工作板上；/n所述穿透分辨力测试卡为设置于所述工作板上的铝制阶梯和第一钢制阶梯，所述铝制阶梯和第一钢制阶梯平行相向设置，均设有三级阶梯；/n所述穿透力测试卡为设置于所述工作板上的第二钢制阶梯，所述第二钢制阶梯设有三级阶梯，三级阶梯上方均设有铅块。/n

【技术特征摘要】
1.一种X光安检机测试箱，其特征在于，包括箱体以及箱体内设置的检测卡，检测卡设于箱体内的工作板上，所述检测卡分为空间分辨力测试卡、分辨力测试卡、穿透分辨力测试卡、穿透力测试卡；
所述空间分辨力测试卡为设置于所述工作板上的有序排列的铜线，所述铜线有横向和纵向两种排布方式，横向排布与纵向排布的铜线的尺寸不同，一排横向排布铜线和一列纵向排布的铜线分为一组，一共有两组；
所述分辨力测试卡为设置于所述工作板上的亚克力阶梯，所述亚克力阶梯设有两级阶梯，所述亚克力阶梯中设有铜芯，所述铜芯位于所述亚克力阶梯下方，设置于所述工作板上；
所述穿透分辨力测试卡为设置于所述工作板上的铝制阶梯和第一钢制阶梯，所述铝制阶梯和第一钢制阶梯平行相向设置，均设有三级阶...

【专利技术属性】
技术研发人员：张林春，
申请(专利权)人：张林春，
类型：新型
国别省市：安徽;34