一种滚动面缺陷检测系统技术方案

本实用新型专利技术涉及滚动面缺陷检测领域，特别涉及一种滚动面缺陷检测系统，包括控制装置、光源发生装置、光束整形装置、振镜和识别装置，光束整形装置及振镜依次设置在光源发生装置与待测滚动面之间的光路上，光源发生装置、振镜和识别装置均与控制装置通信连接，光束整形装置将光源发生装置发出的光束调整为平顶光束，平顶光束通过振镜扫描后投射到待测滚动面形成条纹，控制装置调整振镜的驱动信号以调整投射到待测滚动面上的条纹的位置，识别装置拍摄待测滚动面获取多幅目标图像并根据多幅目标图像检测待测滚动面的缺陷，本实用新型专利技术提供的滚动面缺陷检测系统检测精度高，能够有效的提高对待测滚动面缺陷的检测准确率。

【技术实现步骤摘要】
一种滚动面缺陷检测系统
本技术涉及滚动面缺陷检测领域，特别涉及一种滚动面缺陷检测系统。
技术介绍
带有滚动面的零部件作为装备制造业当中最为常用的关键零部件之一，比如轴承，它的好坏直接决定了产品的性能质量，因此对轴承内的滚子表面进行质量检测显得尤为重要。目前，常用的检测装置是通过直射光光源照射待测滚子表面，然后通过相机拍摄待测滚子表面，并将待测滚子表面的图像发送至上位机，上位机通过分析表面图像的亮度变化曲线检测待测滚子表面上的缺陷，但是上述检测方式仍然存在对滚子表面的缺陷特征反映不足的现象，特别是在检测滚子表面上的微小磨削振纹时，仍然无法达到较高的检测准确率。
技术实现思路
为解决检测装置对滚子表面的缺陷特征反映不足而无法达到较高的检测准确率的问题，本技术提供了一种滚动面缺陷检测系统。为了解决上述技术问题，本技术提供一种滚动面缺陷检测系统，用于检测滚动面的缺陷，所述滚动面缺陷检测系统包括控制装置、光源发生装置、光束整形装置、振镜和识别装置，所述光束整形装置及所述振镜依次设置在所述光源发生装置与待测滚动面本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种滚动面缺陷检测系统，用于检测滚动面的缺陷，其特征在于：所述滚动面缺陷检测系统包括控制装置、光源发生装置、光束整形装置、振镜和识别装置，所述光束整形装置及所述振镜依次设置在所述光源发生装置与待测滚动面之间的光路上，所述光源发生装置、所述振镜和所述识别装置均与所述控制装置通信连接；/n所述光束整形装置将所述光源发生装置发出的光束调整为平顶光束，平顶光束通过所述振镜扫描后投射到所述待测滚动面形成条纹，所述控制装置调整所述振镜的驱动信号以调整投射到所述待测滚动面上的条纹的位置，所述识别装置拍摄所述待测滚动面获取多幅目标图像并根据多幅所述目标图像检测所述待测滚动面的缺陷。/n

【技术特征摘要】
1.一种滚动面缺陷检测系统，用于检测滚动面的缺陷，其特征在于：所述滚动面缺陷检测系统包括控制装置、光源发生装置、光束整形装置、振镜和识别装置，所述光束整形装置及所述振镜依次设置在所述光源发生装置与待测滚动面之间的光路上，所述光源发生装置、所述振镜和所述识别装置均与所述控制装置通信连接；
所述光束整形装置将所述光源发生装置发出的光束调整为平顶光束，平顶光束通过所述振镜扫描后投射到所述待测滚动面形成条纹，所述控制装置调整所述振镜的驱动信号以调整投射到所述待测滚动面上的条纹的位置，所述识别装置拍摄所述待测滚动面获取多幅目标图像并根据多幅所述目标图像检测所述待测滚动面的缺陷。


2.如权利要求1所述的滚动面缺陷检测系统，其特征在于：所述光束整形装置进一步包括扩束准直器和光束整形器，所述光源发生装置发出的光束依次通过所述扩束准直器和所述光束整形器以调整为平顶光束。


3.如权利要求2所述的滚动面缺陷检测系统，其特征在于：所述光源发生装置进一步包括半导体红外激光器，所述控制装置与所述半导体红外激光器通信连接，所述控制装置对所述半导体红外激光器进行调制以使所述半导体红外激光器产生光强呈周期性发生变化的光束。


4.如权利要求1所述的滚动面缺陷检测系统，其特征在于：...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱勇建，刘浩，黄篷迟，蒋明，朱君，
申请(专利权)人：广西师范大学，
类型：新型
国别省市：广西;45