一种锗毛坯等厚差测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种锗毛坯等厚差测量装置，涉及化工生产技术领域。本实用新型专利技术包括测量台，测量台的上方设置有工件，工件所在位置处对应测量台的一端设置有旋转立柱，测量台的上方设置有调节支架，调节支架包括第三调节杆，第三调节杆的前侧设置有第二活动节，夹座上设置有测量表。本实用新型专利技术通过测量台上开设的螺丝孔可满足不同尺寸锗毛坯的测量需求，且通过第一调节旋钮和第二调节旋钮调节测量表的高度和角度，解决了现有的测量装置测量锗毛坯零件的尺寸受限，面对大小不一的锗毛坯零件无法满足测量需要，且现有的测量装置中测量表的角度不便于调节，面对凹凸型的锗毛坯零件，测量锗毛坯的等厚差不准确的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种锗毛坯等厚差测量装置
本技术属于化工生产
，特别是涉及一种锗毛坯等厚差测量装置。
技术介绍
锗毛坯主要用于红外光学领域，用于制造红外透射窗口、红外镜头、红外探测器、夜视仪、红外测温仪等，由于下游锗产品对精度要求极高、加工属于高精细化操作、加工成本高、附加值大，因此，控制好每一道工序的工艺参数显得极为重要，其中，等厚差是锗毛坯一个很重要的量化参数，必须达到图纸要求才能满足下游产品加工的需要，目前锗毛坯生产完成后需要使用等厚差测量装置对其进行等厚差测量，但它在实际使用中仍存在以下弊端：现有的测量装置测量锗毛坯零件的尺寸受限，不够灵活，面对大小不一的锗毛坯零件无法满足测量需要；现有的测量装置中测量表支架不可调节，面对凹凸型的锗毛坯零件，测量表的角度不便于调节，测量锗毛坯的等厚差不准确，同时可能刮伤零件。因此，现有的测量装置测量锗毛坯零件的尺寸受限，面对大小不一的锗毛坯零件无法满足测量需要，且现有的测量装置中测量表的角度不便于调节，面对凹凸型的锗毛坯零件，测量锗毛坯的等厚差不准确，无法满足实际使用中的需求，所以市面上迫本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种锗毛坯等厚差测量装置，包括测量台（2），其特征在于：所述测量台（2）的上方设置有工件（4），所述工件（4）所在位置处对应测量台（2）的一端设置有旋转立柱（3），且旋转立柱（3）设置有两个，所述测量台（2）的上方设置有调节支架（1），所述调节支架（1）包括第三调节杆（110），所述第三调节杆（110）的前侧设置有第二活动节（111），所述第二活动节（111）的下方设置有底座（104），所述第三调节杆（110）的后侧依次设置有第二调节杆（108）、第一活动节（107）、第一调节杆（103）和夹座（102），所述夹座（102）上设置有测量表（101）。/n

【技术特征摘要】
1.一种锗毛坯等厚差测量装置，包括测量台（2），其特征在于：所述测量台（2）的上方设置有工件（4），所述工件（4）所在位置处对应测量台（2）的一端设置有旋转立柱（3），且旋转立柱（3）设置有两个，所述测量台（2）的上方设置有调节支架（1），所述调节支架（1）包括第三调节杆（110），所述第三调节杆（110）的前侧设置有第二活动节（111），所述第二活动节（111）的下方设置有底座（104），所述第三调节杆（110）的后侧依次设置有第二调节杆（108）、第一活动节（107）、第一调节杆（103）和夹座（102），所述夹座（102）上设置有测量表（101）。


2.根据权利要求1所述的一种锗毛坯等厚差测量装置，其特征在于，所述测量台（2）上壁的沿边处等距开设有多个螺丝孔（201），所述旋转立柱（3）包括固定杆（303），所述固定杆（303）的下端固定有第二螺杆（304），且第二螺杆（304）通过螺丝孔（201）与测量台（2）螺纹连接。


3.根据权利要求2所述的一种锗毛坯等厚差测量装置，其特征在于，所述固定杆（303）的外部设置有转动套（301），且转动套（301）通过轴承（302）与固定杆（303）转动连接，所述固定杆（303）的上端固定有操作板（3031），所述转动套（301）与工件（4）相接触。


4.根据权利要求1所述的一种锗毛坯等厚差测量装置，其特征在于，所述底座（104）的前侧设置有锁紧开关（112），所述锁紧开关（112）的后壁固定有第一螺杆（1121），且第一螺杆（1121）与测量台（2）螺纹连...

【专利技术属性】
技术研发人员：廖吉伟，子光平，缪彦美，王侃，陈知江，何兴军，黄秀英，陈芮，袁外琼，朱家义，周雪娟，
申请(专利权)人：云南驰宏国际锗业有限公司，
类型：新型
国别省市：云南;53