光记录介质及伪造品检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术的目的是提供一种光记录介质及伪造品检测装置，在作为真伪判定用而记录全息图的情况下，能够正确地判定真伪。相位型水印全息图Ｗ以２值的相位差为２π×ｎ（ｎ为１以上的自然数）的光栅最强光区所形成，当因伪造而使相位差变化时，水印显现出来。而且，相位型水印全息图Ｗ和表示数据的相位型全息图Ｄ以任意的位置和比例在同一面上混合形成。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及记录全息图的光记录介质和伪造品检测装置，例如，涉及适合与下述情况的光记录介质及伪造品检测装置用全息图来记录预付货款卡和金融机构的卡、许可证和会员证等信息的全部或一部分。作为现有技术的例子，附图说明图14表示了在日本专利公开公报特开平9-319849号公报中所公开的双光学读取装置。形成在卡1上的双光学器件10(10a、10b、10c)是衍射光栅，设计成这样的结构当单色光21通过照明装置20、半透明反射镜25进行照射时，衍射光的强度集中在一次和二次衍射光。该一次衍射光23a和二次衍射光23b分别由一次衍射光感光器30a和二次衍射光感光器30b所感光。为了检测照明光(单色光21)的强度，由衍射光栅10所反射的光通过半透明反射镜25而由照明光感光器24所感光。接着，通过用照明光(单色光21)的强度除以一次衍射光23a的强度与二次衍射光23b的强度之和，就可以求出衍射光栅10的衍射效率，因此，当该衍射效率为规定值以上时，则判断为卡1是「真」，当不足规定值时，则判断为卡1是「伪」。即，在该现有技术的例子中，把衍射效率作为对卡1的真伪判定的基准。其中所使用的衍射光栅10例如为在O plus E，96.12月号，P83-88「计算机全息图的优化方法」中所记载的相位型全息图。具体地说，使用计算机对与所希望的衍射角相对应的衍射光位置信息进行傅立叶逆变换，由此，就能求出与衍射光栅的干涉条纹相对应的相位分布。而且，如日本专利公开公报特开平9-230121号公报中所公开的那样，应用半导体制造技术在基板上制成与该相位分布相对应的光栅最强光区(阶梯状级差)，通过把该基板上的光栅最强光区转印到卡等光记录介质上，就能制成衍射光栅10。把由这样的工艺所制成的衍射光学器件称为双光学器件。下面参照图15、图16对相位型全息图进行说明。图15表示一般的透射相位型全息图(衍射光学器件)的断面图，其材料是透明的透光性树脂1a。接着，使入射光2产生相位差，对透射光发生衍射现象，成为衍射光3a，因此，在透光性树脂1a中形成与相位差相对应的阶梯状级差4。在本例中为3值的相位型全息图，把入射光2的波长λ的一个周期(2π)分成三份，使一值的相位差成为2π/3，阶梯状级差4包括0π(没有相位变化的部分)由三段构成。最简单的相位型全息图为2值，在此情况下，由于是把一个周期(2π)分成两份，则一值的相位差为π，阶梯包含0π由两段构成。值的数量越多，衍射效率越大，但另一方面，制造工艺也变得越复杂。图16表示一般的反射相位型全息图。在此情况下，为了通过透明的透光性树脂1a使入射光2进行反射，对反射光发生衍射现象，产生衍射光3b。因此，在透光性树脂1a的光栅最强光区表面1b上形成铝等金属制的反射膜5，在其上覆盖有保护膜6。为此，如果不使用计算机进行高度计算以及不使用昂贵的半导体制造设备，就不能制成上述这样的衍射光学器件，因此，乍一看，伪造是非常困难的。但是，实际上存在这样的问题由于衍射光学器件是简单的光栅最强光区(阶梯状级差)4，所以如果制作使液体树脂流入并固化的模具，使液体树脂流入该模具中并进行固化，就能简单地复制(伪造)光栅最强光区。例如，在图15所示的透射相位型全息图的情况下，通过在光栅最强光区表面1b上蒸镀薄的金属膜，从而形成剥离层，使液体树脂流到该剥离层上，使其固化，然后将液体树脂与剥离层一起取下，由此，就能制成与光栅最强光区的凹凸相反的模具。接着，把该模具的剥离层进行加固，使液体树脂流到其上，并使之固化，就能简单地制成伪造品。在图16所示的反射相位型全息图的情况下，由于光栅最强光区表面1b由金属制的反射膜5和保护膜6所覆盖，所以比透射相位型全息图更难于进行伪造，但是，实际上，当金属制的反射膜5和保护膜6浸到强碱溶液等中时，就能够简单地进行剥离，而使光栅最强光区表面1b露出。由此，其后用与透射相位型全息图时相同的方法就能简单地进行伪造。这样伪造(复制)的光栅最强光区表面1b的精度要低于真品，衍射效率变差，而且，在图14所示的方法中，由于把衍射效率作为卡1的真伪判定的基准，所以能够简单地判断为伪造品。但是，卡1是用手直接使用，此时，会附着指纹、油脂、手垢、尘埃等污物，而使衍射效率变差，因此，实际上，考虑到这样的污物，用于判定真伪的衍射效率的阈值不得不降低设定，因此，不能判断像上述那样复制的伪造品。鉴于上述现有例子的问题，本专利技术的目的是提供一种光记录介质及伪造品检测装置，在将全息图作为真伪判定用进行记录的情况下，能够正确地判定真伪。为了实现上述目的，本专利技术，鉴于当伪造构成全息图的光栅最强光区(阶梯状级差)时，其相位差会发生变化，所以当相位差变化时就记录所出现的水印全息图。即，根据本专利技术，提供一种光记录介质，形成2值的相位差为2π×n(n为1以上的自然数)的光栅最强光区来作为相位型水印全息图。根据本专利技术，提供一种伪造品检测装置，判定形成2值的相位差为2π×n(n为1以上的自然数)的光栅最强光区来作为相位型水印全息图的光记录介质的真伪，包括照明装置，用单色光照射上述水印全息图；二维摄像装置，对上述水印全息图发生的衍射光进行摄像；0次光处理装置，把由上述二维摄像装置所摄像的衍射光强度分布信号的0次光成分置换为强度「0」，对除0次光之外的全部衍射光强度分布信号进行放大；判定装置，把由上述0次光处理装置所处理的衍射光强度分布信号与基准数据进行比较，来判定上述光记录介质的真伪。本专利技术的这些和其他的目的、优点及特征将通过结合附图对本专利技术的实施例的描述而得到进一步说明。在这些附图中图1是表示本专利技术所涉及的光记录介质及伪造品检测装置的一个实施例的构成图；图2是表示本专利技术所涉及的光记录介质及伪造品检测装置的另一个实施例的构成图；图3是表示图1的数据全息图的平面图；图4是表示图3的由数据全息图所产生的衍射光强度分布的平面图；图5是表示图1的水印全息图的侧面图；图6是表示图5的水印全息图的侧面图；图7是表示伪造图6的水印全息图时的衍射光强度分布的平面图；图8是表示图6的水印全息图为「真」时的衍射光强度分布的平面图；图9是表示由真的水印全息图所产生的衍射光强度分布的平面图；图10是表示由伪造的水印全息图所产生的衍射光强度分布的另一个例子的平面图11是表示由伪造的水印全息图所产生的衍射光强度分布的另一个例子的平面图；图12是表示由伪造的水印全息图所产生的衍射光强度分布的另一个例子的平面图；图13是表示由伪造的水印全息图所产生的衍射光强度分布的另一个例子的平面图；图14是表示现有例子的构成图；图15是表示透射相位型全息图的断面图；图16是表示反射相位型全息图的断面图。在图1所示的全息图埋入卡100中，形成反射相位型的数据全息图D和水印全息图W。其中，在本说明书中，把在卡100中所埋入的全息图的一个单位称为全息图单位单元100a，在一个单元100a中，在同一面上以任意位置和比例混合形成5×5个数据全息图D和水印全息图W。而且，全息图D、W的数量、全息图D、W和单元100a的大小、形状可以对应于照明装置101固有的照明形状(照明光束轮廓)而自由设定。该卡100由图中未示出的运送装置所运送，当全息图D、W被照明装置101的可干涉性的光所照射时，照射光在全息图D、W本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光记录介质，形成２值的相位差为２π×ｎ（ｎ为１以上的自然数）的光栅最强光区来作为相位型水印全息图。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：横地良也，
申请(专利权)人：日本胜利株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]