【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种硬币类物体物理参数的定值测量方法，同时还涉及实现该方法的专用测量仪，属于鉴伪测量
技术介绍
据申请人了解，无损整体的精确测量硬币电阻值之类的物理参数，是建立硬币材质和质量标准以及鉴别硬币真伪非常重要有效的方法。然而，由于硬币表面浮雕图案导致的无规律不平整，没有一种夹具能够重复有效保证与硬币表面的无缝吻合接触，而这种不完全接触产生的误差容易导致将电阻值等电学物理淹没，因此无法保持接触电阻等电学物理参数始终如一，结果使得直接测得的电阻值等电学物理不能达到辨别真伪所需的测量精度。无奈之下，人们只好采取测量磁场强度变化等间接测量的方法，通过换算得出硬币的电阻值等。此类间接测量不仅步骤麻烦，而且由于存在换算误差，显然会对测量精确度带来不利影响。
技术实现思路
本专利技术要解决技术问题是针对以上现有技术存在的缺点，通过对接触方式的创新，提出一种硬币类物体无损伤整体定值测量方法，同时给出实现该方法的专用测量仪。为了解决以上技术问题，本专利技术的硬币类物体无损伤整体定值测量方法包括以下基本步骤1)、将硬币类物体周边密封置于绝缘体中；2)、在硬币类物体两...
【技术保护点】
一种硬币类物体无损伤整体定值测量方法，包括以下步骤： １）、将硬币类物体周边密封置于绝缘体中； ２）、在硬币类物体两端面分别建立密封注液腔； ３）、将导电液引入两密封注液腔，并接通电极； ４）、测量此时两电极间的预定电学物理参数； ５）、将以上述测量出的电学物理参数与导电液自身的电学物理参数进行几何运算，得出结果。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：黄来友，章军，顾军，龚士良，徐峰，徐岷，李发强，
申请(专利权)人：上海造币厂，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]
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