一种探测部件、测试探头组件以及测试仪器制造技术

本实用新型专利技术涉及测试技术领域，提供一种探测部件，包括：导电探针，所述导电探针用于与电路板上设置的元器件的待测引脚接触连接；固定件，所述固定件与所述导电探针连接，且所述固定件与所述待测引脚周围的所述电路板连接。本实用新还提供一种测试探头组件。本实用新还提供一种测试仪器。本实用新型专利技术提供的探测部件、测试探头组件以及测试仪器，直接通过导电探针接触待测引脚之后，然后采用固定件使得导电探针与待测引脚实现稳定接触连接，提高测试效率，减少频繁焊接导线破坏元器件，同时本实用新型专利技术在用于测试贴片焊的密集引脚中的其中一个引脚时，可以利用细导电探针在密切接触待测引脚的同时不会挨到周围的引脚，确保单人测试的准确性，简便性。

【技术实现步骤摘要】
一种探测部件、测试探头组件以及测试仪器
本技术涉及测试
，更具体地说，是涉及一种探测部件、测试探头组件以及测试仪器。
技术介绍
万用表、示波器等测试仪器是电子领域的重要测量工具，也是其它领域应用较广泛的测量仪器，常用于对电压、电流、时间、频率、相位的测量。但是现有技术中的万用表、示波器等测试仪器的测试探头种类单一，在单人使用这些测试仪器时，常常需要给待测引脚焊接导线，然后再将导线电连接于测试探头上，上述方式需要频繁的焊接元器件，频繁的焊接元器件对元器件的损坏较大。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种探测部件、测试探头组件以及测试仪器，以解决现有技术中需要频繁焊接元器件的待测引脚来对元器件进行测试，导致对元器件损坏较大的技术问题。为实现上述目的，本技术采用的技术方案是：第一方面，本技术提供一种探测部件，包括：导电探针，所述导电探针用于与电路板上设置的元器件的待测引脚接触连接；固定件，所述固定件与所述导电探针连接，且所述固定件与所述待测引脚周围的所述电路板连接。根据上述所述的探测部件本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种探测部件，其特征在于，包括：/n导电探针，所述导电探针用于与电路板上设置的元器件的待测引脚接触连接；/n固定件，所述固定件与所述导电探针连接，且所述固定件与所述待测引脚周围的所述电路板连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种探测部件，其特征在于，包括：
导电探针，所述导电探针用于与电路板上设置的元器件的待测引脚接触连接；
固定件，所述固定件与所述导电探针连接，且所述固定件与所述待测引脚周围的所述电路板连接。


2.如权利要求1所述的探测部件，其特征在于，所述探测部件还包括导线，所述导线的一端与所述导电探针电连接，所述导线的另一端用于与测试探头电连接。


3.如权利要求1所述的探测部件，其特征在于，所述固定件包括：
固定部，所述固定部用于与所述待测引脚周围的所述电路板连接；
连接部，所述连接部设于所述固定部的上方并与所述固定部连接，所述导电探针与所述连接部连接。


4.如权利要求3所述的探测部件，其特征在于：所述固定部上设有中空部，所述连接部上设有通孔，所述中空部与所述通孔连通，所述导电探针依次穿过所述中空部、所述通孔，所述固定部远离所述连接部的一端可与所述电路板吸附连接，且所述导电探针的...

【专利技术属性】
技术研发人员：周佩，
申请(专利权)人：创维光电科技深圳有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44