一种在平面坐标系中测量三维空间辐射方向图的系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种在平面坐标系中测量三维空间辐射方向图的系统，包括测试平面以及固定设置于所述测试平面上的支架以及设置于所述支架上的信号源，所述测试平面设置于所述信号源的正下方，所述测试平面上以所述信号源正投影点为圆心的同心圆圆弧上布置有多个探测器，所述测试平面上涂抹有具有反射特性的材料。本实用新型专利技术解决了现有技术的辐射方向图测量系统是基于测角光度计，通常远场强度是通过测角光度计(GM)旋转逐步进行逐步测量的，操作复杂，对于具有窄视角的源而言测量精度不是很理想，且难以实现多通路数据同时采集等技术问题。

【技术实现步骤摘要】
一种在平面坐标系中测量三维空间辐射方向图的系统
本技术涉及光辐射方向图测量
，特别是涉及一种在平面坐标系中测量三维空间辐射方向图的系统。
技术介绍
辐射方向图是描述信号源发出无线电波的强度与方向(角度)依赖关系的重要工具，例如来自照明设备的光或来自天线的无线电波。辐射行为可以反映源的固有特性，因此对优化系统性能有很大的影响，在天线设计等应用中，具有可重配置功能的辐射方向图对于建立不同的通信链路至关重要。基于麦克斯韦方程的有限差分时域(FDTD)方法可用于复杂源结构(如OLED/LED)的图形生成；光束方程的解或近似解也是提供远场模式的一种方法；蒙特卡洛(MC)射线追踪是另一种高精度模拟辐射方向图的方法。在经典实验中，获得辐射图样的方法是基于角度光度计(G.M.)，然而，在任何类型的G.M.中，旋转对于测量球坐标系中的角强度变化是必不可少的，其中源通常以相等的角度步进采样。辐射方向图的测量技术广泛应用于农业种植领域、生物工程领域以及军事雷达领域、光学仪器检测领域、电磁辐射预测领域等。现有技术的辐射方向图测量系统是基于测角光度本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种在平面坐标系中测量三维空间辐射方向图的系统，包括测试平面(3)以及固定设置于所述测试平面(3)上的支架(1)以及设置于所述支架(1)上的信号源(2)，其特征在于：所述测试平面(3)设置于所述信号源(2)的正下方，所述测试平面(3)上以所述信号源(2)正投影点为圆心的同心圆圆弧上布置有多个探测器(4)，所述测试平面(3)上涂抹有具有反射特性的材料。/n

【技术特征摘要】
1.一种在平面坐标系中测量三维空间辐射方向图的系统，包括测试平面(3)以及固定设置于所述测试平面(3)上的支架(1)以及设置于所述支架(1)上的信号源(2)，其特征在于：所述测试平面(3)设置于所述信号源(2)的正下方，所述测试平面(3)上以所述信号源(2)正投影点为圆心的同心圆圆弧上布置有多个探测器(4)，所述测试平面(3)上涂抹有具有反射特性的材料。


2.根据权利要求1所述的在平面坐标系中测量三维空间辐射方向图的系统，其特征在于：探测器(4)分别等距的布置在所述测试平面(3)上每一个单独圆环上，每一个圆环上的探测器(4)的数量相同，且所有圆环上的探测器(4)在所述测试平面(3)上沿同一径向分布。


3.根据权利要求1或2所述的在平面坐标系中测量三维空间辐射方向图的系统，其特征在于：相邻同心圆之间...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨晨，秦泽生，宋家勇，王阳，
申请(专利权)人：贵州大学，
类型：新型
国别省市：贵州;52