姿态校准装置制造方法及图纸

技术编号:29548550 阅读:31 留言:0更新日期:2021-08-03 15:55
本实用新型专利技术涉及一种姿态校准装置。该姿态校准装置包括校准转台、转角测量组件和位姿测量组件,校准转台包括转盘,转盘能够分别绕三个互相垂直的方向转动;转角测量组件连接于转盘,转角测量组件用于测量反射器分别绕三个方向转动的转角;位姿测量组件包括反射器和位姿测量器,反射器连接于转盘,位姿测量器间隔反射器设置,位姿测量器用于测量反射器的位置和姿态。本实用新型专利技术提供的姿态校准装置中的校准转台能够绕三个互相垂直的方向旋转,结构简单,稳定性好,不会对反射器反射光线造成遮挡,能够实现位姿测量器在大范围内对反射器的姿态测量,并通过与转角测量组件测得的反射器理论姿态进行对比,从而实现对位姿测量组件的姿态校准,精确度高。

【技术实现步骤摘要】
姿态校准装置
本技术涉及位姿测量
,特别是涉及姿态校准装置。
技术介绍
对于一般的机械产品的测量,所需要的主要是产品的3D位置数据,得到其位置精度,但在机器人手臂控制中,不但要控制机器人手臂的3D位置,还要知道机器人手部的空间姿态,因此,如何正确的获得6D数据,越来越成为业内的一项紧迫难题。而3D数据的获取已经非常成熟,现在所关注的主要问题就是物体空间姿态的实时测量方法,现有的姿态校准装置中的三轴转台一般用于陀螺仪与惯性导航设备的校准,由于陀螺仪与惯性导航的工作原理,常见三轴转台在设计时并不会考虑光线遮挡等问题,一般三轴转台在校准T-probe/T-Mac时,由于转台框架遮挡光线,存在校准角度范围小,操作复杂、测试精度无法满足校准要求或者无法同时进行三个方向的大范围测量等问题。
技术实现思路
基于此,有必要针对转台框架遮挡光线,存在校准角度范围小,操作复杂、测试精度无法满足校准要求或者无法同时进行三个方向的大范围测量等技术问题,提供一种姿态校准装置。一种姿态校准装置,包括:校准转台,所述校准转台包括转盘,所本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种姿态校准装置,其特征在于,所述姿态校准装置包括:/n校准转台,所述校准转台包括转盘,所述转盘能够分别绕第一方向转动、第二方向转动和第三方向转动,所述第一方向、所述第二方向以及所述第三方向相互垂直;/n转角测量组件,所述转角测量组件连接于所述转盘,所述转角测量组件用于测量所述转盘分别绕所述第一方向、所述第二方向以及所述第三方向转动的转角;/n位姿测量组件,所述位姿测量组件包括反射器和位姿测量器,所述反射器连接于所述转盘,所述位姿测量器间隔所述反射器设置,所述位姿测量器用于测量所述反射器的位置和姿态。/n

【技术特征摘要】
1.一种姿态校准装置,其特征在于,所述姿态校准装置包括:
校准转台,所述校准转台包括转盘,所述转盘能够分别绕第一方向转动、第二方向转动和第三方向转动,所述第一方向、所述第二方向以及所述第三方向相互垂直;
转角测量组件,所述转角测量组件连接于所述转盘,所述转角测量组件用于测量所述转盘分别绕所述第一方向、所述第二方向以及所述第三方向转动的转角;
位姿测量组件,所述位姿测量组件包括反射器和位姿测量器,所述反射器连接于所述转盘,所述位姿测量器间隔所述反射器设置,所述位姿测量器用于测量所述反射器的位置和姿态。


2.根据权利要求1所述的姿态校准装置,其特征在于,所述校准转台包括第一驱动组件,所述第一驱动组件包括第一驱动件和第一转轴,所述第一转轴连接于所述第一驱动件的动力输出端,所述第一转轴沿所述第一方向延伸,所述转盘连接于所述第一转轴,所述第一驱动件用于驱动所述第一转轴旋转,所述第一转轴带动所述转盘绕自身的轴线旋转。


3.根据权利要求2所述的姿态校准装置,其特征在于,所述转角测量组件包括第一转角测量件,所述第一转角测量件连接于所述第一转轴,所述第一转角测量件用于测量所述第一转轴的转角。


4.根据权利要求2所述的姿态校准装置,其特征在于,所述校准转台包括第二驱动组件,所述第二驱动组件包括第二驱动件和第二转轴,所述第二转轴连接于所述第二驱动件的动力输出端,所述第二转轴沿所述第二方向延伸,所述第一驱动组件连接于所述第二转轴,所述第二驱动件用于驱动所述第二转轴绕自身轴线旋转...

【专利技术属性】
技术研发人员:郭鑫鑫蓝光金胡劲标江贤志叶凌华
申请(专利权)人:广州广电计量检测股份有限公司广电计量检测湖南有限公司河南广电计量检测有限公司广电计量检测成都有限公司广电计量检测北京有限公司
类型:新型
国别省市:广东;44

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