彩色条纹编码的相位去包裹方法技术

彩色条纹编码的相位去包裹方法，在获得相移测量的原理相位的基础上，用彩色条纹编码条纹图求解Φ（ｘ，ｙ）＝φ（ｘ，ｙ）＋２π.ｎ（ｘ，ｙ）中的“ｎ（ｘ，ｙ）”，沿着条纹排列的垂直方向进行解相。与传统的相位去包裹方法相比，操作简化并大大提高了数据处理效率，缩短了数据处理时间；相位去包裹中采用彩色编码技术，减少了环境干扰光源的影响，提高了图像处理的抗干扰能力；由于彩色编码条纹宽度可任意调节，适宜测量相对投影光轴倾角大的以及表面不连续的物体；彩色莫尔条纹相移测量法与彩色编码相位去包裹方法相结合，不仅能测量静态三维物体形貌，而且能测量动态三维物体形貌。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于三维传感和测量领域，可广泛应用于三维物体形貌的静态、动 态及在线检测，实现光学相移法检测三维物体轮廓的相位解调的级次判定的彩 色条纹编码的相位去包裹方法。
技术介绍
在现代产品快速开发及制造领域，物体的三维形貌测量己得到广泛应用。 光学相移法与其它结构光测量方法相比，因其可进行全场测量，具有测量速度 快、精度高、可实现仪器的便携式检测等特点，被广泛应用于航空航天、机械 制造、医疗诊断、计算机辅助设计/制造、机器人视觉系统以及在线检测与质量 控制等领域。相位测量原理相移技术在光学相干测量中有着重要的地位，它广泛地应用于全息照相、 数字散斑及光栅投影式三维轮廓测量中。其基本思想是通过引入已知的相移 量，人为地改变条纹的相位，比较物体上同一点在不同相移量下光强的变化来 求解该处的相位。当一个正弦光栅投射到物体上时，受物体高度的调制，变形 光栅条纹的光强表示为<formula>formula see original document page 4</formula> (1)其中，"(;c,力为背景光强，6(x,力/"(x,力为对比度，p(x，力为包含本文档来自技高网...

【技术保护点】
彩色条纹编码的相位去包裹方法，其特征在于：在获得相移测量的原理相位的基础上，用彩色条纹编码条纹图求解Φ（ｘ，ｙ）＝φ（ｘ，ｙ）＋２π.ｎ（ｘ，ｙ）中的“ｎ（ｘ，ｙ）”，沿着条纹排列的垂直方向进行解相，其具体步骤为：　１）首先，设置Ｎ个彩色编码条纹颜色为一个条纹图的周期即组，将这些条纹用两位数字“ｉｊ”进行编码，“ｉ”表示条纹图的周期即“组”，“ｊ”表示条纹的颜色代码，ｊ＝０，１，…，Ｎ－１，Ｎ是条纹的颜色数；　２）然后将彩色编码条纹投射至被测三维物体表面，彩色条纹宽度与相移测量条纹宽度相同；　３）其次，使用彩色ＣＣＤ摄像机采集变形的彩色编码图，并通过彩色数字图像卡将图像数据输送至计算机；　４）...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李兵，蒋庄德，丁建军，黄梦涛，王沙威，
申请(专利权)人：西安交通大学，
类型：发明
国别省市：87[中国|西安]