一种自带料位测量装置的料仓制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种自带料位测量装置的料仓，包括仓体、测量探头和测量变送器，所述仓体顶部和侧壁设有安装槽，所述测量探头嵌入安装槽内，所述测量探头包括保护外壳以及包裹在保护外壳内的中心层和屏蔽层，所述测量变送器通过法兰连接于仓体顶部；所述中心层与测量变送器的输入端连接，屏蔽层与测量变送器的输出端连接，测量变送器的接地端与仓体连通。本发明专利技术提供的一体化物料储料、料位测量的料仓，可以用于接触式方法直接测量仓体内固体物料，不受探头和仓体壁面挂料和温度变化的影响，而且能避免一般接触式料位计出现的探头偏移、损坏、弯折等情况出现，增加固体物料测量的可靠性和准确性，减少仪表维护成本。

【技术实现步骤摘要】
一种自带料位测量装置的料仓
本专利技术涉及一种自带料位测量装置的料仓，具体涉及一种将射频导纳料位计与储料仓体一体化设计、安装的储料装置，属于物料测量领域。
技术介绍
现有固体颗粒物料测量手段一般为接触式料位计和非接触式料位，非接触式料位计如雷达料位计，通过发射微波和接收微波测量料面高度，容易出现回波干扰的情况；接触式料位计例如静电容式料位计，一般通过将探杆或者重锤绳索插入固体物料中测量探杆和壁面之间电容值来计算料面高度，由于料面流动和频繁位移，使得探杆或者绳索经常出现弯折或偏移正常位置的情况，还容易因为探杆挂料导致测量误差。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术的不足，提供一种自带料位测量装置的料仓，将固体颗粒储料仓和射频导纳料位测量装置一体化设计安装，很好的解决了传统物料测量产生的一系列问题，提高测量的可靠性，降低仪表维护成本。为了达到上述目的，本专利技术提出的技术方案为：一种自带料位测量装置的料仓，包括仓体、测量探头和测量变送器，所述仓体顶部和侧壁设有安装槽，所述测量探头嵌入安装槽内，所述测量探头包括保本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种自带料位测量装置的料仓，其特征在于：包括仓体、测量探头和测量变送器，所述仓体顶部和侧壁设有安装槽，所述测量探头嵌入安装槽内，所述测量探头包括保护外壳以及包裹在保护外壳内的中心层和屏蔽层，所述测量变送器通过法兰连接于仓体顶部；所述中心层与测量变送器的输入端连接，屏蔽层与测量变送器的输出端连接，测量变送器的接地端与仓体连通。/n

【技术特征摘要】
1.一种自带料位测量装置的料仓，其特征在于：包括仓体、测量探头和测量变送器，所述仓体顶部和侧壁设有安装槽，所述测量探头嵌入安装槽内，所述测量探头包括保护外壳以及包裹在保护外壳内的中心层和屏蔽层，所述测量变送器通过法兰连接于仓体顶部；所述中心层与测量变送器的输入端连接，屏蔽层与测量变送器的输出端连接，测量变送器的接地端与仓体连通。


2.根据权利要求1所述自带料位测量装置的料仓，其特征在于：所述仓体顶部为圆台面，侧壁为圆柱面，仓体顶部的安装槽沿圆台面母线设置，仓体侧壁的安装槽沿圆柱面轴向设置，且仓体顶部和侧壁的安装槽为于同一平面内。


3.根据权利要求2所述自带料位测量装置的料仓，其特征在于：所述测量探头的保护外壳由耐磨损绝缘橡胶材质制成，保护外壳部分嵌入安装槽内，并与安装槽粘接。


4.根据权利要求3所述自带料位测量装置的料仓，其特征在于：所述测量探头的保护外壳上设有若干通孔，所述安装槽内与通孔对应处设有螺纹孔，保护外壳通过螺栓穿过通孔后螺接螺纹孔与仓体固定连接。


5.根据权利要求4所述自带料位...

【专利技术属性】
技术研发人员：延寒，左程，许芸，邢德山，程文煜，樊腾飞，
申请(专利权)人：国家能源集团科学技术研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32