图形对照设备,图形对照方法技术

技术编号:2950573 阅读:152 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
图形对照设备包括在特征点中的特征点对,这些特征点是表示作为要对比的图形的检验目标图形与作为参考图形的样本图形的相应特征的部分,特征点对在所述检验目标图形与所述的样本图形中互相对应,以及相似性确定部分,用于根据特征点对形成部分形成的特征点的对应性计算检验目标图形与样本图形之间的相似性,其中相似性确定部分根据任意图形与样本图形之间的特征点对的数量不少于先前由特征点对形成部分获得的检验目标图形与样本图形之间的特征点对的数量的可能性计算检验目标图形与样本图形之间的相似性。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】,图形对照方法以及图像对照程序的制作方法
本专利技术涉及图像数据的对照。特别是,本专利技术涉及一种用于识别诸如指纹,掌纹以及字符之类的线条图形的,图形对照方法以及图形对照程序。但是,上面提到的传统技术存在着下述缺点。JP-A No.56-024675,59-000778,59-024384,60-029875,04-033065,以及04-043470中描述的方法是一种检测相应的特征点并基于相应特征点的数量进行识别的方法。由于这一原因,在特征点密集的地方形成特征点对是很容易的,而存在的一个问题就是如果在目标和/或模式中的特征点具有不同的密度,精确对照其结果是不可能的。根据JP-A No.03-266187中描述的方法,那些以大量特征点与一个特定特征点相邻的那些特征点对于处理特征点的密度较高的的情况是无效的。但是,根据这种方法,如果仅存在特征点的密度较高的位置,则存在着不能对其进行识别的问题。根据本专利技术,提供了一种用于利用样本图形对照检验目标图形的,包括特征点对形成装置,用于形成特征点对,每一特征点对由检验目标图形中的特征点和彼此相对应的样本图形中的特征点构成,从表示检验目标图本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于利用样本图形对照检验目标图形的图形对照设备,包括: 特征点对形成装置,用于形成特征点对,每一特征点对由所述检验目标图形中的特征点和彼此相对应的所述样本图形中的特征点构成,从表示所述检验目标图形的特征的点中选择由每个所述特征点对组成的所述检验目标图形中的所述特征点,从表示所述样本图形的特征的点中选择由每个所述特征点对组成的所述样本图形中的所述特征点; 可能性计算装置,用于计算任意图形与所述样本图形之间的特征点对的数量不小于所述检验目标图形与所述样本图形之间的所述特征点对的数量的可能性; 相似性计算装置,用于根据所述可能性计算所述检验目标图形与所述样本图形之间的相似性。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:门田启
申请(专利权)人:日本电气株式会社
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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