测试电路、测试夹具、NB通信模组测试方法和测试系统技术方案

本发明专利技术提供一种测试电路、测试夹具、NB通信模组测试方法和测试系统，所述测试电路包括主控模块、功耗测试模块以及电源模块，主控模块包括主控芯片，功耗测试电路包括PSM功耗测试电路，主控芯片与PSM功耗测试电路电连接，控制PSM功耗测试电路对NB通信模组进行PSM功耗测试。相比现有技术需要接入其他测试仪器进行PSM功耗测试，将PSM功耗测试电路集成于测试电路上，降低测试成本。

【技术实现步骤摘要】
测试电路、测试夹具、NB通信模组测试方法和测试系统
本专利技术涉及通信
，尤其涉及一种测试电路、测试夹具、NB通信模组测试方法和测试系统。
技术介绍
NB-IoT(NarrowBandInternetofThings，窄带宽物联网)通信模组，简称NB通信模组，以其覆盖广、连接多、速率快、功耗低等特点，可以提供非常全面的室内蜂窝数据连接覆盖。现有针对NB通信模组的测试系统包括下载、校准、综测、写号等流程，但上述流程不包括对NB通信模组的PSM(PowerSavingMode，低功耗模式)的功耗测试，若要进行PSM功耗测试，需使用外接的高精度功耗测试仪表实现，价格昂贵且测试时间较长，测试成本较高。可见，现有技术中针对NB通信模组的测试系统测试成本较高。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种测试电路、测试夹具、NB通信模组测试方法和测试系统，以解决现有技术中针对NB通信模组的测试系统测试成本较高的问题。为了解决上述技术问题，本专利技术实施例采用了如下技术方案：第一方面，本专利技术实施例提供了一种测试电路，用于测试NB通信模组，其特征在于，所述测试电路包括：主控模块，所述主控模块包括主控芯片；功耗测试模块，所述功耗测试模块包括低功耗模式PSM功耗测试电路，所述PSM功耗测试电路与所述主控芯片电连接，用于在所述主控芯片的控制下对所述NB通信模组进行PSM功耗测试；电源模块，所述电源模块分别与所述主控模块和所述功耗测试模块电连接，用于对所述主控模块和所述功耗测试模块进行供电。第二方面，本专利技术实施例还提供了一种测试夹具，包括测试底座和本专利技术实施例提供的测试电路，所述测试电路设置在所述测试底座上。第三方面，本专利技术实施例还提供了一种NB通信模组测试方法，应用于本专利技术实施例提供的测试电路，所述测试电路与NB通信模组电连接，所述方法包括：通过所述测试电路的主控芯片控制所述NB通信模组工作在低功耗模式PSM；通过所述主控芯片控制所述测试电路的功耗测试模块的PSM功耗测试电路，对所述NB通信模组进行PSM功耗测试，得到PSM功耗测试结果。第四方面，本专利技术实施例还提供了一种测试系统，包括NB通信模组、上位机和本专利技术实施里提供的测试夹具，所述NB通信模组置于所述测试夹具上，并与所述测试夹具的测试电路电连接，所述上位机与所述测试电路建立有通信连接；其中，所述上位机用于向所述测试电路发送测试控制命令；所述测试电路用于接收所述上位机发送的测试控制命令，并基于所述测试控制命令对所述NB通信模组进行PSM功耗测试，得到测试结果；所述上位机还用于接收所述测试电路发送的测试结果。本专利技术实施例提供的测试电路、测试夹具、NB通信模组测试方法和测试系统，所述测试电路包括主控模块、功耗测试模块以及电源模块，主控模块包括主控芯片，功耗测试电路包括PSM功耗测试电路，主控芯片与PSM功耗测试电路电连接，控制PSM功耗测试电路对NB通信模组进行PSM功耗测试。相比现有技术需要接入其他测试仪器进行PSM功耗测试，将PSM功耗测试电路集成于测试电路上，降低测试成本。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对本专利技术实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术一实施例的测试电路的硬件结构示意图之一；图2是本专利技术一实施例的测试电路的硬件结构示意图之二；图3是本专利技术一实施例的测试电路上实现的测试方法的流程图；图4是本专利技术一实施例的测试夹具的结构示意图；图5是本专利技术一实施例的NB通信模组测试方法的流程图之一；图6是本专利技术一实施例的NB通信模组测试方法的流程图之二；图7是本专利技术一实施例的测试系统的流程图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术的实施例提供了一种测试电路，其可用于对NB通信模组1的生产测试，如图1所示，该测试电路包括：主控模块2，主控模块2包括主控芯片21；功耗测试模块3，功耗测试模块3包括PSM功耗测试电路31，PSM功耗测试电路31与主控芯片21电连接，用于在主控芯片21的控制下对NB通信模组1进行PSM功耗测试；电源模块4，电源模块4分别与主控模块2和功耗测试模块电3连接，用于对主控模块2和功耗测试模块3进行供电。本专利技术实施例中，主控模块2包括主控芯片21，主控芯片21可以是MCU(MicroControllerUnit，微控制单元)芯片，也可以是其他具有主控功能的芯片，主控芯片21可控制NB通信模组1结合测试电路进行测试。主控芯片21可作为下位机，与上位机保持数据通信，上位机可以是包括PC(PersonalComputer，个人计算机)、主机等在内的计算机，主控芯片21接收上位机的控制命令，可控制NB通信模组1结合测试电路进行测试。功耗测试模块3包括PSM功耗测试电路31，PSM模式是低功耗状态，在低功耗状态下，NB通信模组1处于休眠状态，电流通道内仅通过小电流，功耗降低。PSM功耗测试则主要检测NB通信模组1在PSM模式下的工作电流，以判断NB通信模组1的PSM功耗是否存在异常。PSM功耗测试电路31可以由一组采样放大电路构成，该采样放大电路可选用电流检测放大器，如MAX44284，测量在PSM模式下NB通信模组1的压降检测电流，可以理解的是，PSM功耗测试电路31的实现形式并不限于此，在此不作限定。当电源模块4开始为主控模块2和功耗测试模块3通电后，主控芯片21与PSM功耗测试电路31电连接，NB通信模组1进入PSM低功耗模式，可以开始进行PSM功耗测试。PSM功耗测试电路31和NB通信模组1接收到主控芯片21的测试命令时，开始进行PSM功耗测试，在测试完成后，将测试结果再反馈至主控芯片21，若测试异常，主控芯片21可判定拦截并存储测试日志。本专利技术实施例中，测试电路包括主控模块2、功耗测试模块3以及电源模块4，主控模块2包括主控芯片21，功耗测试电路3包括PSM功耗测试电路31，主控芯片21与PSM功耗测试电路31电连接，使NB通信模组1处于PSM模式下，控制PSM功耗测试电路31对NB通信模组1进行PSM功耗测试。相比现有技术需要接入其他测试仪器进行PSM功耗测试，将PSM功耗测试电路集成于测试电路上，降低测试成本。可选的，所述测试电路还包括：功能测试模块5，功能测试模块5包括管脚测试电路，管脚测试电路与NB通信模组1电连接，用于在主控芯片21的控制下对NB通信模组1的管脚进本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试电路，用于测试NB通信模组，其特征在于，所述测试电路包括：/n主控模块，所述主控模块包括主控芯片；/n功耗测试模块，所述功耗测试模块包括低功耗模式PSM功耗测试电路，所述PSM功耗测试电路与所述主控芯片电连接，用于在所述主控芯片的控制下对所述NB通信模组进行PSM功耗测试；/n电源模块，所述电源模块分别与所述主控模块和所述功耗测试模块电连接，用于对所述主控模块和所述功耗测试模块进行供电。/n

【技术特征摘要】
1.一种测试电路，用于测试NB通信模组，其特征在于，所述测试电路包括：
主控模块，所述主控模块包括主控芯片；
功耗测试模块，所述功耗测试模块包括低功耗模式PSM功耗测试电路，所述PSM功耗测试电路与所述主控芯片电连接，用于在所述主控芯片的控制下对所述NB通信模组进行PSM功耗测试；
电源模块，所述电源模块分别与所述主控模块和所述功耗测试模块电连接，用于对所述主控模块和所述功耗测试模块进行供电。


2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括：
功能测试模块，所述功能测试模块包括管脚测试电路，所述管脚测试电路与所述NB通信模块电连接，用于在所述主控芯片的控制下对所述NB通信模组的管脚进行功能测试。


3.根据权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述管脚测试电路包括模数转换器ADC检测电路、SIM卡电路、通用输入/输出GPIO电路、EEPROM电路和FLASH电路中的至少一项。


4.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述功耗测试模块还包括大电流测试电路，所述大电流测试电路与所述主控芯片电连接，用于在所述主控芯片的控制下对所述NB通信模组进行异常大电流测试。


5.根据权利要求4所述的测试电路，其特征在于，所述功耗测试模块还包括通断控制电路，所述PSM功耗测试电路和所述大电流测试电路分别通过所述通断控制电路与所述主控芯片电连接，所述通断控制电路用于在所述主控芯片的控制下控制所述PSM功耗测试电路和所述大电流测试电路的通断。


6.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述主控模块还包括第一通信串口，所述主控芯片通过所述第一通信串口与上位机通信，接收所述上位机下发的测试控制命令。


7.一种测试夹具，其特征在于，包括测试底座和权利要求1至6中任一项所述的测试电路，所述测试电路设置在所述测试底座上。


8.一种NB通信模组测试方法，应用于权利要求1所述的测试电路，所述测试电路与NB通信模组电连接，其特征在于，所述方法包括：
通过所述测试电路的主控芯片控制所述NB通信模组工作在低功耗模式PSM；
通过所述主控芯片控制所述测试电路的功耗测试模块的PSM功耗测试电路，对所述NB通信模组进行PSM功耗测试，得到PSM功耗测试结果。


9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述对所述NB通信模组进行PSM功耗测试，得到PSM功耗测试结果，包括：
测试所述NB通信模组的PSM工作电流；
若所述PSM工作电流处于预设电流范围之内，则确定所述NB通信模组不存在PSM功耗异常；
若所述PSM工作电流未处于所述预设电流范围之内，则确定所述NB通信模组存在PSM功耗异常。


10.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述测试电路还包括功能测试模块，所述功能测试模块包括管脚测试电路，所述管脚测试电路与所述主控芯片电连接；
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【专利技术属性】
技术研发人员：程慧超，丁源，张乐，韦曦，林瑞，
申请(专利权)人：中移物联网有限公司，中国移动通信集团有限公司，
类型：发明
国别省市：重庆;50