【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种平整性测量器，特别是一种钢琴琴键排列平整性测量器。
技术介绍
现有技术中，测量钢琴琴键平整性的方法大多采用接触式的测量，这就使钢琴琴键有可能在测量时平整性受影响，且测量精度低，同时由于有很大的人为因素在其中，使测量的可信度下降。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是现有技术中，测量钢琴琴键平整性的方法大多采用接触式的测量，这就使钢琴琴键有可能在测量时平整性受影响，且测量精度低，同时由于有很大的人为因素在其中，使测量的可信度下降。本专利技术为解决已有技术中的上述技术问题所采用的技术方案是提供一种钢琴琴键排列平整性测量器，所述的这种钢琴琴键排列平整性测量器由激光模拟传感器和数字信号处理器构成，其特征在于所述的激光模拟传感器成对工作，所述的每个激光模拟传感器放置在所需要测量的钢琴琴键的两端，所述的激光模拟传感器将感应至的信号传递给所述的数字信号处理器，所述的数字信号处理器对信号进行处理后向外输出，具体的，所述的数字信号处理器采用TI公司的C5000DSP芯片。本专利技术与已有技术相对照，效果是积极且明显的。本专利技术钢琴琴键排列平整性测量器采用非接触扫描法测量钢琴琴键平整性的方法，使测量的精度大提高，同时也减少了人为因素的影响。具体实施例方式本专利技术一种钢琴琴键排列平整性测量器，所述的这种钢琴琴键排列平整性测量器由激光模拟传感器和数字信号处理器构成，其特征在于所述的激光模拟传感器成对工作，所述的每个激光模拟传感器放置在所需要测量的钢琴琴键的两端，所述的激光模拟传感器将感应至的信号传递给所述的数字信号处理器，所述的数字信号处理器对信号进行...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：阮震祥，
申请(专利权)人：上海科鸣机械设备有限公司，
类型：发明
国别省市：
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