印章核对装置及印章核对方法制造方法及图纸

在本发明专利技术中，扫描仪（２）输入印章的印迹图像，预处理部分（４）生成剪切印迹图像而获得的核对印迹图像，重叠处理部分（５）从登记图像存储部分（６）中读取与核对印迹图像对应的登记印迹图像。重叠处理部分（５）生成重叠了核对印迹图像与登记印迹图像的重叠图像。然后，差异检测部分（７）基于重叠图像检测出核对印迹图像与登记印迹图像的形状不一致的差异部分。此外，掩模图案处理部分（９）将差异部分分割成多个区域，并依次算出表示各区域中差异部分的比率的差异比例，判断部分（８）基于所述差异比例来判断核对印迹图像与登记印迹图像的一致和不一致。由此，检测出核对印迹图像与登记印迹图像的局部差异，从而提高印章核对的精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及将核对对象的印迹作为核对印迹图像输入，形成重叠了预先登记好的登记印迹图像与所述核对印迹图像的重叠图像，并根据所述重叠图像来进行核对的印章核对装置、印章核对方法及印章核对程序，更详细地说，涉及当重叠了类似的核对印迹图像与登记印迹图像时，能够高效地发现差异部分并进行核对的印章核对装置、印章核对方法及印章核对程序。
技术介绍
迄今，为了使在银行等中进行的印章核对实现自动化，已设计出一种印章核对装置。所述印章核对装置通过将从扫描仪等输入装置读入的印章的核对印迹图像和预先登记的登记印迹图像进行比较，能够自动判断核对印迹图像与登记印迹图像是否是从同一个印章得到的印迹。在所述现有的印章核对装置中所使用的具体方法之一是利用向量计算进行印章核对(例如，参照专利文献1)。所述专利文献1中所公开的印章核对装置从核对印迹图像及登记印迹图像分别形成浓度图像(濃淡画像)，并根据该浓度图像的浓度值来进行向量计算，算出核对率，从而使得不容易受位置偏移或者印迹模糊等的影响。此外，在专利文献2所公开的印章核对装置中，为了防止核对印迹图像与登记印迹图像之间的位置偏移等，将各个图像分割成多个块，按每个块形成相关图像之后，只向具有所述相关图像的极大值的像素以及所述像素的邻近像素赋予像素值来形成插值极大值图像，并关于各块相加所述插值极大值图像来形成累积值图像，从而根据所述累积值图像来核对印章。专利文献1日本专利特开2001-202514号公报专利文献2日本专利特开平9-288734号公报然而，由于现有的印章核对装置着眼于整体的差异量，因此在局部差异的情况下就无法进行正确的判断。具体地说，当重叠了核对印迹图像与登记印迹图像的时候，在局部存在较大的差异量时，在基于整体的差异量来进行判断的以往的印章核对装置中，即使局部差异量很大，也由于整体的差异量小，从而会作出核对印迹图像与登记印迹图像一致的错误判断。即，在现有的印章核对装置中存在印章核对精度低的问题，因此目前非常重要的课题是实现对局部差异的印迹的正确判断，并提高核对精度。
技术实现思路
本专利技术是为了消除上述现有技术的缺陷、并解决研究课题而作出的，其目的在于，提供一种通过检测局部差异来提高核对精度的印章核对装置、印章核对方法以及印章核对程序。与本专利技术第一方面相关的印章核对装置将核对对象的印迹作为核对印迹图像输入，形成重叠了预先登记好的登记印迹图像与所述核对印迹图像的重叠图像，并根据所述重叠图像来进行核对，其特征在于包括差异部分检测部件，检测所述重叠图像中的所述核对印迹图像与所述登记印迹图像的差异部分；特征量计算部分，算出表示所述差异部分的局部特征的特征量；判断部件，根据由所述特征量计算部件算出的特征量来判断所述核对印迹图像与所述登记印迹图像是否相一致。根据本专利技术第一方面的专利技术，印章核对装置形成核对印迹图像与登记印迹图像之间的重叠图像，在重叠图像中检测核对印迹图像与登记印迹图像不一致的差异部分，从检测到的差异部分算出表示局部特征的特征量，并根据算出的特征量来判断核对印迹图像与登记印迹图像是否一致。此外，与本专利技术第二方面相关的印章核对装置的特征在于，在本专利技术第一方面的专利技术中，所述特征量计算部件将所述重叠图像分割成多个区域，算出各区域中所述差异部分的像素数，并依次算出将所述像素数除以所述区域中所包含的全部像素数的差异比例，将所述算出的差异比例作为所述特征量。根据本专利技术第二方面的专利技术，印章核对装置将重叠图像分割成多个区域并算出各区域内差异部分的像素数，进行依次算出差异比例的掩模(mask)图案处理，其中，所述差异比例是通过将像素数除以各区域内的全部像素数从而得到的。此外，与本专利技术第三方面相关的印章核对装置的特征在于，在权利要求1的专利技术中，所述特征量计算部件从所述差异部分提取具有规定以上面积的差异形状，并将所述差异形状的面积值作为所述特征量来输出。根据本专利技术第三方面的专利技术，印章核对装置从重叠图像检测出差异部分，从差异部分提取具有规定以上面积的差异形状，从而以差异形状的面积为基础来判断核对印迹图像与登记印迹图像是否一致。此外，与本专利技术第四方面相关的印章核对方法将核对对象的印迹作为核对印迹图像输入，形成重叠了预先登记好的登记印迹图像与所述核对印迹图像的重叠图像，并根据该重叠图像来进行核对，其特征在于包括差异部分检测步骤，检测所述重叠图像中的所述核对印迹图像与所述登记印迹图像的差异部分；特征量计算步骤，计算表示所述差异部分的局部特征的特征量；判断步骤，根据由所述特征量计算步骤算出的特征量来判断所述核对印迹图像与所述登记印迹图像是否相一致。根据本专利技术第四方面的专利技术，印章核对方法形成核对印迹图像与登记印迹图像的重叠图像，在重叠图像中检测核对印迹图像与登记印迹图像不一致的差异部分，从检测到的差异部分算出表示局部特征的特征量，并根据算出的特征量来判断核对印迹图像与登记印迹图像是否一致。此外，与本专利技术第五方面相关的印章核对程序将核对对象的印迹作为核对印迹图像输入，形成重叠了预先登记好的登记印迹图像与所述核对印迹图像的重叠图像，并根据所述重叠图像来进行核对，其特征在于包括差异部分检测过程，检测所述重叠图像中所述核对印迹图像与所述登记印迹图像的差异部分；特征量计算过程，算出表示所述差异部分的局部特征的特征量；判断过程，根据由所述特征量计算步骤算出的特征量来判断所述核对印迹图像与所述登记印迹图像是否相一致。根据本专利技术第五方面的专利技术，印章核对程序形成核对印迹图像与登记印迹图像的重叠图像，在重叠图像中检测核对印迹图像与登记印迹图像不一致的差异部分，从检测到的差异部分算出表示局部特征的特征量，并根据算出的特征量来判断核对印迹图像与登记印迹图像是否一致。根据本专利技术第一方面的专利技术，印章核对装置形成核对印迹图像与登记印迹图像的重叠图像，在重叠图像中检测核对印迹图像与登记印迹图像不一致的差异部分，从检测到的差异部分算出表示局部特征的特征量，并根据检测到的特征量来判断核对印迹图像与登记印迹图像是否一致，因此，可获得通过有效检测出局部差异来高精度地进行核对的印章核对装置。此外，根据本专利技术第二方面的专利技术，印章核对装置进行掩模图案处理，即，将重叠图像分割成多个区域来算出各区域中差异部分的像素数，并依次算出将像素数除以各区域内的所有像素数而获得差异比例，因此，可获得通过有效检测出局部差异来高精度地进行核对的印章核对装置。此外，根据本专利技术第三方面的专利技术，印章核对装置从重叠图像部分检测出差异部分，从差异部分提取具有规定以上面积的差异形状，并以差异形状的面积为基础来判断核对印迹图像与登记印迹图像是否一致，因此，可获得通过有效检测出局部差异来高精度地进行核对的印章核对装置。此外，根据本专利技术第四方面的专利技术，印章核对方法形成核对印迹图像与登记印迹图像的重叠图像，在重叠图像中检测核对印迹图像与登记印迹图像不一致的差异部分，从检测到的差异部分算出表示局部特征的特征量，并根据算出的特征量来判断核对印迹图像与登记印迹图像是否一致，因此，可获得通过有效检测出局部差异来高精度地进行核对的印章核对方法。此外，根据本专利技术第五方面的专利技术，印章核对程序形成核对印迹图像与登记印迹图像的重叠图像，在重叠图像中检测核对印迹图像与登记印迹图像不一致的差异部分，从检测到的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种印章核对装置，所述装置将核对对象的印迹作为核对印迹图像输入，形成重叠了预先登记好的登记印迹图像与所述核对印迹图像的重叠图像，并根据所述重叠图像来进行核对，其特征在于包括：差异部分检测部件，检测所述重叠图像中的所述核对印迹图像与所 述登记印迹图像的差异部分；特征量计算部件，算出表示所述差异部分的局部特征的特征量；和判断部件，根据由所述特征量计算部件算出的特征量来判断所述核对印迹图像与所述登记印迹图像是否相一致。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：稻冈秀行，岸野琢已，胜又裕，
申请(专利权)人：富士通株式会社，富士通先端科技，
类型：发明
国别省市：JP[日本]