【技术实现步骤摘要】
芯片及其使用方法
本申请涉及电子
，更具体地，涉及一种芯片及其使用方法。
技术介绍
随着集成电路产业的快速发展，集成电路芯片的测试成本所占比例不断攀升，集成电路设计公司在芯片设计和生产出来后往往需要寻找专业芯片测试机对芯片进行测试，以识别并挑选出坏片，只有通过测试的合格芯片才可以销售使用。然而，目前国内对芯片的测试普遍还是处于人工测试的阶段，从而导致测试成本较高、测试效率低下。
技术实现思路
鉴于上述问题，本申请提出了一种芯片及其使用方法，以解决或部分解决上述问题。第一方面，本申请实施例提供了一种芯片，该芯片包括：存储单元、数据处理单元、测试控制单元以及检测设备，其中：数据处理单元与存储单元连接，用于从上位机中获取配置信息并将配置信息存储到存储单元；测试控制单元与数据处理单元连接，用于通过数据处理单元从存储单元获取配置信息，并基于配置信息配置待测试芯片；检测设备分别与测试控制单元和待测试芯片连接，用于对被配置后的待测试芯片进行检测，以得到测试数据。第二方面，本申请实施例提供了...
【技术保护点】
1.一种芯片，其特征在于，包括：/n存储单元；/n数据处理单元，所述数据处理单元与所述存储单元连接，用于从上位机中获取配置信息并将所述配置信息存储到所述存储单元；/n测试控制单元，所述测试控制单元与所述数据处理单元连接，用于通过所述数据处理单元从所述存储单元获取所述配置信息，并基于所述配置信息配置待测试芯片；以及/n检测设备，所述检测设备分别与所述测试控制单元和所述待测试芯片连接，用于对被配置后的待测试芯片进行检测，以得到测试数据。/n
【技术特征摘要】
1.一种芯片，其特征在于，包括：
存储单元；
数据处理单元，所述数据处理单元与所述存储单元连接，用于从上位机中获取配置信息并将所述配置信息存储到所述存储单元；
测试控制单元，所述测试控制单元与所述数据处理单元连接，用于通过所述数据处理单元从所述存储单元获取所述配置信息，并基于所述配置信息配置待测试芯片；以及
检测设备，所述检测设备分别与所述测试控制单元和所述待测试芯片连接，用于对被配置后的待测试芯片进行检测，以得到测试数据。
2.根据权利要求1所述的芯片，其特征在于，所述测试控制单元包括：第一主状态机模块和配置控制模块；
所述第一主状态机模块分别与所述数据处理单元、所述上位机、所述配置控制模块以及所述检测设备连接，其中，所述第一主状态机模块用于接收所述上位机发送的测试指令，并响应所述测试指令通过所述数据处理单元从所述存储单元获取所述配置信息；
所述配置控制模块与所述待测试芯片连接，所述配置控制模块用于接收所述第一主状态机模块发送的所述配置信息，并通过所述配置信息配置所述待测试芯片。
3.根据权利要求2所述的芯片，其特征在于，所述测试控制单元还包括：JTAG接口和JTAG编/译码模块；
所述JTAG接口分别与所述上位机和所述JTAG编/译码模块连接，所述JTAG接口用于接收所述上位机发送的测试指令，并将所述测试指令发送至所述JTAG编/译码模块；
所述JTAG编/译码模块与所述第一主状态机模块连接，所述JTAG编/译码模块用于对所述测试指令进行译码后发送至所述第一主状态机模块，或者，对所述第一主状态机模块上传至所述上位机的数据进行编码。
4.根据权利要求2所述的芯片，其特征在于，所述数据处理单元包括：第二主状态机模块和数据转换模块；
所述第二主状态机模块分别与所述上位机、所述第一主状态机模块和所述数据转换模块连接，所述数据转换模块与所述存储单元连接；
所述第二主状态机模块用于控制所述数据转换模块接收所述上位机发送的配置信息，并将所述配置信息转换格式后成指定格式的存储信息后写入所述存储单元，或者，在所述第一主状态机模块接收到所述测试指令时，控制所述数据转换模块从所述存储单元读取所述存储信息，并将所述存储信息转换为所述配置信息后发送至所述第一主状态机模块。
5.根据权利要求4所述的芯片，其特征在于，所述数据转换模块包括：SPI接口、串并转换模块以及FLASH读/写控制模块；
所述SPI接口与所述上位机连接，所述SPI接口用于接收所述上位机发送的所述配置信息，并将所述配置信息转换为SPI数据；
所述串并转换模块分别与所述SPI接口和所述第二主状态机模块，所述串并转换模块用于将所述SPI数据转换为并口数据；
所述FLASH读/写控制模块分别与所述串并转换模块、所述存储单元以及所述第二主状态机模块连接，所述FLASH读/写控制模块用于将所述并口数据写入所述存储单元，或者，从所述存储单元中读取所述并口数据。
6.一种芯片使用方法，其特征在于，应用...
【专利技术属性】
技术研发人员：蒋义冠，许明亮，
申请(专利权)人：深圳市紫光同创电子有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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