低成本超级采样光栅化制造技术

一种覆盖供抗锯齿系统使用的像素阵列的采样模式，其中在所述像素阵列内每个像素具有位于一个或多于一个镜面的采样点模式，其特征在于：　　　　每个像素的所述采样点模式是镜像，且不同于直接相邻像素的所述模式。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术一般涉及图形处理，并更具体地说，涉及用于以低计算成本、高帧速率产生高质量抗锯齿图形图像的方法和装置。
技术介绍
自从早期的计算机图形学以来，当在显示器上呈现静止或活动图像时锯齿就已经成为一个问题。一种防止锯齿图像的低视觉质量的方法是使用通常所说的超级采样。超级采样会提供良好的图像质量，但是由于计算负担重，因此其具有低帧速率的缺点。更具体地说，超级采样以比显示在屏幕上的最终分辨率更高的分辨率再现图像。这是通过再现要显示的每个像素的多个子像素采样来实现的，即，每个像素值都将是子像素采样值的加权和。例如，每个显示的像素可包括像素内的一组四个子像素采样的过滤加权和。容易理解到，这意味着图形硬件必须处理四倍于每个显示像素的采样。专利文件WO-00/33256公开了使用超级采样方案的系统。每个像素被分为定义子像素栅格的或多或少的细网格栅格，其中采样点可位于其中。可以许多不同构形在像素边界内排列子像素采样点。然后对要再现的每个像素重复采样点构形模式。根据上述讨论，每个像素的终值都包括位于子像素中的三个或更多个采样的加权和。专利文件US-6057855公开了确定抗锯齿像素值的系统。类似本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：E·莱德菲尔特，F·托尔夫，M·莱文，T·阿克尼内默勒，
申请(专利权)人：艾利森电话股份有限公司，
类型：发明
国别省市：