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一种测绘仪制造技术

技术编号:2946537 阅读:181 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供一种测绘仪器,具体是一种测绘仪,其结构包括底座和垂直设置于底座上的立柱,底座上方设置X轴传动组和Y轴传动组,所述X轴传动组和Y轴传动组连接带动底座上设置的工作台,立柱上设置有Z轴升降组成,所述Z轴升降组成连接带动光学影像系统和探针触发器,所述探针触发器设置于光学影像系统的下端,在所述X轴传动组、Y轴传动组和Z轴升降组成上还设置有高精度编码器。与现有技术相比,本发明专利技术的一种测绘仪,具有功能强大、精确度高、技术先进、性价比高、效率高效、适用范围广等特点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测绘仪器,具体提供一种具有光、机、电、计算机图像数字处理等多种功能的测绘仪。
技术介绍
随着世界经济一体化进程的推进和深入,中国本土企业的竞争能力加强,尤其是制造业的工艺技术水平大副度提升,而且进步速度快,对产品的质量与精度要求愈来愈高,加之近来逆向工程技术在工业界的兴起,从而迫切需要有一种能满足众多要求的测绘仪器。而现有技术下的测绘仪器功能单一、成本高、精度低,无法满足市场的需要。
技术实现思路
本专利技术是针对以上不足,提供一种功能强大、精确度高、技术先进、性价比高、效率高效、适用范围广的测绘仪。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是一种测绘仪,包括底座和垂直设置于底座上的立柱,高精密花岗石底座上方设置X轴传动组和Y轴传动组,所述X轴传动组和Y轴传动组连接带动高精密花岗石底座上设置的高精密花岗石工作台,所述高精密花岗石立柱上设置有Z轴升降组成,所述Z轴升降组成连接带动光学影像系统和探针触发器,所述探针触发器设置于光学影像系统的下端,在所述X轴传动组、Y轴传动组和Z轴升降组成上还设置有高精度编码器。X轴传动组、Y轴传动组和Z轴升降组成均采用无牙光轴摩擦传动,进一步增大了传动精度。高精密花岗石底座控制面板上设置有电位器,所述电位器包括上光电位器、底光电位器和备用电位器。高精密花岗石底座底部设置有蹄脚螺栓,用于更加稳定的支撑整体。高精密花岗石底座侧壁上设置有搬运手柄,用于移动整体。Z轴升降组成上设置有Z轴升降手柄。高精密花岗石工作台包括上层板A、上层板B、中层板A、中层板B和下层板,所述下层板、中层板B、中层板A、上层板B和上层板A依次叠加于高精密花岗石底座上方。本专利技术的测绘仪是集光学、机械、电子及计算机图像数字技术于一体的高科技产品。其将传统三维坐标机的X、Y、Z的三轴构件,由金属构件改为高精密天然花岗石构件;将传统的丝杆传动改为磨擦传动,由编码器(光栅尺)记数软件修正补偿。与现有技术相比,本专利技术的一种测绘仪,具有功能强大、精确度高、技术先进、性价比高、效率高效、适用范围广等特点。而且,本专利技术的测绘仪,设计方案合理、外观优美、总体积小、符合人体工学原理、操作简单、安装维护方便、智能化与自动化程度高、功能强大、精准度高、专业与通用性都很强、性价比优,因而具有很好的推广使用价值。附图说明下面结合附图和实施例对本专利技术进一步说明。图1为一种测绘仪的结构示意图。1、底座 2、立柱 3、X轴传动组 4、Y轴传动组 5、工作台6、Z轴升降组成 7、光学影像系统 8、探针触发器 9、高精度编码器10、上光电位器 11、低光电位器 12、备用电位器 13蹄脚螺栓14、搬运手柄 15、Z轴升降手柄 16、上层板A 17、上层板B18、中层板A 19、中层板B 20、下层板 21、玻璃载物台具体实施方式下面结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步说明,但不作为对本专利技术的限定。一种测绘仪,包括底座1和垂直设置于底座1上的立柱2,高精密花岗石底座1上方设置X轴传动组3和Y轴传动组4,所述X轴传动组3和Y轴传动组4连接带动高精密花岗石底座1上设置的高精密花岗石工作台5,所述高精密花岗石立柱2上设置有Z轴升降组成6,所述Z轴升降组成6连接带动光学影像系统7和探针触发器8,所述探针触发器8设置于光学影像系统7的下端,在所述X轴传动组3、Y轴传动组4和Z轴升降组成6上还设置有高精度编码器9。X轴传动组3、Y轴传动组4和Z轴升降组成6均采用无牙光轴摩擦传动。高精密花岗石底座1控制面板上设置有电位器,所述电位器包括上光电位器10、底光电位器11和备用电位器12,所述上光电位器控制光学影响系统的上环灯,底光电位器控制载物台19下方设置的底环灯。高精密花岗石底座1底部设置有蹄脚螺栓13。高精密花岗石底座1侧壁上设置有搬运手柄14。Z轴升降组成6上设置有Z轴升降手柄15。高精密花岗石工作台5包括上层板A16、上层板B17、中层板A18、中层板B19和下层板20,所述下层板20、中层板B19、中层板A18、上层板B17和上层板A16依次叠加于高精密花岗石底座1上方。如附图1所示立柱2、底座1、工作台5等主要承载结构件均采用高精密天然花岗石制作,其钢性和稳定好、温度和湿度变化影响小,在一般环境下长期使用仍能保证较高的精度;X轴传动组3、Y轴传动组4和Z轴升降组成6等三轴均采用无牙光轴磨擦传动,运动平稳、无反向间隙、无死位现象,可自由切换手动或电机驱动方式;光学影像系统7(显微镜+CCD)实现对平面几何的非接触测量或抄数,以及对凸台和凹槽的非接触测量;探针触发器8实现对各种平面及空间几何的接触式测量和抄数;高精度编码器9记录X、Y、Z各轴的相对位移值;上光电位器10、底光电位器11和备用电位器12控制电源和灯光。本专利技术的测绘仪工作过程如下被测工件固定在高精密花岗岩工作台5的玻璃载物台21上,由光学影像系统7采集并输出模拟图像信号给视频采集卡,转换成数字图像信号供给计算机处理并显示;高精度编码器9发出的波纹脉冲和探针触发器8发出的高电频信号传递给数据采集卡转换成数字信号供给计算机处理并显示。以上所述的实施例,只是本专利技术较优选的具体实施方式的一种,本领域的技术人员在本专利技术技术方案范围内进行的通常变化和替换都应包含在本专利技术的保护范围内。权利要求1.一种测绘仪,包括底座和垂直设置于底座上的立柱,其特征在于,高精密花岗石底座上方设置X轴传动组和Y轴传动组,所述X轴传动组和Y轴传动组连接带动高精密花岗石底座上设置的高精密花岗石工作台,所述高精密花岗石立柱上设置有Z轴升降组成,所述Z轴升降组成连接带动光学影像系统和探针触发器,所述探针触发器设置于光学影像系统的下端,在所述X轴传动组、Y轴传动组和Z轴升降组成上还设置有高精度编码器。2.根据权利要求1所述的一种测绘仪,其特征在于,所述X轴传动组、Y轴传动组和Z轴升降组成均采用无牙光轴摩擦传动。3.根据权利要求1所述的一种测绘仪,其特征在于,所述高精密花岗石底座控制面板上设置有电位器,所述电位器包括上光电位器、底光电位器和备用电位器。4.根据权利要求1所述的一种测绘仪,其特征在于,所述高精密花岗石底座底部设置有蹄脚螺栓。5.根据权利要求1所述的一种测绘仪,其特征在于,所述高精密花岗石底座侧壁上设置有搬运手柄。6.根据权利要求1所述的一种测绘仪,其特征在于,所述Z轴升降组成上设置有Z轴升降手柄。7.根据权利要求1所述的一种测绘仪,其特征在于,所述高精密花岗石工作台包括上层板A、上层板B、中层板A、中层板B和下层板,所述下层板、中层板B、中层板A、上层板B和上层板A依次叠加于高精密花岗石底座上方。全文摘要本专利技术提供一种测绘仪器,具体是一种测绘仪,其结构包括底座和垂直设置于底座上的立柱,底座上方设置X轴传动组和Y轴传动组,所述X轴传动组和Y轴传动组连接带动底座上设置的工作台,立柱上设置有Z轴升降组成,所述Z轴升降组成连接带动光学影像系统和探针触发器,所述探针触发器设置于光学影像系统的下端,在所述X轴传动组、Y轴传动组和Z轴升降组成上还设置有高精度编码器。与现有技术相比,本专利技术的一种测绘仪,具有功能强大、精确度高、技术先进、性价比高、效率高效、适用范围广等特点。文档编号G01本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测绘仪,包括底座和垂直设置于底座上的立柱,其特征在于,高精密花岗石底座上方设置X轴传动组和Y轴传动组,所述X轴传动组和Y轴传动组连接带动高精密花岗石底座上设置的高精密花岗石工作台,所述高精密花岗石立柱上设置有Z轴升降组成,所述Z轴升降组成连接带动光学影像系统和探针触发器,所述探针触发器设置于光学影像系统的下端,在所述X轴传动组、Y轴传动组和Z轴升降组成上还设置有高精度编码器。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:曾德福
申请(专利权)人:曾德福
类型:发明
国别省市:36[中国|江西]

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