一种三相动力电缺相和相序检测电路制造技术

本实用新型专利技术提供了一种三相动力电缺相和相序检测电路，包括三路检测通路，分别用于检测三相电中的任意两相；检测通路包括电平信号输出电路和波形整理电路，电平信号输出电路根据接入的两相电的电压差产生相应的电平信号，波形整理电路对该电平信号进行波形整理、得到电平波信号，由终端处理器根据电平波信号发生的变化判断缺相和相序变化情况。通过上述设计，可以对三相电的供电状态进行实时监控，对于缺相或相序错误等问题可以及时发现并识别，从而及时采取检修措施、避免因供电故障引起机械设备运行故障的发生，可有效降低安全事故发生率、提高系统运行的安全性和稳定性。

【技术实现步骤摘要】
一种三相动力电缺相和相序检测电路
本技术属于电路检测
，特别涉及一种三相动力电缺相和相序检测电路。
技术介绍
在工业生产中，绝大部分的供电方式是交流三相电，即U、V、W三相电两两之间相差120°电度角。以U-V-W的接线顺序为例，U为第一相、V为第二相、W为第三相，正常接法时V相滞后U相120°电度角，W相滞后V相120°电度角，W相滞后U相240度电度角。如果调换任意两项的接线，则相序会反转、导致设备运行异常，例如相序反转会引起电机转向改变、从而导致故障发生。当三相中的一项或两项发生接线松动或掉线时，则会引起缺相，从而导致设备断电或停转等故障。因此，如果不能及时监测到缺相或相序错误，将会引起故障甚至事故的发生，从而给生产带来巨大损失。
技术实现思路
为了解决上述技术问题，本技术提供了一种三相动力电缺相和相序检测电路。本技术具体技术方案如下：本技术提供了一种三相动力电缺相和相序检测电路，包括三路检测通路，三路所述检测通路分别用于检测三相电中的任意两相；所述检测通路包括电平信号输出电路和波形整理电路，所述电平信号输出电路根据接入的两相电的电压差产生相应的电平信号，所述波形整理电路对所述电平信号进行波形整理，由终端处理器根据波形发生的变化判断缺相和相序变化情况。进一步地，所述电平信号输出电路包括光耦，所述光耦的输入端连接有整流二极管，所述整流二极管通过限流电阻与所述三相电中的任意两项连接；所述波形整理电路包括施密特触发器，所述施密特触发器的输入端连接所述光耦的输出端、输出端接入所述终端处理器。进一步地，所述检测通路包括U-V检测通路、W-V检测通路以及U-W检测通路，所述U-V检测通路包括光耦U14和施密特触发器U1E，所述光耦U14的引脚1连接整流二极管D14的负极、引脚2连接Phase-V、引脚3接地、引脚4通过电阻R24接入电源、并通过电阻R23连接所述施密特触发器U1E的输入端，所述引脚3和所述引脚4之间并联有电容C34，所述整流二极管D14的正极通过限流电阻R18连接Phase-U，所述光耦U14的引脚1和引脚2之间还并联有二极管D13，所述二极管D13的正极连接所述引脚2、负极连接所述引脚1；所述W-V检测通路包括光耦U13和施密特触发器U1F，所述光耦U13的引脚1连接整流二极管D12的负极、引脚2连接Phase-V、引脚3接地、引脚4通过电阻R22接入电源、并通过电阻R21连接所述施密特触发器U1F的输入端，所述引脚3和所述引脚4之间并联有电容C33，所述整流二极管D12的正极通过限流电阻R16连接Phase-W，所述光耦U13的引脚1和引脚2之间还并联有二极管D11，所述二极管D11的正极连接所述引脚2、负极连接所述引脚1；所述U-W检测通路包括光耦U15和施密特触发器U1D，所述光耦U15的引脚1连接整流二极管D10的负极、引脚2连接Phase-W、引脚3接地、引脚4通过电阻R19接入电源、并通过电阻R20连接所述施密特触发器U1D的输入端，所述引脚3和所述引脚4之间并联有电容C31，所述整流二极管D10的正极通过限流电阻R13连接Phase-W，所述光耦U15的引脚1和引脚2之间还并联有二极管D5，所述二极管D5的正极连接所述引脚2、负极连接所述引脚1。进一步地，还包括用于为所述施密特触发器U1E、U1F以及U1D供电的施密特触发器U1G，所述施密特触发器U1G的正极接入电源、负极接地，且正极和负极之间并联有电容C35.本技术的有益效果如下：本技术提供了一种三相动力电缺相和相序检测电路，包括三路检测通路，分别用于检测三相电中的任意两相；检测通路包括电平信号输出电路和波形整理电路，电平信号输出电路根据接入的两相电的电压差产生相应的电平信号，波形整理电路对该电平信号进行波形整理、得到电平波信号，由终端处理器根据电平波信号发生的变化判断缺相和相序变化情况。通过上述设计，可以对三相电的供电状态进行实时监控，对于缺相或相序错误等问题可以及时发现并识别，从而及时采取检修措施、避免因供电故障引起机械设备运行故障的发生，可有效降低安全事故发生率、提高系统运行的安全性和稳定性。附图说明图1为实施例所述的三相动力电缺相和相序检测电路的结构示意图；图2为实施例所述的三相动力电缺相和相序检测电路的电路结构图。具体实施方式下面结合附图和以下实施例对本技术作进一步详细说明。实施例1如图1所示，本技术实施例1提供了一种三相动力电缺相和相序检测电路，包括三路检测通路，三路检测通路分别用于检测三相电中的任意两相；检测通路包括电平信号输出电路1和波形整理电路2，电平信号输出电路1根据接入的两相电的电压差产生相应的电平信号，波形整理电路2对电平信号进行波形整理，由终端处理器根据波形发生的变化判断缺相和相序变化情况。具体地，电平信号输出电路1包括光耦，光耦的输入端连接有整流二极管，整流二极管通过限流电阻与三相电中的任意两项连接；波形整理电路2包括施密特触发器，施密特触发器的输入端连接光耦的输出端、输出端接入终端处理器。如图2所示，具体实施时，检测通路包括U-V检测通路、W-V检测通路以及U-W检测通路，U-V检测通路包括光耦U14(选用TLP281型号)和施密特触发器U1E，光耦U14的引脚1连接整流二极管D14(选用IN4007型号)的负极、引脚2连接Phase-V、引脚3接地、引脚4通过电阻R24(10kΩ)接入电源、并通过电阻R23(300Ω)连接施密特触发器U1E的输入端，引脚3和引脚4之间并联有电容C34(0.1u/50V)，整流二极管D14的正极通过限流电阻R18(680kΩ)连接Phase-U，光耦U14的引脚1和引脚2之间还并联有二极管D13(选用IN4007型号)，二极管D13的正极连接引脚2、负极连接引脚1；W-V检测通路包括光耦U13(选用TLP281型号)和施密特触发器U1F，光耦U13的引脚1连接整流二极管D12(选用IN4007型号)的负极、引脚2连接Phase-V、引脚3接地、引脚4通过电阻R22(10kΩ)接入电源、并通过电阻R21(300Ω)连接施密特触发器U1F的输入端，引脚3和引脚4之间并联有电容C33(0.1u/50V)，整流二极管D12的正极通过限流电阻R16(680kΩ)连接Phase-W，光耦U13的引脚1和引脚2之间还并联有二极管D11(选用IN4007型号)，二极管D11的正极连接引脚2、负极连接引脚1；U-W检测通路包括光耦U15(选用TLP281型号)和施密特触发器U1D，光耦U15的引脚1连接整流二极管D10(选用IN4007型号)的负极、引脚2连接Phase-W、引脚3接地、引脚4通过电阻R19(10kΩ)接入电源、并通过电阻R20(300Ω)连接施密特触发器U1D的输入端，引脚3和引脚4之间并联有电容C31(0.1u/50V)，整流二极管D10的正极通过限流电阻R13(680kΩ)连接本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种三相动力电缺相和相序检测电路，其特征在于，包括三路检测通路，三路所述检测通路分别用于检测三相电中的任意两相；所述检测通路包括电平信号输出电路(1)和波形整理电路(2)，所述电平信号输出电路(1)根据接入的两相电的电压差产生相应的电平信号，所述波形整理电路(2)对所述电平信号进行波形整理，由终端处理器根据波形发生的变化判断缺相和相序变化情况。/n

【技术特征摘要】
1.一种三相动力电缺相和相序检测电路，其特征在于，包括三路检测通路，三路所述检测通路分别用于检测三相电中的任意两相；所述检测通路包括电平信号输出电路(1)和波形整理电路(2)，所述电平信号输出电路(1)根据接入的两相电的电压差产生相应的电平信号，所述波形整理电路(2)对所述电平信号进行波形整理，由终端处理器根据波形发生的变化判断缺相和相序变化情况。


2.如权利要求1所述的三相动力电缺相和相序检测电路，其特征在于，所述电平信号输出电路(1)包括光耦，所述光耦的输入端连接有整流二极管，所述整流二极管通过限流电阻与所述三相电中的任意两项连接；所述波形整理电路(2)包括施密特触发器，所述施密特触发器的输入端连接所述光耦的输出端、输出端接入所述终端处理器。


3.如权利要求2所述的三相动力电缺相和相序检测电路，其特征在于，所述检测通路包括U-V检测通路、W-V检测通路以及U-W检测通路，所述U-V检测通路包括光耦U14和施密特触发器U1E，所述光耦U14的引脚1连接整流二极管D14的负极、引脚2连接Phase-V、引脚3接地、引脚4通过电阻R24接入电源、并通过电阻R23连接所述施密特触发器U1E的输入端，所述引脚3和所述引脚4之间并联有电容C34，所述整流二极管D14的正极通过限流电阻R18连接Phase-U，所述光耦U14的引脚1和引脚2之间还并联有二极管D1...

【专利技术属性】
技术研发人员：王卫兵，梅琦，李耀坤，
申请(专利权)人：北京奇兵智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：北京;11