一种石英波片厚度测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及波片测量技术领域，且公开了一种石英波片厚度测量装置，包括调节仓，所述调节仓的左侧固定连接有把手，所述调节仓的顶部固定连接有数量为两个的固定板，所述调节仓的顶部固定连接有位于两个固定板之间的金属板，所述调节仓的顶部固定连接有位于金属板右侧的放置环。该石英波片厚度测量装置，通过用力按压按动板，使移动杆向着背面运动，带动活动块在第三限位杆上滑动，第三弹簧被压缩，同时底部U型连接架向着背面移动，进而使联动杆对连接板进行挤压，使活动杆向上运动，进一步的使活动板在第一限位杆上滑动，第一弹簧被压缩，带动压板向上运动，然后可将需要测量的石英波片放置在放置环内。

【技术实现步骤摘要】
一种石英波片厚度测量装置
本技术涉及波片测量
，具体为一种石英波片厚度测量装置。
技术介绍
波片是能使互相垂直的两光振动间产生附加光程差的光学器件，通常由具有精确厚度的石英、方解石和云母等双折射晶片做成，其光轴与晶片表面平行，以线偏振光垂直入射到晶片，其振动方向与晶片光轴夹θ角（θ≠0），入射的光振动分解成垂直于光轴（o振动）和平行于光轴（e振动）两个分量，它们对应晶片中的o光和e光（见双折射），石英因为双折射系数过大，一般只适合做多级或胶合零级波片。石英波片在光学领域中的应用十分的广泛，在实际应用中都会对其进行测量，选择合适的石英波片进行使用，中国专利CN209166286U中公开了一种石英波片厚度的测量装置，该装置通过将石英波片本体平放在垫块上，调整伸缩杆的上下位置，使触头接触石英波片本体的顶部，拿出放大镜观察指针指向测量尺上刻度的位置，测量出石英波片本体的厚度，得到粗略的数值，可以方便使用者筛选石英波片的厚度类别，但是该装置没有固定机构，石英波片在测量时很容易滑落，导致石英波片损坏，同时整个装置使用时的方便性有待提高，故提出本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种石英波片厚度测量装置，包括调节仓（1），其特征在于：所述调节仓（1）的左侧固定连接有把手（4），所述调节仓（1）的顶部固定连接有数量为两个的固定板（9），所述调节仓（1）的顶部固定连接有位于两个固定板（9）之间的金属板（11），所述调节仓（1）的顶部固定连接有位于金属板（11）右侧的放置环（17），所述放置环（17）的内周壁固定连接有数量为三个的伸缩杆（18），三个所述伸缩杆（18）相对的一侧均固定连接有固定块（20），所述伸缩杆（18）的外侧套装有第二弹簧（19），两个所述固定板（9）的内顶壁与调节仓（1）的顶部之间均固定连接有数量为两个的第一限位杆（6），同一固定板（9）内的两个所...

【技术特征摘要】
1.一种石英波片厚度测量装置，包括调节仓（1），其特征在于：所述调节仓（1）的左侧固定连接有把手（4），所述调节仓（1）的顶部固定连接有数量为两个的固定板（9），所述调节仓（1）的顶部固定连接有位于两个固定板（9）之间的金属板（11），所述调节仓（1）的顶部固定连接有位于金属板（11）右侧的放置环（17），所述放置环（17）的内周壁固定连接有数量为三个的伸缩杆（18），三个所述伸缩杆（18）相对的一侧均固定连接有固定块（20），所述伸缩杆（18）的外侧套装有第二弹簧（19），两个所述固定板（9）的内顶壁与调节仓（1）的顶部之间均固定连接有数量为两个的第一限位杆（6），同一固定板（9）内的两个所述第一限位杆（6）的外侧活动安装有活动板（7），所述第一限位杆（6）的外侧套装有位于活动板（7）顶部的第一弹簧（8），所述金属板（11）的内顶壁与调节仓（1）的顶部之间固定连接有第二限位杆（12），两个所述活动板（7）之间固定安装有位于第二限位杆（12）外侧的压板（10），所述压板（10）的底部固定连接有位于放置环（17）顶部的接触板（13），所述压板（10）的正面固定安装有位于第二限位杆（12）正面的放大镜（14），所述压板（10）的底部固定连接有位于放大镜（14）背面的连接杆（15），所述连接杆（15）左右两侧的底部均固定连接有指示针（16），所述调节仓（1）正面的内壁和背面的内壁之间固定连接有第三限位杆（27），所述第三限位杆（27）的外侧活动安装有活动块（24），所述第三限位杆（27）的外周壁固定连接有位于活动块（24）背面的限位环（26），所述第三限位杆（27）的外侧套装有位于限位环（26）与活动块（24）之间的第三弹簧（25），所述活动块（24）的左侧固定连接有一端贯穿并延伸至调节仓（1）左侧的移动杆（2）...

【专利技术属性】
技术研发人员：李恒忠，黄友义，
申请(专利权)人：福州福睿科光电有限公司，
类型：新型
国别省市：福建;35