用于控制制造设施的控制装置以及制造设施和方法制造方法及图纸

用于控制制造设施(1)的控制装置，其中所述制造设施(1)包括用于执行制造过程的至少一个过程站(2a、b、c)，其中所述制造设施(1)和/或所述过程站（2a、b、c）具有用于调节和/或控制的至少一个过程参数（6），其中所述制造设施（1）和/或所述过程站（2a、b、c）具有用于检测至少一个过程特征（12）的至少一个检测装置，所述控制装置具有第一控制模块（7）和第二控制模块（11），其中所述第一控制模块（7）和所述第二控制模块（11）被构造用于为了调节所述制造设施（1）和/或所述过程站（2a、b、c）分别基于机器学习算法和所述过程特征（12）为所述过程参数（6）确定调节值和/或模型。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于控制制造设施的控制装置以及制造设施和方法
提出了一种用于控制制造设施的控制装置。所述制造设施包括用于执行制造过程的至少一个过程站，其中所述制造设施和/或所述过程站具有用于调节和/或控制的至少一个过程参数。此外，所述制造设施和/或所述过程站具有用于检测过程特征的至少一个检测装置。所述控制装置包括控制模块，其中所述控制模块被构造为基于机器学习算法确定调节值或模型。
技术介绍
制造设施和试验设施以多种方式用于生产、试验技术和测量技术。制造设施和试验设施被构造为执行制造过程和/或试验过程。在此通常在整个流程中执行多个过程。这些过程可以由不同的过程站执行。为了实现最佳质量和最佳的制造成本和/或试验成本，必须对这些过程及其参数进行调节、设置和/或优化。该调节特别是在正在进行的运行期间进行。然而，在制造和/或试验期间经常发生所用材料的批次波动和/或工具磨损。在这些过程的参数化中也必须考虑这样的变化。到目前为止，重新调节是由有经验的用户或设置者进行的。可能形成最接近现有技术的出版物DE102016206031A1描述了一种焊接设备以及一种用于监视和调节焊接过程的方法。在该出版物中，焊接使用由装置监视和/或调节的焊接工具进行。作为求取变量确定不同的焊接过程变量，例如电压、电流强度和/或力。在此，基于这些变量估计其他过程变量，例如温度，以从而改进和/或优化所述焊接过程。
技术实现思路
提出了一种具有权利要求1的特征的用于控制制造设施的控制装置。此外，提出了一种具有权利要求13的特征的制造设施以及一种具有权利要求15的特征的用于控制制造设施的方法。本专利技术的优选和/或有利的实施方式从从属权利要求、说明书和附图中得出。提出了一种用于控制制造设施的控制装置。所述控制装置例如被构造为计算机或处理器单元和/或微芯片单元。可以借助于所述控制装置控制、参数化、优化和/或设置所述制造设施。特别地，所述控制装置被构造为对所述制造设施进行连续和/或初始的优化、控制和/或设置。例如，优化应理解为在制造质量和/或制造成本方面改进所述制造设施。所述制造设施被构造为制造工件和/或检查工件。具体地，制造设施可以理解为试验设施，其中于是将试验步骤理解为制造过程。特别地，所述制造设施是工厂设施。所述控制装置可以形成分散的或中央的控制装置。例如，所述控制装置以数据技术与所述制造设施连接和/或可以连接。所述制造设施具有至少一个过程站。特别地，所述制造设施具有多于两个或多于十个过程站。这些过程站可以是本地的位置和/或站，它们例如在空间上是分离的。替代地，过程站可以在空间上重合。所述过程站被构造为执行制造过程。特别地，不同的过程站执行不同的制造过程。这些制造过程可以理解为所述制造设施的子过程和/或工件制造的子过程。例如，制造过程是切割、热处理或成型。不同过程站的制造过程可以彼此跟随和/或相互协调。特别地，过程站和/或制造过程可以相互干预。此外，制造过程也可以并行运行。所述制造设施和/或所述过程站具有至少一个过程参数。特别地，过程站和/或所述制造设施可以具有多个过程参数。这些过程参数特别是可设置的、可调节的和/或可控的变量。可以借助于所述过程参数来控制和/或调节所述制造过程和/或所述制造设施。例如，通过设置和/或改变过程参数，可以改变制造过程和/或整个制造设施的速度和/或质量。特别地，一个过程站的过程参数的变化可能会影响另一过程站。特别地，有时可能通过改变过程参数而必须重新调节同一过程站或另一过程站的其他过程参数。所述制造设施和/或所述过程站具有用于检测过程特征的至少一个检测装置。所述过程特征例如是表征所述制造过程和/或所制造的工件的变量。所述检测装置可以是用于检测表征所述制造过程和/或所述工件的物理变量、化学变量和/或机械变量的传感器装置。例如，所述过程特征是温度偏差或形状偏差。特别地，所述过程特征还可以是所述工件和/或所述制造过程的质量特征。在此可以规定，所述检测装置包括输入装置，用户可以借助于该输入装置输入和/或存储质量特征。质量特征特别是可以源自所述工件和/或所述制造设施的后续和/或下游的质量保证。特别地，可以通过多个过程特征来表征过程站。过程参数的变化和/或调节优选地导致所述过程特征的改变。因此，过程参数和过程特征特别是以因果关系联系在一起。如果所述制造设施具有多个过程站和/或多个制造过程，则可以控制和/或调节多个过程参数，其中优选地为不同的制造过程和/或过程站分别确定和/或可以确定自己的过程特征。所述控制装置具有第一控制模块和第二控制模块。所述第一控制模块和所述第二控制模块可以包括在通用计算机或通用数据处理模块中。所述第一控制模块和所述第二控制模块可以被构造为软件模块或硬件模块。特别地，将所述过程参数和/或所述过程特征提供给所述第一控制模块和所述第二控制模块。特别是可以规定，所述第一控制模块和所述第二控制模块以数据技术与所述制造设施和/或所述过程站连接，以从而例如调节、改变和/或控制所述过程参数。所述第一控制模块和所述第二控制模块被构造为执行和/或实施机器学习算法。例如，所述第一控制模块和/或所述第二控制模块包括神经网络和/或具有深度学习算法。特别地，所述第一控制模块和所述第二控制模块被构造为使得在不同时间主动地实施机器学习算法。特别是规定，时间上在执行所述第二控制模块的机器学习算法之前进行所述第一控制模块的机器学习算法。特别是规定，由所述第二控制模块连续地和/或在连续循环中执行所述第二机器学习算法。所述第一控制模块的机器学习算法特别是在制造的初始化和/或新开启时应用。机器学习算法特别是理解为借助于人工智能建立和/或改进知识和/或经验。特别地，所述第一控制模块和所述第二控制模块的两种机器学习算法基于不同的学习重点和/或学习方法。例如，这些机器学习算法被构造用于受监视地学习，例如部分监视地学习、有限地学习和/或主动学习。替代地，所述机器学习算法可以构造用于无监视地学习。所述第一控制模块和/或所述第二控制模块被构造为基于机器学习算法并且特别是基于所述过程特征和/或所设置的过程参数来确定、改进和/或优化所述过程参数的调节值。特别地，所述第一控制模块和所述第二控制模块可以被构造为为了调节和控制所述过程站和/或所述制造设施的过程参数而确定、改进和/或优化模型。例如，所述控制模块被构造为借助于机器学习算法来检查和/或建模过程参数的流入和/或制造设施中的变化对所述过程特征和/或工件质量的影响。本专利技术基于以下思想：通过使用具有两种机器学习算法的两个控制模块，可以优化和/或改进具有多个制造过程和/或过程参数的制造设施。从而也可以优化复杂的制造设施，在这些复杂的制造设施的情况下例如用户很容易失去全局概况。从而例如可能的是，在开始时改变唯一的过程参数就已经可以影响制造设施中最后的工件质量和/或过程。通过监视，特别是在时间上错开地监视和/或使用不同机器学习算法地监视，可以理解复杂的影响。从而例如多个过程站的本地监视可以导致结果的优化。特别优选的是，所述控制装置具有组合模块。所述组合模块特别是被构造为计算机单元或计算本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于控制制造设施(1)的控制装置，/n其中所述制造设施(1)包括用于执行制造过程的至少一个过程站(2a、b、c)，/n其中所述制造设施(1)和/或所述过程站（2a、b、c）具有用于调节和/或控制的至少一个过程参数（6），/n其中所述制造设施（1）和/或所述过程站（2a、b、c）具有用于检测至少一个过程特征（12）的至少一个检测装置，/n其特征在于第一控制模块（7）和第二控制模块（11），其中所述第一控制模块（7）和所述第二控制模块（11）被构造用于为了调节所述制造设施（1）和/或所述过程站（2a、b、c）分别基于机器学习算法和所述过程特征（12）为所述过程参数（6）确定调节值和/或模型。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20181205 DE 102018221002.01.一种用于控制制造设施(1)的控制装置，
其中所述制造设施(1)包括用于执行制造过程的至少一个过程站(2a、b、c)，
其中所述制造设施(1)和/或所述过程站（2a、b、c）具有用于调节和/或控制的至少一个过程参数（6），
其中所述制造设施（1）和/或所述过程站（2a、b、c）具有用于检测至少一个过程特征（12）的至少一个检测装置，
其特征在于第一控制模块（7）和第二控制模块（11），其中所述第一控制模块（7）和所述第二控制模块（11）被构造用于为了调节所述制造设施（1）和/或所述过程站（2a、b、c）分别基于机器学习算法和所述过程特征（12）为所述过程参数（6）确定调节值和/或模型。


2.根据权利要求1所述的控制装置，其特征在于组合模块(14)，其中向所述组合模块(14)提供所述第一控制模块(7)和所述第二控制模块(11)的调节值和/或模型，其中所述组合模块(14)被构造为基于机器学习算法细化和/或确定所述制造设施(1)的全局模型，其中所述组合模块(14)被构造为将所述全局模型提供给所述第一控制模块(7)和/或所述第二控制模块(12)。


3.根据权利要求1或2中任一项所述的控制装置，其特征在于用于存储所确定的模型和/或调节值的存储模块(13)。


4.根据前述权利要求中任一项所述的控制装置，其特征在于，所述第一控制模块(7)被构造为，作为调节值确定所述过程参数(6)的初始值。


5.根据权利要求4所述的控制装置，其特征在于，所述第一控制模块(7)被构造用于为了启动制造而确定所述初始值，其中所述初始值的确定基于先前制造的所存储的模型和/或调节值。


6.根据前述权利要求中任一项所述的控制装置，其特征在于，所述第二控制模块(7)被构造用于为所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：M·赫拉瓦奇，M·舍普夫，M·瓦尔特，
申请(专利权)人：罗伯特·博世有限公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE