一种磁材表面电阻率测试笔制造技术

技术编号:29407815 阅读:29 留言:0更新日期:2021-07-23 22:47
本实用新型专利技术公开了一种磁材表面电阻率测试笔,包括本体,本体的材料为绝缘材料,本体具有容纳腔,容纳腔设置有腔口;检测组件,位于容纳腔内,检测组件具有平行设置的第一探针和第二探针,第一探针具有第一探测部,第二探针具有第二探测部,第一探测部和第二探测部延伸至腔口外,第一探测部和第二探测部用于接触磁材表面;隔离件,位于容纳腔内,隔离件的材料为绝缘材料,隔离件分隔第一探针和第二探针。本实用新型专利技术的一种磁材表面电阻率测试笔能够使每次测试时两根探针之间的距离保持一致。

【技术实现步骤摘要】
一种磁材表面电阻率测试笔
本技术涉及电阻率测试工具领域,特别涉及一种磁材表面电阻率测试笔。
技术介绍
目前市场上的电阻率测试工具的表笔通常是分为两支,然后两支表笔分别连接表头,两支表笔分别由两只手分开操作接触磁材。然而,两支表笔接触磁材的时候,由于两支表笔分开操作,两支表笔每次接触磁材的距离不同,影响测试准确性。
技术实现思路
本技术的目的在于至少解决现有技术中存在的技术问题之一,提供一种磁材表面电阻率测试笔,能够使每次测试时两根探针之间的距离保持一致。本技术是通过以下的技术方案实现的:本技术的第一方面,是提供一种磁材表面电阻率测试笔,包括:本体,所述本体的材料为绝缘材料,所述本体具有容纳腔,所述容纳腔设置有腔口;检测组件,位于所述容纳腔内,所述检测组件具有平行设置的第一探针和第二探针,所述第一探针具有第一探测部,所述第二探针具有第二探测部,所述第一探测部和所述第二探测部延伸至所述腔口外,所述第一探测部和所述第二探测部用于接触磁材表面;隔离件,位于所述容纳腔内,所述隔离件的材料为绝缘材料,所述隔离件分隔所本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种磁材表面电阻率测试笔,其特征在于,包括:/n本体(100),所述本体(100)的材料为绝缘材料,所述本体(100)具有容纳腔(110),所述容纳腔(110)设置有腔口(120);/n检测组件(200),位于所述容纳腔(110)内,所述检测组件(200)具有平行设置的第一探针(210)和第二探针(220),所述第一探针(210)具有第一探测部(230),所述第二探针(220)具有第二探测部(240),所述第一探测部(230)和所述第二探测部(240)延伸至所述腔口(120)外,所述第一探测部(230)和所述第二探测部(240)用于接触磁材表面;/n隔离件(300),位于所述容纳腔(110...

【技术特征摘要】
1.一种磁材表面电阻率测试笔,其特征在于,包括:
本体(100),所述本体(100)的材料为绝缘材料,所述本体(100)具有容纳腔(110),所述容纳腔(110)设置有腔口(120);
检测组件(200),位于所述容纳腔(110)内,所述检测组件(200)具有平行设置的第一探针(210)和第二探针(220),所述第一探针(210)具有第一探测部(230),所述第二探针(220)具有第二探测部(240),所述第一探测部(230)和所述第二探测部(240)延伸至所述腔口(120)外,所述第一探测部(230)和所述第二探测部(240)用于接触磁材表面;
隔离件(300),位于所述容纳腔(110)内,所述隔离件(300)的材料为绝缘材料,所述隔离件(300)分隔所述第一探针(210)和所述第二探针(220)。


2.根据权利要求1所述的一种磁材表面电阻率测试笔,其特征在于,所述第一探测部(230)具有渐缩部,所述渐缩部的横截面积沿远离所述本体(100)的方向减小。


3.根据权利要求1所述的一种磁材表面电阻率测试笔,其特征在于,所述隔离件(300)还包括两个导向孔,两个所述导向孔的轴线与所述腔口(120)垂直,所述第一探针(210)和所述第二探针(220)分别与两个所述导向孔配合滑动。


4.根据权利要求3所述的一种磁材表面电阻率测试笔,其特征在于,还包括弹簧(250),所述弹簧(250)位于所述容纳...

【专利技术属性】
技术研发人员:薛立彬
申请(专利权)人:肇庆市金沥磁性电子有限公司
类型:新型
国别省市:广东;44

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