一种用于非接触场强的可视化调试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种用于非接触场强的可视化调试系统，可视化调试系统与支付终端相连；所述可视化调试系统包括MCU主控芯片和LED线圈感应阵列，所述支付终端包括非接触刷卡电路以及串联在非接触刷卡电路中的非接触刷卡芯片和非接触线圈，所述MCU主控芯片与所述非接触刷卡芯片相连，所述LED线圈感应阵列与所述非接触线圈相互感应。优点是：使用LED线圈感应阵列将电磁波能量可视化，便于准确的找到非接触区域的场强中心；将非接触刷卡电路中的问题可视化体现在LED线圈感应阵列上，使调试人员更加直观的获知调试方向，提升调试效率；使用LED线圈感应阵列代替银行卡进行调试，重复次数少，并能够准确定位非接触区域的场强中心，为后续工作提供便利。

【技术实现步骤摘要】
一种用于非接触场强的可视化调试系统
本技术涉及NFC刷卡调试
，尤其涉及一种用于非接触场强的可视化调试系统。
技术介绍
随着电子支付行业的不断发展，人们对电子支付终端的安全性及使用体验提出了更高的需求，POS机等支付终端需要对其内部的非接触刷卡电路进行调试，以保证其达到最佳状态，在针对不同的卡进行信息读取时，都能够准确读取卡中信息；以调试非接触刷卡电路为例说明，具体调试流程如下，可参见图1，1、拆开支付终端，对非接触刷卡电路引线做测试前的焊接准备工作；2、连接网络分析仪，通过史密斯图看非接天线的匹配效果，不满足要求时需要调整电路中的电阻电容来对线圈进行匹配，以达到最佳天线匹配效果；最佳匹配效果可使天线性能发挥到最大，输出最佳的场强大小；3、测试多张不同类的银行卡，在不同距离时的刷卡效果，具体测试范围。如图2所示，垂直测试0-4厘米，0cm包括中心点及水平距离1.5cm圆周上均分60°的6个点，1-4cm包括中心点及水平距离1.5cm和2.5cm两个圆周上各6个测试点，组成上图测试空间示意图。4、调试完天线后，重复上述步骤，直到满足测试要求。通过上述调试过程可以看出，使用网络分析仪和史密斯图进行调试，测试点以及测试卡片众多，如一张卡片没有通过测试，就需要重新调整匹配电路再重新测试所有的卡片以及点，拆机后根据测试数据摸索的调整非接天线位置及大小，测试过程非常繁琐，不仅浪费时间精力，效率低下；还会出现测试不准确的情况，浪费人力物力。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种用于非接触场强的可视化调试系统，从而解决现有技术中存在的前述问题。为了实现上述目的，本技术采用的技术方案如下：一种用于非接触场强的可视化调试系统，可视化调试系统与支付终端相连；所述可视化调试系统包括MCU主控芯片和LED线圈感应阵列，所述支付终端包括非接触刷卡电路以及串联在非接触刷卡电路中的非接触刷卡芯片和非接触线圈，所述MCU主控芯片与所述非接触刷卡芯片相连，所述LED线圈感应阵列与所述非接触线圈相互感应。优选的，所述LED线圈感应阵列包括感应电路以及串联在感应电路中的闭合线圈和多个LED发光管；所述闭合线圈与所述非接触线圈相互感应。本技术的有益效果是：1、使用LED线圈感应阵列将电磁波能量可视化，便于准确的找到非接触区域的场强中心；将非接触刷卡电路中的问题可视化体现在LED线圈感应阵列上，使调试人员更加直观的获知调试方向，提升调试效率。2、使用LED线圈感应阵列代替银行卡进行调试，重复次数少，并能够准确定位非接触区域的场强中心，为后续工作提供便利。附图说明图1是现有技术中的调试过程示意图；图2是现有技术中调试的测试空间示意图；图3是本技术实施例中可视化调试系统示意图；图4是本技术实施例中的调试过程示意图。具体实施方式为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施方式仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。如图3所示，本实施例中，提供了一种用于非接触场强的可视化调试系统，可视化调试系统与支付终端相连；所述可视化调试系统包括MCU主控芯片和LED线圈感应阵列，所述支付终端包括非接触刷卡电路以及串联在非接触刷卡电路中的非接触刷卡芯片和非接触线圈，所述MCU主控芯片与所述非接触刷卡芯片相连，所述LED线圈感应阵列与所述非接触线圈相互感应。本实施例中，所述LED线圈感应阵列包括感应电路以及串联在感应电路中的闭合线圈和多个LED发光管；所述闭合线圈与所述非接触线圈相互感应。本实施例中，MCU主控芯片可通过SPI信号与非接触刷卡芯片进行通信，向非接触刷卡芯片发送指令，并接收非接触刷卡芯片返回的银行卡刷卡信息，做交易处理。非接触刷卡芯片，接收主控MCU主控芯片发来的指令，完成非接场强的发射，读取银行卡交易信息，并且返回数据交由MCU主控芯片处理；非接触刷卡电路需要调试达到最佳能量的发射，便于读取不同类型，不同形状，不同协议的银行卡信息，由于支付终端面向的银行卡多种多样，所以对非接触刷卡电路的要求严格，需要满足银行卡组织规定的各种认证，既要满足安全的需求，又要满足不同场景下刷卡的需求，因此，要对非接触刷卡电路进行充分的调试达到严格的检测标准。因此，可以本技术将电磁波可视化的方案用于非接触刷卡电路，通过观察LED线圈感应阵列，进而调整非接触刷卡电路，使得非接触刷卡电路发射的电磁波能量集中在非接触线圈中央。LED线圈感应阵列，是将无数个LED发光管以及闭合线圈串联在感应线路中，并集成在类似LCD屏幕的面板中，由于非接触刷卡电路调试时会发射变化的电磁波能量，根据电磁感应定律，闭合线圈会感应变化的能量，并产生感应电流，进而带动LED发光管发光；由于不同区域，不同位置，不同距离的电磁波区域能量大小不通，同一平面中心能量集中，周围能量发散，距离越远，能量越分散，LED线圈感应阵列通过感应到不同能量大小的电磁波，也将带动LED发光管发出不同强弱程度的亮光，通过观察LED发光管的发光强弱程度以及那个区域的LED发光管在发光，就可以直观的观察到哪些位置的能量集中，非接触刷卡电路的能量中心点具体在什么位置，从而可以根据LED发光管的亮度调整匹配电路，使非接触刷卡电路发射的电磁波能量更多的集中到非接触线圈中央。如图4所示，本实施例中，在使用可视化调试系统进行非接触刷卡电路的调试时，首先将此LED线圈感应阵列放入非接触场强区域内，非接触电路通过非接触芯片接收MCU主控芯片发射的指令后，发射场强，LED线圈感应阵列根据能量分布的不同会在不同位置感应出不同电流大小，从而影响面板上LED灯的亮度，通过观察亮度的明暗，最明亮的区域是场强的中心位置，不同距离的最明亮区域可以确定中心位置是否在非接触场强的中心，如不满足，也可调整匹配电路，来达到实际场强的中心就在非接触线圈的中心的效果；通过明暗程度，也可以判断不同位置的场强大小，然后再调整匹配电路，增大场强，满足测试条件，通过LED线圈感应阵列，可以将好多问题集中体现，修改起来节省操作步骤，提升效率。通过采用本技术公开的上述技术方案，得到了如下有益的效果：本技术提供了一种用于非接触场强的可视化调试系统，使用LED线圈感应阵列将电磁波能量可视化，便于准确的找到非接触区域的场强中心；将非接触刷卡电路中的问题可视化体现在LED线圈感应阵列上，使调试人员更加直观的获知调试方向，提升调试效率。使用LED线圈感应阵列代替银行卡进行调试，重复次数少，并能够准确定位非接触区域的场强中心，为后续工作提供便利。以上所述仅是本技术的优选实施方式，应当指出，对于本
的普通技术人员来说，在不脱离本技术原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视本技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于非接触场强的可视化调试系统，可视化调试系统与支付终端相连；其特征在于：所述可视化调试系统包括MCU主控芯片和LED线圈感应阵列，所述支付终端包括非接触刷卡电路以及串联在非接触刷卡电路中的非接触刷卡芯片和非接触线圈，所述MCU主控芯片与所述非接触刷卡芯片相连，所述LED线圈感应阵列与所述非接触线圈相互感应。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于非接触场强的可视化调试系统，可视化调试系统与支付终端相连；其特征在于：所述可视化调试系统包括MCU主控芯片和LED线圈感应阵列，所述支付终端包括非接触刷卡电路以及串联在非接触刷卡电路中的非接触刷卡芯片和非接触线圈，所述MCU主控芯片与所述非接触刷卡芯片相...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯强，
申请(专利权)人：艾体威尔电子技术北京有限公司，
类型：新型
国别省市：北京;11