一种印刷机组的两阶段退化分析方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种印刷机组的两阶段退化分析方法，包括确定印刷机组的两阶段退化过程；采用引入有外部因素变化的强度因子的非齐次Poisson过程对印刷机组的退化点产生过程进行建模，得到退化点数目的期望值模型，并进一步采用引入有外部因素的影响因子的非定态Gamma过程对印刷机组的退化点生长过程进行建模，得到退化点的退化量模型；根据退化点的退化量模型，确定退化量最大的退化点，并将最大退化量与第一阈值及第二阈值进行对比，确定印刷机组是否需要进行维护，且在需要维护时，确定相应的维护决策。实施本发明专利技术，能够分析外部环境因素变化对系统退化过程的影响规律，用以确定设备是否需要维护及维护决策。

【技术实现步骤摘要】
一种印刷机组的两阶段退化分析方法及装置
本专利技术涉及设备维护
，尤其涉及一种印刷机组的两阶段退化分析方法及装置。
技术介绍
随着对系统及组件的失效机理和退化规律认识的不断加深，人们发现系统的外部工作环境与其可靠性存在直接或间接的联系。实际生产中，大部分系统所处的外部环境发生变化往往会对设备产生冲击，这种随机性的冲击会直接影响系统的退化过程，甚至使其发生特定形式的失效，即随机失效过程。此外，外部冲击对系统的损伤具有累积效应，具体表现为系统退化量的增大以及损伤范围的扩大，使得由外部冲击导致的系统退化过程呈现多阶段的特征。因此，需要根据现实中存在的外部冲击对系统退化过程的影响情况，提出一种考虑外部冲击的印刷机组两阶段退化分析方法，开展外部冲击作用下的印刷机组维护决策问题研究，揭示外部环境因素变化对系统退化过程的影响规律，确定设备是否需要维护及维护决策。
技术实现思路
本专利技术实施例所要解决的技术问题在于，提供一种印刷机组的两阶段退化分析方法及装置，能够分析外部环境因素变化对系统退化过程的影响规律，用以确定设备是否需要维护及维护决策。为了解决上述技术问题，本专利技术实施例提供了一种印刷机组的两阶段退化分析方法，所述方法包括以下步骤：S1、确定印刷机组的两阶段退化过程包括退化点产生过程和退化点生长过程；S2、采用引入有外部因素变化的强度因子的非齐次Poisson过程对印刷机组的退化点产生过程进行建模，得到退化点数目的期望值模型，并进一步采用引入有外部因素的影响因子的非定态Gamma过程对印刷机组的退化点生长过程进行建模，得到退化点的退化量模型；S3、根据所得到的退化点的退化量模型，确定退化量最大的退化点，并将退化量最大的退化点的退化量与第一阈值及第二阈值进行对比，进一步根据对比结果，确定印刷机组是否需要进行维护，且在确定印刷机组需要进行维护时，确定相应的维护决策。其中，所述步骤S3具体包括：若退化量最大的退化点的退化量小于所述第一阈值，则确定印刷机组不需要进行维护；若退化量最大的退化点的退化量大于所述第一阈值且小于所述第二阈值，则确定印刷机组需要进行维护，且维护决策为预防性替换；若退化量最大的退化点的退化量大于等于所述第二阈值，则确定印刷机组需要进行维护，且维护决策为故障替换。其中，所述方法进一步包括：在确定维护决策为故障替换时，结合相应的退化点数目及外部冲击次数，在预设的故障替换概率模型中进行计算，得到故障替换的概率。其中，所述方法进一步包括：在确定维护决策为预防性替换时，结合相应的退化点数目及外部冲击次数，在预设的预防性替换概率模型中进行计算，得到预防性替换的概率。其中，所述方法进一步包括：构建以设备单位期望成本为优化目标的两阶段退化设备单位期望成本模型，并导入单位检测成本、单次预防性维护成本和单次故障维护成本，以及故障替换的概率和预防性替换的概率，计算得到印刷机组的两阶段退化的维护成本。本专利技术实施例还提供了一种印刷机组的两阶段退化分析系统，包括：两阶段退化过程确定单元，用于确定印刷机组的两阶段退化过程包括退化点产生过程和退化点生长过程；两阶段退化模型构建单元，用于采用引入有外部因素变化的强度因子的非齐次Poisson过程对印刷机组的退化点产生过程进行建模，得到退化点数目的期望值模型，并进一步采用引入有外部因素的影响因子的非定态Gamma过程对印刷机组的退化点生长过程进行建模，得到退化点的退化量模型；结果分析单元，用于根据所得到的退化点的退化量模型，确定退化量最大的退化点，并将退化量最大的退化点的退化量与第一阈值及第二阈值进行对比，进一步根据对比结果，确定印刷机组是否需要进行维护，且在确定印刷机组需要进行维护时，确定相应的维护决策。实施本专利技术实施例，具有如下有益效果：本专利技术能够有效分析外部环境因素变化对设备退化过程的影响，并将设备退化过程分为退化点产生过程和退化点生长过程，且进一步通过外部因素变化的强度因子和影响因子能够有效掌控退化点数目的变化规律，分析各退化点的实时退化速率，能够模拟退化点的产生过程和生长过程，进而以此为依据来确定设备是否需要维护，以及确定设备需要维护时的维护决策，从而降低了系统故障概率，减少了维护投入成本。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，根据这些附图获得其他的附图仍属于本专利技术的范畴。图1为本专利技术实施例提供的一种印刷机组的两阶段退化分析方法的流程图；图2为本专利技术实施例提供的一种印刷机组的两阶段退化分析方法的应用场景中λsh＝0时单阶段和两阶段退化模型的单位期望成本分析的对比曲线图；图3为本专利技术实施例提供的一种印刷机组的两阶段退化分析方法的应用场景中λsh＝5时单阶段和两阶段退化模型的单位期望成本分析的对比曲线图；图4为本专利技术实施例提供的一种印刷机组的两阶段退化分析方法的应用场景中λsh＝8时单阶段和两阶段退化模型的单位期望成本分析的对比曲线图；图5为本专利技术实施例提供的一种印刷机组的两阶段退化分析方法的应用场景中λsh＝10时单阶段和两阶段退化模型的单位期望成本分析的对比曲线图；图6为本专利技术实施例提供的一种印刷机组的两阶段退化分析结构示意图。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本专利技术作进一步地详细描述。如图1所示，为本专利技术实施例中，提供的一种印刷机组的两阶段退化分析方法，所述方法包括以下步骤：步骤S1、确定印刷机组的两阶段退化过程包括退化点产生过程和退化点生长过程；步骤S2、采用引入有外部因素变化的强度因子的非齐次Poisson过程对印刷机组的退化点产生过程进行建模，得到退化点数目的期望值模型，并进一步采用引入有外部因素的影响因子的非定态Gamma过程对印刷机组的退化点生长过程进行建模，得到退化点的退化量模型；步骤S3、根据所得到的退化点的退化量模型，确定退化量最大的退化点，并将退化量最大的退化点的退化量与第一阈值及第二阈值进行对比，进一步根据对比结果，确定印刷机组是否需要进行维护，且在确定印刷机组需要进行维护时，确定相应的维护决策。具体过程为，在步骤S1中，设备性能退化主要由其外部环境因素变化引起，且设备退化过程经历退化点产生和生长两个阶段，随着退化点的成长，设备退化量递增，并且各退化点的产生过程和生长过程彼此独立，但服从相同分布。在步骤S2中，设备所处的工作环境比较恶劣，外部因素变化对设备的退化影响巨大。一般来说，外部因素变化具有随机性，并且每次变化都会对设备产生随机冲击，冲击会对设备造成损伤。由于泊松过程具有很强的普遍性，很多情况下可以认为一段时间内发生随机冲击的次数服从本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种印刷机组的两阶段退化分析方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：/nS1、确定印刷机组的两阶段退化过程包括退化点产生过程和退化点生长过程；/nS2、采用引入有外部因素变化的强度因子的非齐次Poisson过程对印刷机组的退化点产生过程进行建模，得到退化点数目的期望值模型，并进一步采用引入有外部因素的影响因子的非定态Gamma过程对印刷机组的退化点生长过程进行建模，得到退化点的退化量模型；/nS3、根据所得到的退化点的退化量模型，确定退化量最大的退化点，并将退化量最大的退化点的退化量与第一阈值及第二阈值进行对比，进一步根据对比结果，确定印刷机组是否需要进行维护，且在确定印刷机组需要进行维护时，确定相应的维护决策。/n

【技术特征摘要】
1.一种印刷机组的两阶段退化分析方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：
S1、确定印刷机组的两阶段退化过程包括退化点产生过程和退化点生长过程；
S2、采用引入有外部因素变化的强度因子的非齐次Poisson过程对印刷机组的退化点产生过程进行建模，得到退化点数目的期望值模型，并进一步采用引入有外部因素的影响因子的非定态Gamma过程对印刷机组的退化点生长过程进行建模，得到退化点的退化量模型；
S3、根据所得到的退化点的退化量模型，确定退化量最大的退化点，并将退化量最大的退化点的退化量与第一阈值及第二阈值进行对比，进一步根据对比结果，确定印刷机组是否需要进行维护，且在确定印刷机组需要进行维护时，确定相应的维护决策。


2.如权利要求1所述的印刷机组的两阶段退化分析方法，其特征在于，所述步骤S3具体包括：
若退化量最大的退化点的退化量小于所述第一阈值，则确定印刷机组不需要进行维护；
若退化量最大的退化点的退化量大于所述第一阈值且小于所述第二阈值，则确定印刷机组需要进行维护，且维护决策为预防性替换；
若退化量最大的退化点的退化量大于等于所述第二阈值，则确定印刷机组需要进行维护，且维护决策为故障替换。


3.如权利要求2所述的印刷机组的两阶段退化分析方法，其特征在于，所述方法进一步包括：
在确定维护决策为故障替换时，结合相应的退化点数目及外部冲击次数，在预设的故障替换概率模型中进行计算，...

【专利技术属性】
技术研发人员：綦法群，刘群慧，黄华浙，罗晓璇，臧子怡，张程洁，张宁，王佳怡，孙毅，
申请(专利权)人：温州大学，
类型：发明
国别省市：浙江;33