【技术实现步骤摘要】
集群变径深孔的批量检测设备及方法
本专利技术涉及一种集群变径深孔的批量检测设备及方法。
技术介绍
目前，集群变径深孔板是工业中的重要零部件，尤其在化工行业。作为工业上的不可缺少的精密零件,其功用是将精确计量过的聚合物熔体或溶液通过集群变径深孔板上的微孔喷挤出具有一定粗细和质地细密的高分子材料束。因而集群变径深孔板的发展有助于促进新型高分子材料的发展。集群变径深孔板的制造精度决定了高分子材料成型质量的好坏，集群变径深孔板微孔的形状决定了高分子材料的截面形态，进而影响到了舒适性。因此集群变径深孔板的质量是保证成品质量和良好工艺的重要条件。对于集群变径深孔板质量的检测，目前的相关研究对质量有极大影响的导孔、过渡孔，尚未有所研究。现有集群变径深孔板上的集群变径深孔数量最少约为50只，最高可达1.2-9.8万只，且微孔孔径在10-50μm之间，这对集群变径深孔板的品质检测提出了极高的要求。对于集群变径深孔板的检测大部分使用强光源底部照射检测和显微镜下放大检测。其中强光源底部照射方式只能观察到整个板面的孔是否透光，是否有孔堵塞，...
【技术保护点】
1.一种集群变径深孔的批量检测设备，其特征在于，包括：具有集群变径深孔的集群变径深孔板、集群变径深孔板检测台、集群变径深孔检测装置和计算终端，所述集群变径深孔板检测台上设置有集群变径深孔板放置部，所述集群变径深孔板放置部上设置有转动轴，所述集群变径深孔板放置部用于放置所述集群变径深孔板，所述集群变径深孔板通过所述转动轴进行转动，/n所述集群变径深孔板上设置有多个所述集群变径深孔检测装置，所述集群变径深孔检测装置用于检测所述集群变径深孔检测装置下方所覆盖的检测区域的集群变径深孔；所述集群变径深孔检测装置包括同轴光源模块、第一拍摄模块和第一数据传输模块，所述同轴光源模块用于对所...
【技术特征摘要】
1.一种集群变径深孔的批量检测设备，其特征在于，包括：具有集群变径深孔的集群变径深孔板、集群变径深孔板检测台、集群变径深孔检测装置和计算终端，所述集群变径深孔板检测台上设置有集群变径深孔板放置部，所述集群变径深孔板放置部上设置有转动轴，所述集群变径深孔板放置部用于放置所述集群变径深孔板，所述集群变径深孔板通过所述转动轴进行转动，
所述集群变径深孔板上设置有多个所述集群变径深孔检测装置，所述集群变径深孔检测装置用于检测所述集群变径深孔检测装置下方所覆盖的检测区域的集群变径深孔；所述集群变径深孔检测装置包括同轴光源模块、第一拍摄模块和第一数据传输模块，所述同轴光源模块用于对所述检测区域提供同轴光源；所述第一拍摄模块用于拍摄所述检测区域内的全部集群变径深孔的图像，并通过所述第一数据传输模块将所述图像传输至所述计算终端；
所述计算终端用于对所述图像信息进行分析及检测，并生成检测结果。
2.如权利要求1所述的集群变径深孔的批量检测设备，其特征在于，
还包括微孔检测装置，所述集群变径深孔板还包括集群变径深孔板本体，所述集群变径深孔板本体上设置有多个集群变径深孔，集群变径深孔由导孔、过渡孔和微孔构成，过渡孔设置在导孔的底部且为锥形；位于集群变径深孔板本体上表面的导孔通过过渡孔与位于集群变径深孔板本体下表面的微孔相连接，所述微孔检测装置设置在所述集群变径深孔板的下方；所述微孔检测装置用于检测所述集群变径深孔检测装置下方所覆盖的检测区域的微孔；所述微孔检测装置包括第二拍摄模块和第二数据传输模块，所述同轴光源模块用于对所述检测区域提供同轴光源；所述第二拍摄模块用于拍摄所述检测区域内的全部集群变径深孔的图像，并通过所述第二数据传输模块将所述图像传输至所述计算终端。
3.如权利要求1所述的集群变径深孔的批量检测设备，其特征在于，
所述同轴光源模块包括由底面、侧面和顶面组成的外壳；所述第一拍摄模块包括镜头；所述顶面上设置有与所述镜头相匹配的镜头开孔；所述镜头穿过所述镜头开孔与所述同轴光源模块相连接；底面与集群变径深孔板相对且为一面凹透镜；所述外壳的内部设置有反射片和同轴光灯带，所述反射片呈对角设置在所述顶面和所述底面之间，所述反射片的正面朝向所述顶面，所述反射片的背面朝向所述底面，所述同轴光灯带设置在与所述反射片的背面相对的侧面上。
4.如权利要求1所述的集群变径深孔的批量检测设备，其特征在于，
所述同轴光源模块包括反射壳体和同轴光灯带；所述反射壳体为半椭圆管的延伸结构，所述延伸结构的横截面为穹顶，所述穹顶的底端设...
【专利技术属性】
技术研发人员：冯培，杨崇倡，张荣根，张俊平，王佳林，魏大顺，
申请(专利权)人：东华大学，
类型：发明
国别省市：上海;31
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