多模态信息校准方法、装置、多模态成像设备制造方法及图纸

技术编号:29319694 阅读:19 留言:0更新日期:2021-07-20 17:34
本发明专利技术涉及一种多模态信息校准方法、装置、多模态成像设备,该方法包括:获取第一成像系统的能峰位置与第二成像系统的中心频率的对应关系;第一成像系统的模态与第二成像系统的模态不同;根据对应关系,对第一成像系统的能峰位置或第二成像系统的中心频率进行校准。该方法中,计算机设备根据第一成像系统的能峰位置与第二成像系统的中心频率的对应关系,对第一成像系统的能峰位置或第二成像系统的中心频率进行校准,不会引入额外的校准量,也不会引起第一成像系统或第二成像系统信号的波动,能够对第一成像系统的能峰位置或第二成像系统的中心频率进行准确地校准。

【技术实现步骤摘要】
多模态信息校准方法、装置、多模态成像设备
本专利技术涉及医疗器械领域,特别是涉及一种多模态信息校准方法、装置、多模态成像设备。
技术介绍
正电子发射计算机断层成像仪(PositronEmissionComputedTomography,PET)/磁共振成像仪(MagneticResonance,MR),是一种将PET与MR结合所组成的大型功能代谢与分子影像诊断设备,同时具有PET和MR的检查功能。在PET/MR的扫描过程中,梯度线圈的运行会产生较多的热量,而热量的累计会导致MR系统的中心频率漂移即MR场漂,同时,温度的升高也会引起PET能峰的漂移,因此,在PET/MR扫描过程中,需要对PET和MR进行校准。传统技术中,主要是对MR系统和PET系统分别进行校准,通过MR系统状态的变化对MR的场漂进行校准,通过PET系统状态的变化对PET的能峰进行校准。但对PET系统进行单独的校准时会引起MR系统信号的波动,导致扫描结果不准确。因此,传统的对PET/MR的校准方法,存在校准准确度较低的问题。
技术实现思路
基于此,有必要针对传统的对PET/MR的校准方法,存在校准准确度较低的问题,提供一种多模态信息校准方法、装置、多模态成像设备。第一方面,本专利技术实施例提供一种多模态信息校准方法,所述方法包括:获取第一成像系统的能峰位置与第二成像系统的中心频率的对应关系;所述第一成像系统的模态与所述第二成像系统的模态不同;根据所述对应关系,对所述第一成像系统的能峰位置或所述第二成像系统的中心频率进行校准。在其中一个实施例中,所述根据所述对应关系,对所述第二成像系统的中心频率进行校准,包括:获取所述第一成像系统的能峰位置的漂移量;根据所述第一成像系统的能峰位置的漂移量和所述对应关系,确定所述第二成像系统的中心频率的校准量;根据所述第二成像系统的中心频率的校准量,对所述第二成像系统的中心频率进行校准。在其中一个实施例中,所述根据所述对应关系,对所述第一成像系统的能峰位置进行校准,包括:获取所述第二成像系统的中心频率的偏移量;根据所述第二成像系统的中心频率的偏移量和所述对应关系,确定所述第一成像系统的能峰位置的校准量;根据所述第一成像系统的能峰位置的校准量,对所述第一成像系统的能峰位置进行校准。在其中一个实施例中,所述对应关系包括所述第一成像系统的能峰位置的漂移量、所述第二成像系统的中心频率的偏移量,分别与多模态成像设备的温度之间的映射关系;所述多模态成像设备为所述第一成像系统与所述第二成像系统组成的一体化设备。在其中一个实施例中,所述获取第一成像系统的能峰位置与第二成像系统的中心频率的对应关系,包括:获取所述多模态成像设备中第一成像系统的多个能峰位置的历史漂移量、各所述历史漂移量对应的所述多模态成像设备的温度;对各所述能峰位置的历史漂移量和各所述历史漂移量对应的所述多模态成像设备的温度进行线性拟合,得到所述第一成像系统的能峰位置漂移量与所述多模态成像设备的温度之间的对应关系;获取所述多模态成像设备中第二成像系统的多个中心频率的历史偏移量、各所述历史偏移量对应的所述多模态成像设备的温度;对各所述中心频率的历史偏移量和各所述历史偏移量对应的所述多模态成像设备的温度进行线性拟合,得到所述第二成像系统的中心频率的偏移量与所述多模态成像设备的温度之间的对应关系;根据所述第一成像系统的能峰位置漂移量与所述多模态成像设备的温度之间的对应关系、所述第二成像系统的中心频率的偏移量与所述多模态成像设备的温度之间的对应关系,得到所述第一成像系统的能峰位置与第二成像系统的中心频率的对应关系。在其中一个实施例中,所述第一成像系统为正电子发射系统,所述第二成像系统为磁共振成像系统。在其中一个实施例中,所述正电子发射系统的能峰位置与所述正电子发射系统的探测器接收到的伽马光子数正相关。第二方面,本专利技术实施例提供一种多模态信息校准装置,所述装置包括:获取模块,用于获取第一成像系统的能峰位置与第二成像系统的中心频率的对应关系;所述第一成像系统的模态与所述第二成像系统的模态不同;校准模块,用于根据所述对应关系,对所述第一成像系统的能峰位置或所述第二成像系统的中心频率进行校准。第三方面,本专利技术实施例提供一种多模态成像设备,多模态成像设备包括:正电子发射系统,其包括探测器,所述探测器用于接收光子;磁共振成像系统,其包括磁体,所述磁体用于形成主磁场;至少一个存储器和至少一个处理器,其中:所述至少一个存储器,用于存储计算机程序;所述至少一个处理器,用于调用所述至少一个存储器中存储的计算机程序时获取探测器接收到的光子的能峰位置与主磁场的中心频率的对应关系;所述处理器还用于根据所述对应关系对控制所述正电子发射系统对所述光子的能峰位置进行校准,以及根据所述对应关系控制所述磁共振成像系统对所述主磁场的中心频率进行校准。在其中一个实施例中,所述处理器还用于根据所述对应关系调节所述磁共振成像系统的扫描参数,所述扫描参数包括射频发射参数或梯度脉冲参数第四方面,本专利技术实施例提供一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤:获取第一成像系统的能峰位置与第二成像系统的中心频率的对应关系;所述第一成像系统的模态与所述第二成像系统的模态不同;根据所述对应关系,对所述第一成像系统的能峰位置或所述第二成像系统的中心频率进行校准。第五方面,本专利技术实施例提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤:获取第一成像系统的能峰位置与第二成像系统的中心频率的对应关系;所述第一成像系统的模态与所述第二成像系统的模态不同;根据所述对应关系,对所述第一成像系统的能峰位置或所述第二成像系统的中心频率进行校准。上述实施例提供的多模态信息校准方法、装置、计算机设备和存储介质中,计算机设备获取第一成像系统的能峰位置与第二成像系统的中心频率的对应关系;第一成像系统的模态与第二成像系统的模态不同;根据对应关系,对第一成像系统的能峰位置或第二成像系统的中心频率进行校准。在该方法中,计算机设备根据第一成像系统的能峰位置与第二成像系统的中心频率的对应关系,对第一成像系统的能峰位置或第二成像系统的中心频率进行校准,不会引入额外的校准量,也不会引起第一成像系统或第二成像系统信号的波动,能够对第一成像系统的能峰位置或第二成像系统的中心频率进行准确地校准,提高了对第一成像系统的能峰位置或第二成像系统的中心频率的校准准确度。附图说明图1为一个实施例提供的计算机设备的内部结构示意图;图2为一个实施例提供的多模态信息校准方法的流程示意图;图3为另一个实施例提供的多模态信息校准方法的流程示意图;图4为另一个实施例提供的多模本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多模态信息校准方法,其特征在于,所述方法包括:/n获取第一成像系统的能峰位置与第二成像系统的中心频率的对应关系;所述第一成像系统的模态与所述第二成像系统的模态不同;/n根据所述对应关系,对所述第一成像系统的能峰位置或所述第二成像系统的中心频率进行校准。/n

【技术特征摘要】
1.一种多模态信息校准方法,其特征在于,所述方法包括:
获取第一成像系统的能峰位置与第二成像系统的中心频率的对应关系;所述第一成像系统的模态与所述第二成像系统的模态不同;
根据所述对应关系,对所述第一成像系统的能峰位置或所述第二成像系统的中心频率进行校准。


2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述对应关系,对所述第二成像系统的中心频率进行校准,包括:
获取所述第一成像系统的能峰位置的漂移量;
根据所述第一成像系统的能峰位置的漂移量和所述对应关系,确定所述第二成像系统的中心频率的校准量;
根据所述第二成像系统的中心频率的校准量,对所述第二成像系统的中心频率进行校准。


3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述对应关系,对所述第一成像系统的能峰位置进行校准,包括:
获取所述第二成像系统的中心频率的偏移量;
根据所述第二成像系统的中心频率的偏移量和所述对应关系,确定所述第一成像系统的能峰位置的校准量;
根据所述第一成像系统的能峰位置的校准量,对所述第一成像系统的能峰位置进行校准。


4.根据权利要求2或3所述的方法,其特征在于,所述对应关系包括所述第一成像系统的能峰位置的漂移量、所述第二成像系统的中心频率的偏移量,分别与多模态成像设备的温度之间的映射关系;所述多模态成像设备为所述第一成像系统与所述第二成像系统组成的一体化设备。


5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述获取第一成像系统的能峰位置与第二成像系统的中心频率的对应关系,包括:
获取所述多模态成像设备中第一成像系统的多个能峰位置的历史漂移量、各所述历史漂移量对应的所述多模态成像设备的温度;
对各所述能峰位置的历史漂移量和各所述历史漂移量对应的所述多模态成像设备的温度进行线性拟合,得到所述第一成像系统的能峰位置漂移量与所述多模态成像设备的温度之间的对应关系;
获取所述多模态成像设备中第二成像系统的多个中心频率的历史偏移量、各所述历史偏移量对应的所述多模...

【专利技术属性】
技术研发人员:沈振华陈昕曹拓宇胡凌志刘慧
申请(专利权)人:上海联影医疗科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:上海;31

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