一种芯片烧录的管理方法、系统及计算机可读存储介质技术方案

本申请提供一种芯片烧录的管理方法、系统及计算机可读存储介质，该方法包括：在芯片进行烧录之前，为芯片分配第一标识，其中，第一标识用于唯一标识芯片；在对芯片进行操作的操作周期中，检测出存在异常的芯片，其中，操作包括烧录操作；对存在异常的芯片进行抛料处理，并将存在异常的芯片的第一标识反馈给云端，以使云端根据反馈的第一标识统计芯片生产情况。本申请所提供的技术方案可以实现对芯片烧录进行自动化的管控。行自动化的管控。行自动化的管控。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片烧录的管理方法、系统及计算机可读存储介质


[0001]本申请涉及自动化
，特别是涉及一种芯片烧录的管理方法、系统及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]在芯片在生产过程中，由于芯片体积较小，无法通过贴上标签等来掌控数量和生产流程。且由于芯片的生产过程中，因为芯片体积较小，也常常出现抛料，且抛料是不计数的，所以在现有的生产工艺中，往往为了完成设定数量的芯片会多生产一些产品。但是这就会存在以下问题：无法对芯片烧录授权前后的生产过程进行管控，无法做到全面自动化生产且无法采集准确的生产信息。而且因为抛料存在的原因也无法较为准确地对芯片烧录授权的总数量进行管控，很可能因为抛料多生产或者少生产，故需要一种可以解决上述技术问题的技术方案。

技术实现思路

[0003]本申请主要解决的技术问题是提供一种芯片烧录的管理方法、系统及计算机可读存储介质，可以实现对芯片烧录进行自动化的管控。
[0004]为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种芯片烧录的管理方法，所述方法包括：
[0005]在芯片进行烧录之前，为所述芯片分配第一标识，其中，所述第一标识用于唯一标识所述芯片；
[0006]在对所述芯片进行操作的操作周期中，检测出存在异常的芯片，其中，所述操作包括烧录操作；
[0007]对所述存在异常的芯片进行抛料处理，并将所述存在异常的芯片的第一标识反馈给云端，以使云端根据反馈的所述第一标识统计芯片生产情况。
[0008]为解决上述技术问题，本申请采用的另一个技术方案是：提供一种芯片烧录的管理系统，所述系统包括存储器、处理器和通信端口，所述存储器和所述通信端口分别与所述处理器耦接，其中，所述通信端口与所述处理电路连接，所述通信端口在所述处理器的控制下与外部的图像采集单元和/或重力传感器进行数据交互；
[0009]所述存储器包括本地储存，且存储有计算机程序；
[0010]所述处理器用于运行所述计算机程序，以执行如上所述的方法。
[0011]为解决上述技术问题，本申请采用的又一个技术方案是：提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有能够被处理器运行的计算机程序，所述计算机程序用于实现如上所述的方法。
[0012]本申请的有益效果是：区别于现有技术的情况，本申请所提供的技术方案，通过设置在芯片进行烧录之前，为芯片分配用于唯一标识芯片的第一标识，并在对芯片进行操作的操作周期中，检测出存在异常的芯片时，对存在异常的芯片进行抛料处理，然后将存在异
常的芯片的第一标识反馈给云端，进而使得云端根据反馈的第一标识统计芯片的生产情况，实现根据第一标识对进行烧录芯片的生成情况进行实时准确的统计，从而较好地实现对芯片烧录进行自动化管理。
附图说明
[0013]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。其中：
[0014]图1为本申请一种芯片烧录的管理方法一实施例中的流程示意图；
[0015]图2为本申请一种芯片烧录的管理方法另一实施例中的流程示意图；
[0016]图3为本申请一种芯片烧录的管理方法的应用场景示意图；
[0017]图4为本申请一种芯片烧录的管理方法另一实施例中的流程示意图；
[0018]图5为本申请一种芯片烧录的管理方法又一实施例中的流程示意图；
[0019]图6为本申请一种芯片烧录的管理系统一实施例中的结构示意图；
[0020]图7为本申请一种计算机可读存储介质一实施例结构示意图。
具体实施方式
[0021]为使本申请的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂，下面结合附图，对本申请的具体实施方式做详细的说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅用于解释本申请，而非对本申请的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本申请相关的部分而非全部结构。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。
[0022]本申请中的术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0023]在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
[0024]请参见图1，图1为本申请一种芯片烧录的管理方法一实施例中的流程示意图。在当前实施例中，本申请所提供的方法包括：
[0025]S110：在芯片进行烧录之前，为芯片分配第一标识。
[0026]在对芯片进行烧录之前，芯片烧录的管理系统为需要进行烧录的芯片分配第一标识。其中，第一标识用于唯一标识芯片。在本申请所提供的技术方案中，该第一标识具备唯一性，同一个第一标识只会与一个成功烧录的芯片相对应。
[0027]进一步地，在一实施例中，第一标识可以是自云端获取的。在另一实施例中，第一标识也可以是由芯片烧录的管理系统根据预先设定规则自动生成的。
[0028]故上述步骤为芯片分配第一标识，进一步包括：从云端获取若干第一标识，并从若干第一标识中选取第一标识并分配给芯片。其中，从云端获取的第一标识的数量可以是根据用户所下的芯片订单中所需生产的芯片数量确定，在此不做限定。即在用户输入所需生产的芯片订单后，芯片烧录的管理系统自云端获取与芯片订单中芯片数量对应的第一标识，然后再在对每个芯片进行烧录前，自所获取的第一标识中选取没有被选用过的第一标识分配给当前芯片，以用于标识该芯片。
[0029]进一步地，当是同时对多个芯片进行烧录，则在对多个芯片进行烧录之前，会为每个芯片分别分配一个第一标识，以用于芯片烧录授权整个操作周期中对芯片进行身份标记。其中，需要说明的是，步骤S110中分配的第一标识为空闲的标识，即该第一标识不对应任何一个成功烧录的芯片。
[0030]S120：在对芯片进行操作的操作周期中，检测出存在异常的芯片。
[0031]在为等待进行烧录的芯片分配第一标识之后，则进一步在对芯片进行操作的操作周期中，会对进行烧录的芯片进行检测，以检测出存在异常的芯片。其中，本申请所提供的技术方案中，对芯片进行的操作至少包括烧录操作和/或授权操作。
[0032]S130：对存在异常的芯片进行抛料处理，并将存在异常的芯片的第一标识反馈给云端，以使云端根据反馈的第一标识本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片烧录的管理方法，其特征在于，所述方法包括：在芯片进行烧录之前，为所述芯片分配第一标识，其中，所述第一标识用于唯一标识所述芯片；在对所述芯片进行操作的操作周期中，检测出存在异常的芯片，其中，所述操作包括烧录操作；对所述存在异常的芯片进行抛料处理，并将所述存在异常的芯片的第一标识反馈给云端，以使云端根据反馈的所述第一标识统计芯片生产情况。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述操作周期中，所述芯片是采用搬运工具依序搬运到至少一个工位进行至少一种操作的，所述搬运工具包括至少一个提取部件，每个所述提取部件用于提取一个所述芯片；在所述为所述芯片分配第一标识之后，所述方法还包括：记录搬运工具的每个所述提取部件与其提取的所述芯片的第一标识的关联关系；在所述将所述存在异常的芯片的第一标识反馈给云端之前，所述方法还包括：确定用于提取所述存在异常的芯片的所述提取部件，并将所述提取部件关联的所述第一标识确定为所述存在异常的芯片的所述第一标识。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：在完成所述操作周期之后，解除用于提取所述芯片的所述提取部件与所述第一标识之间的关联关系。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括以下至少一个步骤：统计本批次中存在异常的芯片数量和/或本批次中成功完成所有操作的芯片数量；在本批次的芯片的所述生产周期完成后，将所述存在异常的芯片的所述第一标识进行回收或丢弃。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述检测出存在异常的芯片，包括：检测所述芯片是否存在异常情况，其中，所述异常情况包括以下至少一种：抛料现象...

【专利技术属性】
技术研发人员：王亚东，李停，
申请(专利权)人：杭州涂鸦信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：