光栅尺、磁栅尺的诊断方法、系统及存储介质技术方案

本发明专利技术涉及测控诊断技术领域，公开了一种光栅尺、磁栅尺的诊断方法、系统及存储介质，其方法包括：采集驱动器输出至电机的第一电流；基于预设时间间隔，采集驱动器输出至电机的第二电流；对第一电流和第二电流执行求导操作，得到第一数据组；对第一数据组执行分析，获取分析结果。本发明专利技术至少具有以下有益效果：能够在机台装配时就能自检直线电机，判定栅尺损伤点或导轨平行度是否有较大问题，且精准定位到电机坐标，方便问题的排查。方便问题的排查。方便问题的排查。

Diagnosis method, system and storage medium of grating ruler and magnetic grating ruler

【技术实现步骤摘要】
光栅尺、磁栅尺的诊断方法、系统及存储介质


[0001]本专利技术涉及测控诊断
，特别涉及一种光栅尺、磁栅尺的诊断方法、系统及存储介质。

技术介绍

[0002]在图像传感器的分辨率不断增加和单像素尺寸不断减小的情况下，镜头与图像传感器的相对定位对外部震动要求越来越高。在自动AA机台(Active Alignment，即主动对位，是一项确定零配件装配过程中相对位置的技术)生产时，为追求生产效率，上下料电机往往速度会很快，电机高速运动必然会产生较大震动。在电机安装理想状况下，运动控制系统会平稳的控制电机，但电机会因为磁栅或是导轨问题，经过反馈控制系统导致运动控制的电流突变，使电机推力极速上升，从而对整个机台产生冲击，导致较大震动对AA产生影响。
[0003]在整个设备生产调试过程中，往往是机台调试到最终阶段后已经对AA产生了影响，才发现电机震动过大，此时，会对项目进度产生严重影响，且无法精准定位震动产生位置。
[0004]目前现有技术中，对磁栅/光栅一般检测坏点只能通过装配人员通过外观检查，也没有量化的标准，并且磁栅/光栅很容易本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光栅尺、磁栅尺的诊断方法，其特征在于，包括以下步骤：采集驱动器输出至电机的第一电流；基于预设时间间隔，采集驱动器输出至所述电机的第二电流；对所述第一电流和所述第二电流执行求导操作，得到第一数据组；对所述第一数据组执行分析，获取分析结果。2.根据权利要求1所述的光栅尺、磁栅尺的诊断方法，其特征在于，还包括：采集标准机台中的所述第一数据组作为标准数据组；按照预设分析方法对所述标准数据组执行分析，获取标准分析结果。3.根据权利要求2所述的光栅尺、磁栅尺的诊断方法，其特征在于，还包括：按照预设分析方法对所述第一数据组执行分析，获取第一数据组分析结果；将所述第一数据组分析结果与所述标准分析结果进行比较，得到基于所述第一数据组的诊断结果并将所述诊断结果以可视化界面进行展示；其中，所述预设分析方法包括聚类分析法、因子分析法、相关分析法、关联分析法及方差分析法。4.根据权利要求3所述的光栅尺、磁栅尺的诊断方法，其特征在于，还包括：当所述第一数据组的诊断结果为大于预设阈值时，执行报警操作；所述报警操作包括声音报警，显示屏闪光报警，对话框抖动报警及消息弹出报警。5.根据权利要求1所述的光栅尺、磁栅尺的诊断方法，其特征在于，还包括：PLC发送位置指令至所述驱动器，所述驱动器基于所...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈镇，林国伟，
申请(专利权)人：珠海广浩捷科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：