一种快速测量石墨碳化硅坩埚样块热导率的装置及方法制造方法及图纸

技术编号:29250230 阅读:38 留言:0更新日期:2021-07-13 17:18
本发明专利技术涉及工业石墨碳化硅坩埚应用领域,具体涉及一种快速测量石墨碳化硅坩埚样块热导率的装置及方法,包括恒温水箱、热电偶及数码显示装置和加热台,所述恒温水箱包括水管,且水管的外壁设置有管阀,所述加热台的顶部设置有夹紧机构,所述水管的一端设置有水冷头,所述夹紧机构的内壁固定连接有陶瓷基板,所述夹紧机构的内壁通过陶瓷基板夹持有石墨碳化硅坩埚样块,所述陶瓷基板的底部设置有导热硅脂,所述热电偶及数码显示装置的电偶联线一端连接在陶瓷基板的两面。该快速测量石墨碳化硅坩埚样块热导率的装置及方法,可以节约测量成本,省去送出样品的时间,检测过程简单快捷,克服了专业测量的困难,能够满足工程需要。

【技术实现步骤摘要】
一种快速测量石墨碳化硅坩埚样块热导率的装置及方法
本专利技术涉及工业石墨碳化硅坩埚应用领域,具体涉及一种快速测量石墨碳化硅坩埚样块热导率的装置及方法。
技术介绍
石墨碳化硅坩埚因其导热快、耐高温、热稳定性好及不与溶质起反应等优点,被广泛用于熔铸有色金属。为了提升坩埚的使用性能及范围,不同配方的石墨/碳化硅复核材料也被开发,坩埚的热导率也随之发生变化。热导率,又称导热系数,是表征材料导热性能优劣的参数,其数值与温度等因素有关,单位为W/(m.K)。就坩埚使用而言,热导率决定着坩埚的能耗及传热效率。热导率高,坩埚能耗低,热响应速度快,不同的熔质往往需要匹配不同热导率的坩埚。因此,坩埚的热导率是坩埚供应商及客户重点关心的参数。然而,大多数坩埚供应商很难提供不同产品热导率这一参数。为了获得坩埚的热导率,常常需要将样品寄送到专业机构,并利用专业仪器进行测量,测量精度虽较高,但超过了实际应用的要求;另一方面,专业机构的测量费用高,测量周期长,这给产品销售及使用均造成了阻碍,无疑也增加了测量的成本。专利技术内容(一)解本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种快速测量石墨碳化硅坩埚样块热导率的装置及方法,包括恒温水箱(1)、热电偶及数码显示装置(8)和加热台(9),其特征在于:所述恒温水箱(1)包括水管,且水管的外壁设置有管阀(2),所述加热台(9)的顶部设置有夹紧机构(3);/n所述水管的一端设置有水冷头(4),所述夹紧机构(3)的内壁固定连接有陶瓷基板(6),所述夹紧机构(3)的内壁通过陶瓷基板(6)夹持有石墨碳化硅坩埚样块(5),所述陶瓷基板(6)的底部设置有导热硅脂(7),所述热电偶及数码显示装置(8)的电偶联线一端连接在陶瓷基板(6)的两面。/n

【技术特征摘要】
1.一种快速测量石墨碳化硅坩埚样块热导率的装置及方法,包括恒温水箱(1)、热电偶及数码显示装置(8)和加热台(9),其特征在于:所述恒温水箱(1)包括水管,且水管的外壁设置有管阀(2),所述加热台(9)的顶部设置有夹紧机构(3);
所述水管的一端设置有水冷头(4),所述夹紧机构(3)的内壁固定连接有陶瓷基板(6),所述夹紧机构(3)的内壁通过陶瓷基板(6)夹持有石墨碳化硅坩埚样块(5),所述陶瓷基板(6)的底部设置有导热硅脂(7),所述热电偶及数码显示装置(8)的电偶联线一端连接在陶瓷基板(6)的两面。


2.根据权利要求1所述的一种快速测量石墨碳化硅坩埚样块热导率的装置及方法,其特征在于:所述陶瓷基板(6)的数量为两个,且陶瓷基板(6)中的一片置于加热台(9)与石墨碳化硅坩埚样块(5)下表面之间,所述热电偶及数码显示装置(8)的电偶连线端分别置于陶瓷基板(6)与石墨碳化硅坩埚样块(5)和加热台(9)的接触面处。


3.根据权利要求2所述的一种快速测量石墨碳化硅坩埚样块热导率的装...

【专利技术属性】
技术研发人员:周雨
申请(专利权)人:嘉兴皓特特种陶瓷有限公司
类型:发明
国别省市:浙江;33

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