一种检测语音识别模块音频通道硬件功能的方法技术

一种检测语音识别模块音频通道硬件功能的方法，包括如下步骤：S1.编写一个可直接运行在语音识别模块内置SRAM中的测试程序；S2.启动测试，测试设备先将测试程序传输到待测语音识别模块内部SRAM中，并使测试程序在SRAM中开始运行；S3.测试程序运行，驱动模块依次输出覆盖低频、中频和高频的不同固定频率的一系列模拟音频电学信号，发送到测试设备中，再由测试设备将模拟音频电学信号输入到语音识别模块的模拟音频输入口；S4.判断转化的结果数字信号是否和预期结果一致。本发明专利技术通过语音识别模块自身的音频输出和输入通路进行环路检测，可以在测试设备不增加相应的音频采集测试装置时，也能实现检测功能，降低了测试成本。降低了测试成本。降低了测试成本。

【技术实现步骤摘要】
一种检测语音识别模块音频通道硬件功能的方法


[0001]本专利技术属于语音识别
，具体涉及一种检测语音识别模块音频通道硬件功能的方法。

技术介绍

[0002]语音识别控制技术目前已经逐步在各类产品中进行使用。特别是随着终端智能语音芯片的出现，使得语音识别可以通过装载智能语音芯片的语音识别模块来实现，无需连接到云端服务器就可以实现语音识别和控制，能去掉设备控制对网络的依赖性，还能最大化保障控制的实时性和识别效果，已成为语音识别控制的主要方案。
[0003]实现本地语音识别依赖于语音识别模块，语音识别模块一般是通过麦克风等音频采集器件采集环境中的声音转化为电信号，再通过模块上由电阻、电容、电感等被动元器件组成的滤波电路，滤除不需要的干扰信号后输入给智能语音芯片，智能语音芯片经过识别处理，进行设备的控制，通常同时通过播报语音反馈告诉用户控制已完成；而语音反馈过程该反馈通常是智能语音芯片将识别处理完成后结果对应的播报音经过电阻、电容、电感等被动元器件组成的滤波或功放增益电路后，输出给喇叭进行播出。
[0004]在语音识别模块的实际生产中，因为目前电阻、电容、电感等被动元器件已大量采用贴装式封装，贴装式封装从器件表面难以分辨这些被动元器件的参数值，而针对每种类型的被动元器件或芯片模块的贴片焊接，需要人工先输入物料种类或对贴片机进行编程或更换物料，人工的参与往往会造成弄错某个元器件的特性值，这样贴装后会对模块的语音识别滤波效果、播放的增益效果造成影响，最终会影响到产品的使用体验感。同时，如果在贴片生产时对某个被动元器件焊接不良，也会影响到滤波电路或增益电路的特性，造成识别效果或播音效果变差甚至不能实现，为保障语音识别模块的功能正常实现，需要开发出一种能批量检测语音识别模块硬件状态的检验方法。

技术实现思路

[0005]为克服现有技术存在的缺陷，本专利技术公开了一种检测语音识别模块音频通道硬件功能的方法。
[0006]本专利技术所述检测语音识别模块音频通道硬件功能的方法，包括如下步骤：S1. 编写一个可直接运行在语音识别模块内置SRAM中的测试程序；所述测试程序预先存储了一系列频率不同的模拟音频电学信号及对应的被识别后的预期结果；所述测试程序还包括对这些模拟音频电学信号按顺序发出的驱动模块，以及比较预期结果和识别结果的比较模块；S2. 启动测试，测试设备先将测试程序传输到待测语音识别模块内部SRAM中，并使测试程序在SRAM中开始运行；S3. 测试程序运行，驱动模块依次输出覆盖低频、中频和高频的不同固定频率的
一系列模拟音频电学信号，发送到测试设备中，再由测试设备将模拟音频电学信号输入到语音识别模块的模拟音频输入口；S4. 语音识别模块的模拟音频输入口将接收到的依次输出的固定频率模拟音频电学信号，通过ADC转化为结果数字信号，再由语音识别芯片中运行的测试程序比较模块进行依次对比，判断转化的结果数字信号是否和预期结果一致。
[0007]优选的，所述S3中，测试程序依靠语音识别模块的内置中央处理器运行的测试指令在SRAM中运行。
[0008]优选的，所述S4中比较模块对结果数字信号和预期结果的比对为比较二者的频率和幅值。
[0009]采用本专利技术所述检测语音识别模块音频通道硬件功能的方法，具有如下优越性：一. 通过语音识别模块自身的音频输出和输入通路进行环路检测，可以在测试设备不增加相应的音频采集测试装置时，也能实现检测功能，降低了测试成本；二. 通过设定不同的固定频率信号，可以测试模块上的各类增益和滤波电路在低频、中频、高频等不同频率处的响应，如果增益和滤波电路因焊接错了被动元器件，造成电路的特性发生改变，则得到的结果会和测试程序中设定的预期值不一样，可以检测出相应的错误，解决了凭外观无法直接检查模块上被动元器件特性值选用错误或焊接不良的问题；三. 本专利技术所需测试程序简单，耗费时间少，降低了测试被动元器件所需的时间成本。
附图说明
[0010]图1为本专利技术所述检测语音识别模块音频通道硬件功能的一种具体实施流程示意图；图2为本专利技术所述检测语音识别模块音频通道硬件功能的方法的一种具体实施方式示意图。
具体实施方式
[0011]下面对本专利技术的具体实施方式作进一步的详细说明。
[0012]本专利技术所述检测语音识别模块音频通道硬件功能的方法，如图1所示，包括如下步骤：S1. 编写一个可直接运行在语音识别模块内置SRAM中的测试程序；所述测试程序预先存储了一系列频率不同的模拟音频电学信号及对应的被识别后的预期结果；所述测试程序还包括对这些模拟音频电学信号按顺序发出的驱动模块，以及比较预期结果和识别结果的比较模块；S2. 启动测试，测试设备先将测试程序传输到待测语音识别模块内部SRAM中，并使测试程序在SRAM中开始运行；S3. 测试程序运行，依次输出覆盖低频、中频和高频的不同固定频率的一系列模拟音频电学信号，发送到测试设备中，再由测试设备将模拟音频电学信号输入到语音识别
模块的模拟音频输入口；图1所示的具体实施方式中, 测试程序发出的为数字音频信号，经过DAC转化为模拟音频电学信号，发送到测试设备后回传到ADC。
[0013]如图1所示，被动元件一般分布在ADC的输入端之前，和DAC的输出端之后，测试程序依靠CPU运行的测试指令在SRAM中运行，由CPU控制ADC和DAC，将SDRAM中控制程序内置的数据发送，同时CPU获取到ADC和DAC输出的数据并存储在SRAM中，再和存储在SRAM中测试程序自带的预期结果进行对比。
[0014]DAC和ADC可以是待测语音识别模块上的单独器件，也可以是语音识别芯片集成的模块。
[0015]S4.语音识别模块的模拟音频输入口将接收到的依次输出的固定频率模拟音频电学信号，通过ADC转化为数字信号，再由语音识别芯片中运行的测试程序进行依次对比，观察是否和预期结果一致；如果每个模拟音频信号的比对结果都一致，则可以判断模块上音频通道相关的被动元器件特性值和连接性都是正确的；如果有不一致，则通知测试设备报错，以供检修。
[0016]预期的结果在测试程序中，由测试程序获取到转化的结果数字信号后，再和测试程序中预存的预期结果依次对比。
[0017]例如测试程序输出1KHz的正弦波信号，由ADC在16KHz采样频率下采样，如图1所示，采样后经过被动元件和测试设备后得到一个正弦波信号的数据包作为这个1KHz正弦波信号的结果数字信号，和测试程序中预存的该1KHz的正弦波信号被16KHz采样后应该得到的预期结果比较，如果不一样，则表明待测语音识别模块上有元件性能或连接关系错误。
[0018]具体的比较方式可以是比较频率和幅度，如果发现正弦波被采样后的结果数字信号的频率相同，而幅值变小，则可能是增益问题，如果发现频率不一致，则可能是滤波部分有问题，如果发现信号甚至无法采样，说明整个通路有器件可能虚焊导致通路断开。
[0019]本专利技术通过语音识别模块自身的音频输出和输入通路进行环路检测，可以在测试设备本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测语音识别模块音频通道硬件功能的方法，其特征在于，包括如下步骤：S1. 编写一个可直接运行在语音识别模块内置SRAM中的测试程序；所述测试程序预先存储了一系列频率不同的模拟音频电学信号及对应的被识别后的预期结果；所述测试程序还包括对这些模拟音频电学信号按顺序发出的驱动模块，以及比较预期结果和识别结果的比较模块；S2. 启动测试，测试设备先将测试程序传输到待测语音识别模块内部SRAM中，并使测试程序在SRAM中开始运行；S3. 测试程序运行，驱动模块依次输出覆盖低频、中频和高频的不同固定频率的一系列模拟音频电学信号，发送到测试设备中，再由测试设备将模拟音频...

【专利技术属性】
技术研发人员：何松霖，
申请(专利权)人：成都启英泰伦科技有限公司，
类型：发明
国别省市：